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對影響探測可靠性因素的工藝性方面的要求

牽手一起夢 ? 來源:網(wǎng)絡(luò)整理 ? 作者:佚名 ? 2020-03-27 11:29 ? 次閱讀
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工藝性方面主要考慮ICT自動測試的定位精度、基板大小、探針類型等影響探測可靠性的因素。

①精確的定位孔。為了確保ICT自動測試時精確定位,PCB設(shè)計時在基板上應(yīng)設(shè)定精確的定位孔。定位孔誤差應(yīng)在0.05mm以內(nèi),至少設(shè)置兩個定位孔,且距離越遠越好。采用非金屬化的定位孔,以免孔內(nèi)焊錫鍍層影響定位精度。如果是拼板,定位孔設(shè)在主板及各單獨的基板上。

測試點的直徑不小于0.4mm,相鄰測試點的間距最好在2.54mm以上,不要小于1.27mm。

③測試面不能放置高度超過6.4mm的元件,否則將引起測試夾具探針對測試點的接觸不良。

④最好將測試點放置在元器件周圍l.Omm以外,避免探針和元器件撞擊而損傷。定位孔環(huán)狀周圍3.2mm以內(nèi),不可有元器件或測試點。

⑤測試點不可設(shè)置在PCB夾持邊4mm范圍內(nèi),這4mm的空間是用于夾持PCB的,與SMT的印刷和貼裝設(shè)備中PCB央持邊的要求相同。

⑥所有探測點最好鍍錫或選用質(zhì)地較軟、易貫穿、不易氧化的金屬傳導(dǎo)物,確??煽拷佑|。

⑦測試點不可被阻焊劑或文字油墨覆蓋,否則將會縮小測試點接觸面積,降低測試可靠性。

推薦閱讀:http://m.elecfans.com/article/902807.html

責(zé)任編輯:gt

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