一区二区三区三上|欧美在线视频五区|国产午夜无码在线观看视频|亚洲国产裸体网站|无码成年人影视|亚洲AV亚洲AV|成人开心激情五月|欧美性爱内射视频|超碰人人干人人上|一区二区无码三区亚洲人区久久精品

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

以SURGE測試中通訊端口防護器件損壞為例,進行損壞機理等分析說明

電磁兼容EMC ? 來源:電磁兼容EMC ? 作者:電磁兼容EMC ? 2020-10-14 15:51 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

1.引言

獨學(xué)而無友,則孤陋而寡聞。

本文以SURGE測試中通訊端口防護器件損壞為例,進行損壞機理分析、不同測試方法帶來的影響分析、不同應(yīng)用場景的測試方法選擇,以及SURGE防護設(shè)計中的注意點等內(nèi)容進行分析說明。

2.背景介紹

某機車控制器的通訊端口進行±1KV等級的SURGE測試,出現(xiàn)通訊端口防護器件TVS管損壞情況。

3.系統(tǒng)組網(wǎng)

組網(wǎng):某機車控制器(EUT),通過CAN通訊線與AE設(shè)備連接,互連線長度10m;

測試端口:CAN端口,±1KV,阻抗42Ω;

端口防護說明:EUT側(cè)CAN端口TVS管防護①;AE側(cè)CAN端口TVS管防護②;EUT側(cè)15V電源對地跨接電容C和TVS管③;AE側(cè)對地?zé)o跨接防護④;

端口注入方法:斷開與AE相連的CAN-H和CAN-L,但A-GND保持與AE設(shè)備相連。

接地說明:CAN參考地為A-GND,AE設(shè)備的通訊參考與電源的參考地為A-GND,AE由EUT的DC15V供電,DC15V的參考地為P-GND。測試組網(wǎng)如圖1所示。

圖1組網(wǎng)圖

實驗現(xiàn)象:在多次SURGE測試中發(fā)現(xiàn), EUT端口TVS管被打壞,但并不是每次試驗都能復(fù)現(xiàn),試驗次數(shù)越多,越容易復(fù)現(xiàn)。

4.TVS管損壞的機理分析

4.1SURGE干擾的路徑分析

CAN電路的參考地為A-GND,AE設(shè)備的電源參考地為A-GND ,EUT的15V電源地為P-GND,因EUT的DC15V給AE進行供電,使得A-GND與P-GND進行了互連,且P-GND對PE有跨接TVS管和電容,使得SURGE噪聲沿著低阻抗路徑流到大地。

SURGE噪聲干擾路徑:SURGE發(fā)生器→CDN的Zin→通訊TVS1管→通訊線地線Zline→電源地線Zline→對PE跨接電容C1和TVS3管→PE,如下圖2所示。

圖2SURGE噪聲回路示意圖

4.2SURGE噪聲頻譜分析

4.2.1SURGE的波形

根據(jù)IEC61000-4-5 2019標準中SURGE的典型開路電壓波形參數(shù)為1.2/50us。參見圖3所示:

圖3 SURGE發(fā)生器開路電壓波形

4.2.2SURGE的頻譜特性分析

IEC61000-4-5中描述SURGE的BW帶寬是指頻域波形的下降沿斜率開始達到-60dB/十倍頻程時的頻率帶寬。SURGE電壓波形波前時間短,包含的頻帶較寬,SURGE的BW達到了2MHz,但主要能量集中在頻率較低的頻段,幅值頻譜分析表明SURGE呈現(xiàn)低頻特征(50KHz→-40dB),參見圖4所示。

圖4 Voltage surge (1,2/50 μs): spectral response with ?f = 3,333 kHz

4.3TVS 管損壞分析

4.3.1TVS管損壞模式

TVS管損壞模式有兩種:

(1)單次能量超過額定功率

TVS的標稱功率是極短時間內(nèi)對TVS 施加的單次脈沖能量,施加的噪聲波形能量大于額定功率時,會導(dǎo)致TVS管過流燒毀,呈現(xiàn)短路失效模式。

(2)積累的能量超過上限值

實際測試中施加的噪聲波形通常是重復(fù)地出現(xiàn),使得短時間積累的能量超過上限值,TVS管就會損壞,呈現(xiàn)短路失效模式。

4.3.2TVS管中的SURGE電流分析

(1)TVS管參數(shù)對比

TVS1和TVS2管型號均為PESD1CAN,其Ipp為3A,20uf脈沖功率為200W,50us脈寬功率約為130W;TVS3管的型號為SD05C,其Ipp為24A,20uf脈沖功率為350W,50us的脈沖脈寬功率約為210W。TVS3的功率和通流能力優(yōu)于TVS1。TVS參數(shù)表參見表1。

