測(cè)試和檢查包括董事會(huì)資格認(rèn)證的多個(gè)方面。電氣測(cè)試和EMC測(cè)試對(duì)于評(píng)估功能以及符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和FCC規(guī)則至關(guān)重要。人造板還需要通過環(huán)境測(cè)試,以確保產(chǎn)品安全,耐用且合規(guī)。沒有人愿意生產(chǎn)一批板子,只是發(fā)現(xiàn)它們已腐蝕或不符合RoHS要求。
在下一批成品PCB到達(dá)辦公室或倉(cāng)庫(kù)之前,您需要確保其符合重要的行業(yè)安全標(biāo)準(zhǔn)并且功能齊全。經(jīng)驗(yàn)豐富的CM使用適當(dāng)?shù)脑O(shè)備可以執(zhí)行這些測(cè)試,以及在制造過程中進(jìn)行更多測(cè)試。
電子產(chǎn)品的環(huán)境測(cè)試有哪些內(nèi)容?
環(huán)境測(cè)試不僅限于高溫和高濕度測(cè)試。一系列環(huán)境測(cè)試可以包括沖擊,振動(dòng)和機(jī)械測(cè)試。這些測(cè)試應(yīng)根據(jù)IEC 60068環(huán)境測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行。這些測(cè)試旨在確保新產(chǎn)品在極端溫度和濕度下以及在操作環(huán)境中存儲(chǔ)或運(yùn)輸時(shí)都可以生存。
高度加速的測(cè)試
加速測(cè)試包括高度加速壽命測(cè)試(HALT)和高度加速應(yīng)力篩選(HASS)。這些測(cè)試評(píng)估設(shè)備在受控環(huán)境中的可靠性,包括高溫,高濕以及設(shè)備通電時(shí)的振動(dòng)/沖擊測(cè)試。目的是模擬可能導(dǎo)致新產(chǎn)品即將失效的情況。在測(cè)試過程中,將在模擬環(huán)境中監(jiān)視產(chǎn)品。電子設(shè)備的環(huán)境測(cè)試通常包括在一個(gè)小的環(huán)境室內(nèi)進(jìn)行測(cè)試。
產(chǎn)品工程師有時(shí)不愿接受HALT / HASS結(jié)果,因?yàn)槭┘釉谙到y(tǒng)上的壓力可能過高。換句話說,它們可能會(huì)超出產(chǎn)品預(yù)期環(huán)境中的那些值。這導(dǎo)致許多工程師拒絕修復(fù)在HALT / HASS測(cè)試中發(fā)現(xiàn)的已知問題,而只是因?yàn)檫@些相同的問題導(dǎo)致以后的產(chǎn)品故障。經(jīng)驗(yàn)豐富的CM通??梢源_定簡(jiǎn)單的設(shè)計(jì)和組裝更改,從而可以大大延長(zhǎng)新產(chǎn)品的使用壽命。
濕度和腐蝕
許多PCB將部署在潮濕的環(huán)境中,因此對(duì)PCB可靠性的常見測(cè)試是吸水測(cè)試。在這種類型的測(cè)試中,將PCB放在濕度受控的環(huán)境室內(nèi)之前和之后進(jìn)行稱重。任何吸收到板上的水都會(huì)增加板的重量,并且任何重大的重量變化都將導(dǎo)致失格。
在運(yùn)行期間進(jìn)行這些測(cè)試時(shí),裸露的導(dǎo)體不應(yīng)在潮濕的環(huán)境中腐蝕。當(dāng)銅帶到一定電位時(shí),它很容易氧化,這就是為什么裸露的銅通常鍍有抗氧化合金的原因。一些示例包括ENIG,ENIPIG,HASL,鎳金和鎳。
熱沖擊和循環(huán)
熱測(cè)試通常與濕度測(cè)試分開進(jìn)行。這些測(cè)試涉及反復(fù)更改電路板溫度并檢查熱膨脹/收縮如何影響可靠性。在熱沖擊測(cè)試中,使用2腔系統(tǒng)將電路板在兩個(gè)極端溫度之間快速移動(dòng)。寒冷溫度通常低于冰點(diǎn),而高溫通常高于基材的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度(約130°C以上)。使用單個(gè)腔室進(jìn)行熱循環(huán),溫度以每分鐘10°C的溫度從一個(gè)極端變化到另一個(gè)極端。
在這兩種測(cè)試中,電路板都會(huì)隨著溫度變化而膨脹或收縮。在膨脹過程中,高應(yīng)力將施加在導(dǎo)體和焊點(diǎn)上,這會(huì)加速產(chǎn)品的使用壽命并允許識(shí)別機(jī)械故障點(diǎn)。
老化測(cè)試
老化測(cè)試需要長(zhǎng)時(shí)間對(duì)組件施加極端的電壓和溫度。這旨在檢測(cè)早期的組件故障,從而提高通過測(cè)試的組件構(gòu)建的任何設(shè)計(jì)的可靠性。這需要繪制隨時(shí)間變化的組件故障率,從而形成浴缸形曲線。老化是使用預(yù)期的極端運(yùn)行條件來檢測(cè)早期組件故障的公認(rèn)慣例。該測(cè)試方案通常持續(xù)48到168小時(shí)。
振動(dòng)測(cè)試
振動(dòng)測(cè)試設(shè)置可能會(huì)非常昂貴,并且只有在您尋求低頻/振幅振動(dòng)測(cè)試時(shí),成本才會(huì)增加。汽車,航空航天或工業(yè)設(shè)備的大批量生產(chǎn)可受益于振動(dòng)測(cè)試。鑒于此設(shè)備的高昂成本,并非所有CM都具有這種功能。但是,經(jīng)驗(yàn)豐富的小批量CM可以為可能愿意執(zhí)行這些測(cè)試的較大制造商提供推薦。最初對(duì)測(cè)試的投入可能是巨大的,但是他們提供的見識(shí)可以使產(chǎn)品的壽命延長(zhǎng)10倍。
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