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內(nèi)存泄漏的檢測方法

如意 ? 來源:CSDN ? 作者:Owenlzy126 ? 2020-06-20 11:01 ? 次閱讀
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內(nèi)存泄露(Memory leak)指的是,在程序中動態(tài)申請的內(nèi)存,在使用完后既沒有釋放,又無法被程序的其他部分訪問。內(nèi)存泄露是在開發(fā)大型程序中最令人頭疼的問題,以至于有人說,內(nèi)存泄露是無法避免的。其實不然,防止內(nèi)存泄露要從良好的編程習慣做起,另外重要的一點就是要加強單元測試(Unit Test),而valgrind就是這樣一款優(yōu)秀的工具。

(1):程序發(fā)生內(nèi)存泄露的條件及各種情況:

a: 內(nèi)存申請忘記釋放(malloc,free();new,delete);

b:申請內(nèi)存大小不正確((char*)malloc(0));

c:free()函數(shù)使用不正確(int a[];free(a)釋放了棧區(qū)參數(shù));

d:一段內(nèi)存釋放多次(1個malloc,多個free());

(2):檢測程序是否發(fā)生內(nèi)存泄露:

方法有二:

a:模仿用戶長時間使用設備;

b:針對某個具體的測試用例。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內(nèi)容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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