表1 TVS規(guī)格參數(shù)表

(2)噪聲回路參數(shù)

根據(jù)圖3的路徑分析及表1參數(shù)表,可計算出回路阻抗參數(shù)參見下表2。

表2 回路阻抗參數(shù)

符號 參數(shù) 線路阻抗
(在TVS1管最大3A下進行計算)
含義
Zin 42Ω 2Ω差模+40Ω共模 信號線注入阻抗
Zline 3.1Ω Zline=10m*1uH/m*2π*50KHz=3.1Ω 線路阻抗1uH/m
Zc1 32Ω Zc1=1/(2π*50KHz*0.1uf=31.8Ω 對地跨接電容C1,噪聲頻率50KHz
ZTVS1 23.3Ω ZTVS1=70V/3A=23.3Ω,型號PESD1CAN(NXP) CAN電路保護TVS管
ZTVS3 2.7Ω ZTVS3=8V/3A=2.7Ω,型號SD05C 對地跨接TVS

(3) 回路SURGE電流計算:

在TVS1管最大3A阻抗條件下計算分析:

Isurge=Vsurge/(Zin+ZTVS1// ZTVS1+2*Zline+Zc1//ZTVS3)=16A

在TVS1管短路失效條件下計算:

Isurge= Vsurge/(Zin+2*Zline+Zc1//ZTVS3)=19.7A

SURGE噪聲在回路中的電流范圍在16A~19.7A之間,流過CAN-H和CAN-L的TVS管電流各為8A-9.85A左右,超過了TVS1的最大Ipp(3A),但小于TVS3的Ipp(24A)。從計算分析可知,TVS1承受超額SURGE電流,有較大的損壞風(fēng)險。

4.4實驗驗證

4.4.1TVS管阻抗測定

萬用表對TVS1和TVS 3管進行實驗前后的阻抗測定,參見表3。

在多次實驗后,TVS1管的阻抗越來越小,最終失效短路。

表3 TVS管阻抗測定

TVS1 TVS3
試驗次數(shù) 阻抗值 試驗次數(shù) 阻抗值
實驗前 開路 實驗前 開路
一次SURGE實驗 65Ω 一次SURGE實驗 開路
二次SURGE實驗 16Ω 二次SURGE實驗 開路
三次SURGE實驗 0.1Ω 三次SURGE實驗 開路

4.4.2SURGE實驗波形抓取

SURGE實測噪聲回路電流峰值19.2A,脈寬55.3us,CAN-H和CAN-L的TVS1管個分流9.6A,與理論計算相匹配,驗證分析的準確性。實測波形參見圖5。

圖5 回路噪聲電流

4.5TVS管損壞的機理分析小結(jié)

(1)15V參考地P-GND與CAN的參考地A-GND連接到一起,使得SURGE噪聲可以通過P-GND的對地跨接流到大地;

(2)SURGE的噪聲帶寬可達到2MHz,但一般能量集中在低頻段50KHz左右;

(3)TVS管損損壞模式有兩種,超額定或多次能量疊加導(dǎo)致的短路損壞,本文為典型超額定而導(dǎo)致的RVS管損壞。

(4)噪聲回路的SURGE電流理論計算與實測相對應(yīng),結(jié)合理論計算可幫助產(chǎn)品在前期理論模型階段的防護器件設(shè)計選型。

5.從產(chǎn)品端解決方案分析

綜合以上分析,從產(chǎn)品端解決CAN通訊口TVS管損壞問題,就是要改變噪聲回路阻抗分布。方法有三種,參見表4。

表4 整改設(shè)計方法分析表

整改設(shè)計方法 可落地措施 備注
提高TVS管的耐流能力 將TVS1管替換成TVS3 結(jié)電容變大17pf→350pf,會影響通訊信號質(zhì)量
提高P-GND與PE的阻抗 去掉對地跨接TVS管
將TVS管變?yōu)?MΩ電阻
地電位差防護變差
噪聲回路的線路去耦 線路地線去耦 改變通訊地阻抗,有共地阻抗風(fēng)險

6.從測試端解決方案分析

SURGE測試不同實驗方法如下表5所示。

表5不同的測試方法

業(yè)界對CAN、485、232等通訊電路是否為平衡線對有不同的看法,導(dǎo)致使用不同的CDN,產(chǎn)生不同的測試結(jié)果。

(1)對稱線的定義:

差模到共模轉(zhuǎn)換損耗大于20DB的平衡對線,一般由芯片廠家確定。

(2)CND非對稱注入:

