OTDR PON測試方案(2)
2011年05月30日 09:31 光電新聞網(wǎng) 作者：秩名 用戶評論（0）
a. 電子器件的臨界穩(wěn)定性(注意，下圖所示曲線并非來自 EXFO OTDR)
b. 強(qiáng)拖尾效應(yīng)
c. 不合適的人為增益情況和不適合 PON 鏈路測試的設(shè)計(jì)
圖1 (a)、(b)、(c)：使用非 PON 優(yōu)化型 OTDR 獲得的 1x32 分光器之后的 OTDR 曲線示例
- 第 2 頁：階躍響應(yīng)嚴(yán)重失真#
- 第 3 頁：PON 優(yōu)化型 OTDR#
本文導(dǎo)航
非常好我支持^.^
(0) 0%
不好我反對
(0) 0%
相關(guān)閱讀：
- [測試/封裝] 基于架構(gòu)與基于流程的DFT測試方法之比較 2011-05-28
- [DSP] 基于DSP的列車應(yīng)變力測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案 2011-05-28
- [汽車電子] 汽車電子測試系統(tǒng)解決方案綜述 2011-05-26
- [測量儀表] Sequans向Aeroflex訂購LTE測試儀 2011-05-26
- [RF/無線] 基于PON的FTTX接入方式比較 2011-05-25
- [RF/無線] “次世代網(wǎng)絡(luò)”線路測試解決方案 2011-05-19
- [測試測量實(shí)驗(yàn)] 基于邊界掃描的電路板測試系統(tǒng) 2011-05-18
- [測試測量實(shí)驗(yàn)] 高速信號(hào)擴(kuò)頻時(shí)鐘測試 2011-05-17
( 發(fā)表人：葉子 )