基于吉時(shí)利數(shù)字源表的LED測(cè)試解決方案

發(fā)光二極管（LED）無(wú)論是在實(shí)驗(yàn)室、晶圓級(jí)、封裝器件或陣列還是最后組裝成品，都需要進(jìn)行正向電壓(VF)，擊穿電壓(VR)和反向漏流(IR)等一系列測(cè)試。通常你需要如：數(shù)字表、電壓源、電流源等的多臺(tái)設(shè)備，隨著儀器數(shù)目的增加，測(cè)試速度必然會(huì)下降，從而影響產(chǎn)量。是否有多種功能于一體能夠方便進(jìn)行LED測(cè)試的設(shè)備？吉時(shí)利SourceMeter數(shù)字源表是個(gè)好選擇。

通過(guò)文檔，可了解以下內(nèi)容：

  • 多LED器件/陣列測(cè)試解決方案
  • 為什么要選擇SourceMeter數(shù)字源表測(cè)試LED
  • 吉時(shí)利最受歡迎的2400/2600A系列數(shù)字源表
  • 吉時(shí)利其他LED測(cè)試解決方案
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