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EDI CON China（電子設(shè)計(jì)創(chuàng)新大會(huì)）是一個(gè)由產(chǎn)業(yè)推動(dòng)的會(huì)議和展覽，為設(shè)計(jì)工程師和系統(tǒng)集成商提供針對當(dāng)今通信、計(jì)算、RFID、無線、導(dǎo)航、航空航天及相關(guān)市場的最新射頻/微波和高速數(shù)字產(chǎn)品和技術(shù)信息。這項(xiàng)一年一度的盛事提供半導(dǎo)體、模塊、印刷電路板和系統(tǒng)級的實(shí)用設(shè)計(jì)解決方案，與會(huì)者可親身參與體驗(yàn)。EDI CON China匯集了中國創(chuàng)新前沿和世界領(lǐng)先跨國科技公司的設(shè)計(jì)師。

作為EDICON China2020的首席贊助商，是德科技將攜解決方案合作伙伴一起，在今年電子設(shè)計(jì)創(chuàng)新大會(huì)展覽展位301和201上繼續(xù)為客戶提供行業(yè)前沿測試測量資訊，并將展示5G、車聯(lián)網(wǎng)、半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)中心、高頻應(yīng)用、物聯(lián)網(wǎng)、系統(tǒng)仿真、以及校準(zhǔn)服務(wù)等全方位的行業(yè)領(lǐng)先產(chǎn)品和測試測量解決方案。

是德科技受邀將在首日全體大會(huì)上做《5G/6G市場和技術(shù)概覽》的主旨報(bào)告，同時(shí)在為期兩天的大會(huì)期間，組織了公司資深技術(shù)工程師在大會(huì)會(huì)場的401會(huì)議室舉辦KeysightEducationForum，論壇涵蓋當(dāng)前最前沿的技術(shù)領(lǐng)域，是一場豐富而翔實(shí)的測試技術(shù)盛筵。

KEYSIGHT EDUCATION FORUM日程

10月13日

09:00 - 09:30	Calibration Challenges in 5G / 5G中的校準(zhǔn)難題
09:30 - 10:00	學(xué)習(xí)如何設(shè)計(jì)5G/6G毫米波波束賦形系統(tǒng)Learn How to Design a 5G/6G mmWave Beamforming System
10:00 - 10:30	開放射頻接入網(wǎng)的前行之路O-RAN - The Path Forward
13:30 - 14:00	5G車聯(lián)網(wǎng)技術(shù)與測試5G V2X technologies and testing
14:00 - 14:30	測試EV和EVSE充電接口的一致性和互操作性Conformance & InteroperabilityTesting of EV and EVSE Charging Interfaces
15:00 - 15:30	為分析物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備高效捕獲波形Efficient Capture of Waveforms for IoT Device Analysis
15:30 - 16:00	評估電-光-電連接系統(tǒng)的電氣性能Evaluate Electrical Performance in Electrical-Optical-Electrical Link Systems
16:00 - 16:30	如何找到FPGA 電源軌的瞬態(tài)的動(dòng)態(tài)開關(guān)電流How to Find the Elusive Dynamic Switching Current of Your FPGA Power Rail
16:30 - 17:00	調(diào)制失真PNA的殘留誤差矢量幅度Modulation Distortion: Residual Error Vector Magnitude with PNA

10月14日

09:00 - 10:00	信號分析基礎(chǔ) Signal Analysis Fundamentals
10:45 - 11:45	針對射頻和微波寬帶信號產(chǎn)生改進(jìn)測量完整性 Improve Measurement Integrity for RF and Microwave Wideband Signal Generation
13:00 - 13:30	電磁干擾分析和故障查找 EMI Interference Analysis and Trouble Shooting
13:30 - 14:30	網(wǎng)絡(luò)分析儀基礎(chǔ) Network Analyzer Fundamentals
15:30 - 16:30	相位噪聲應(yīng)用與測量基礎(chǔ) Phase Noise Basics Applications & Measurements
16:30 - 17:00	低損耗介電材料測量 Low Loss Dielectric Materials Measurement

責(zé)任編輯：xj

原文標(biāo)題：是德科技將出席2020年電子設(shè)計(jì)創(chuàng)新大會(huì)EDI CON China并做主題報(bào)告

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