A-GND進行了去耦,老板標準中為20mH,50KHz阻抗為6.28KΩ,回路SURGE電流為約0.3A,TVS管正常工作。

(3)CND對稱注入

標準中沒有對A-GND是否連接進行說明,然而一般A-GND實驗時時默認連接的,只對對稱線線進行注入實驗。

A-GND不接:SURGE回路噪聲電流為0.15A左右。

A-GND接:與初始測試結(jié)果一直,無改善。

(4)組網(wǎng)CAN端口直接注入

通過組網(wǎng)連接,使得AE設(shè)備對SURGE噪聲電流分流,但每個TVS管子電流約為4.8A,超過最大Ipp,存在損壞風(fēng)險。

綜上對測試方法的說明,解決方案有二:

不接A-GND,進行CDN注入;

按照非對稱進行注入;

7.不同測試方法的應(yīng)用分析

各企業(yè)在SURGE的非屏蔽通訊端口測試中,以IEC61000-4-5為基礎(chǔ),進行了各自的適應(yīng)性測試方法改善。主要有三種方式,參見表6所示。

表6 SURGE 非屏蔽通訊端口測試方法

EMC測試要結(jié)合產(chǎn)品的實際應(yīng)用場景,來定制適合的測試方法,才能真正的在設(shè)計端規(guī)避產(chǎn)品的使用風(fēng)險,三種測試方法的應(yīng)用場景如下:

①利用CDN的共模阻抗,進行非組網(wǎng)的通訊端口注入測試

主要應(yīng)用在低要求場合,只要防護器件不損壞就可以,如二次供水。

②利用CDN的共模阻抗,進行組網(wǎng)的通訊端口注入測試

主要應(yīng)用在高要求,考量系統(tǒng)對SURGE的抗擾性,而非單體產(chǎn)品本身,要求通訊不能出錯,如生產(chǎn)線。

③按照標準推薦,將CDN串入通訊線中進行測試

將EUT與AE進行隔離,主要為認證測試的應(yīng)用。

8.思考與啟示

(1)TVS管損壞原因為噪聲回路阻抗過低,使得SURGE電流過大,TVS管超限值而損壞,可以選用功率大而結(jié)電容相對較小的TVS管;

(2)增大對PE的阻抗,可以去掉跨接TVS管,或減小跨接電容,或串跨接電阻等方法,提升阻抗值,使得SURGE電壓大部分加在跨接阻抗上;

(3)產(chǎn)品設(shè)計要進行噪聲路徑分析和SURGE電流估算,指導(dǎo)阻抗分配與器件的選型。

需要結(jié)合產(chǎn)品的實際應(yīng)用場景,來選擇測試方法,不要完全照搬標準要求,而缺乏系統(tǒng)化分析。

責(zé)任編輯:xj

原文標題:浪涌測試中通訊端口TVS管損壞機理分析

文章出處:【微信公眾號:電磁兼容EMC】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 通訊
    +關(guān)注

    關(guān)注

    9

    文章

    927

    瀏覽量

    35579
  • 端口
    +關(guān)注

    關(guān)注

    4

    文章

    1046

    瀏覽量

    32821
  • 浪涌測試
    +關(guān)注

    關(guān)注

    2

    文章

    21

    瀏覽量

    13937

原文標題:浪涌測試中通訊端口TVS管損壞機理分析

文章出處:【微信號:EMC_EMI,微信公眾號:電磁兼容EMC】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關(guān)推薦
    熱點推薦

    電機驅(qū)動用長電纜破壞機理分析防護

    有效地保護電纜絕緣。純分享帖,需要者可點擊附件獲取完整資料~~~*附件:電機驅(qū)動用長電纜破壞機理分析防護.pdf 【免責(zé)聲明】本文系網(wǎng)絡(luò)轉(zhuǎn)載,版權(quán)歸原作者所有。本文所用視頻、圖片、文字如涉及作品版權(quán)問題,請第一時間告知,刪除內(nèi)
    發(fā)表于 04-26 01:14

    使用AD8226測量鉑電阻PT100,AD8226偶爾會損壞的原因?

