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如何強(qiáng)調(diào)Pcb測(cè)試

PCB線路板打樣 ? 來(lái)源:ct ? 2019-08-14 07:06 ? 次閱讀
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在APEX強(qiáng)調(diào)的PCB測(cè)試
檢驗(yàn)公司展示光學(xué)和X- Ray Systems
邊界掃描公司在Apex宣布產(chǎn)品
APEX綜述
T& MW宣布獲獎(jiǎng)?wù)?/td>

董事會(huì)測(cè)試供應(yīng)商CheckSum,Seica,Digitaltest

CheckSum(www.checksum.com)推出了兩款面向OEM的新型在線測(cè)試(ICT)系統(tǒng)和我們一樣作為合同制造商。對(duì)于800點(diǎn)系統(tǒng),分析師ems的成本不到40,000美元; 80,000美元的800分Analyst ils增加了完全集成的在線功能。分析師可以容納多達(dá)2000個(gè)測(cè)試點(diǎn)和10x13.4英寸的電路板。

CheckSum首席執(zhí)行官John VanNewkirk表示,新系統(tǒng)的目標(biāo)是OEM和合同制造商,他們正在重新評(píng)估他們的測(cè)試儀要求并且正在尋找他們安裝的系統(tǒng)基礎(chǔ)太昂貴,無(wú)法維護(hù)或不適合今天的測(cè)試任務(wù)。他說(shuō),復(fù)雜的混合信號(hào)和片上系統(tǒng)設(shè)備正在使傳統(tǒng)的基于矢量的數(shù)字反向驅(qū)動(dòng)技術(shù)過(guò)時(shí),他希望用戶放棄昂貴的反向驅(qū)動(dòng)ICT系統(tǒng),轉(zhuǎn)而采用更低成本,更容易的技術(shù)。計(jì)劃替代方案。

Seica(www.seica.com)展示了新的裸板和裝載板測(cè)試系統(tǒng),作為其Apex展覽的一部分。 S22裸板測(cè)試儀采用飛針探測(cè)器,無(wú)需昂貴的固定裝置和適配器。四個(gè)完全獨(dú)立的測(cè)試探頭 - 每側(cè)兩個(gè) - 同時(shí)在被測(cè)電路板的兩側(cè)進(jìn)行測(cè)試。

針對(duì)汽車,消費(fèi)者和軍事市場(chǎng),新的S40適用于負(fù)載板可以處理模擬,數(shù)字和高頻功能測(cè)試。它可以通過(guò)連接器,釘床固定裝置或定制適配器連接到被測(cè)單元。符合人體工學(xué)的接收器有助于更換夾具。模塊化系統(tǒng)可與外部PXI,VXI和IEEE 488儀器連接。

該公司還展示了用于負(fù)載板的S40 Pilot飛針測(cè)試儀及其S40 Trekker在線測(cè)試系統(tǒng)。

數(shù)字測(cè)試(www.digitaltest.net)展示了其測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品線的最新成員,包括MTS888 ICT平臺(tái)和MTS500XL模塊化飛針探測(cè)系統(tǒng)。 ICT平臺(tái)支持多達(dá)7040個(gè)模擬或3392混合非復(fù)用引腳,具有自動(dòng)驅(qū)動(dòng)監(jiān)控,單邏輯系列每引腳可編程性以及256k的引腳存儲(chǔ)深度。新的飛行探測(cè)器提供28x24英寸。試驗(yàn)區(qū)。兩個(gè)系統(tǒng)都提供模擬和數(shù)字在線和功能測(cè)試功能,閃存編程和集成邊界掃描。

該公司還展出了新的C-Link 2000軟件,一個(gè)支持的智能原理圖接口60個(gè)CAD系統(tǒng)和20個(gè)測(cè)試儀系列。它展示了一個(gè)新的MTS300集成測(cè)試單元。該電池由Rohwedder Pematech聯(lián)合開(kāi)發(fā),包括Digitaltest的MTS300 Sigma測(cè)試儀和處理系統(tǒng)。測(cè)試單元的布置支持快速電路板加載和卸載,并為IEEE 488或VXI儀器提供空間。

安捷倫和并沒(méi)有讓競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手失意。 Teradyne(www.teradyne.com)隨時(shí)準(zhǔn)備使用低電壓SafeTest技術(shù)演示其TestStation在線測(cè)試設(shè)備,該設(shè)備適用于小型設(shè)備尺寸和低最大電壓閾值,導(dǎo)致新設(shè)備特別容易受到過(guò)電壓和上電測(cè)試期間過(guò)流。安捷倫(www.agilent.com)雖然沒(méi)有參加展會(huì),卻舉辦了一個(gè)論壇,描述了它的檢測(cè)和電路板測(cè)試系統(tǒng)。

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