    。 AD8226供電采用±5V開關(guān)電源供電,根據(jù)數(shù)據(jù)手冊上說明的,其至少能耐受±35V的電壓差值 測試的環(huán)境目前存在未查明源頭的干擾,會讓幾乎所有電纜線上出現(xiàn)峰峰值10-20V,頻率在10-20Mhz,持續(xù)
    發(fā)表于 04-24 07:08

    變頻器防雷濾波板損壞原因分析及維修

    變頻器防雷濾波板損壞的原因可能涉及多個方面,以下是對這些原因的分析以及相應(yīng)的維修建議: 一、損壞原因分析 1、雷電沖擊 雷電高壓串入變頻器系統(tǒng)時,防雷濾波板作為首要的
    的頭像 發(fā)表于 02-23 07:36 ?606次閱讀
    變頻器防雷濾波板<b class='flag-5'>損壞</b>原因<b class='flag-5'>分析</b>及維修

    電流倒灌揭秘:IO口損壞與系統(tǒng)故障的真相

    導(dǎo)讀本期文章將繼續(xù)深入了解電流倒灌,分析嵌入式系統(tǒng)IO口損壞和系統(tǒng)穩(wěn)定性問題的根本原因。在上期的工程筆記,我們了解了電流倒灌并探討了電流倒灌可能導(dǎo)致的一系列問題,包括IO口
    的頭像 發(fā)表于 12-11 11:38 ?1023次閱讀
    電流倒灌揭秘:IO口<b class='flag-5'>損壞</b>與系統(tǒng)故障的真相

    ADS8688特別容易損壞的原因?

    ”在板上通過磁珠與“外DGND”相連,且“外DGND”DA轉(zhuǎn)換器的地,給高壓電源提供準信號。整個電路不止ADS8688接到該地上,但損壞的只有ADS8688,對損壞
    發(fā)表于 12-05 06:10

    HDC1080損壞的可能原因有哪些?

    我司今年分批采購了貴司HDC1080芯片,在現(xiàn)場使用過程,每個批次或多或少都有損壞現(xiàn)象。首先能確認的是電路圖已經(jīng)按照datasheet繪制,以及增加了ESD,TVS管保護。其次,該芯片出廠前
    發(fā)表于 12-02 07:59

    浪涌測試等級選擇(surge

    深圳南柯電子|浪涌測試等級選擇(surge
    的頭像 發(fā)表于 11-12 11:40 ?1735次閱讀
    浪涌<b class='flag-5'>測試</b>等級選擇(<b class='flag-5'>surge</b>)

    電源芯片損壞問題

    設(shè)備已經(jīng)裝機,電源芯片磕掉了一個角是否會引起功能異常。 2.最擔(dān)心的是如果電源芯片損壞是否會使整個板卡電流過大或者溫度過高,甚至擊穿起火! 3.辦卡所搭載的裝置是一種測試設(shè)備,該板卡用于拓展EPA通訊功能,設(shè)備比較重要。 4.圖
    發(fā)表于 10-14 15:22

    為什么保護電路的TVS管經(jīng)常損壞

    功能是在電路檢測到瞬態(tài)電壓的出現(xiàn)時,迅速將其吸收,從而保護電路的其他器件不受損壞。然而,由于多種原因,TVS管可能會失效或損壞。
    的頭像 發(fā)表于 10-09 18:06 ?4464次閱讀

    快恢復(fù)橋損壞如何判斷

    快恢復(fù)橋是一種廣泛應(yīng)用于電力電子設(shè)備的整流器件,通常用于對電流要求較高且需要快速恢復(fù)特性的電路。由于其快速切換特性,快恢復(fù)橋在高頻環(huán)境下的表現(xiàn)優(yōu)越。然而,隨著使用時間的增加或在不適當?shù)牟僮鳁l件下
    的頭像 發(fā)表于 09-04 14:27 ?579次閱讀
    快恢復(fù)橋<b class='flag-5'>損壞</b>如何判斷

    如何實現(xiàn)更精確的電流限制并避免損壞受測器件

    電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《如何實現(xiàn)更精確的電流限制并避免損壞受測器件.pdf》資料免費下載
    發(fā)表于 08-29 11:09 ?0次下載
    如何實現(xiàn)更精確的電流限制并避免<b class='flag-5'>損壞</b>受測<b class='flag-5'>器件</b>

    會造成INA141損壞的原因有哪些?

    INA141損壞概率較高,電路圖如下, 這個應(yīng)用圖和規(guī)格書上的差別,只是我在輸入端增加了隔直電容,這個會損壞INA141么?還有,INA141的輸入端的ESD防護能力如何,我在規(guī)格書里面好像沒有找到相應(yīng)的
    發(fā)表于 08-26 06:26

    使用LMV321做的壓隨進行電壓采樣經(jīng)常被損壞,導(dǎo)致輸入端與輸出端的電壓相差0.2V以上怎么解決?

    最近項目需要,使用TI的LMV321做的壓隨進行電壓采樣經(jīng)常被損壞,導(dǎo)致輸入端與輸出端的電壓相差0.2V以上, 電路圖見下 電路 的KA8-14是24V鋰電池輸出電壓,電壓范圍
    發(fā)表于 08-21 07:16

    為什么LM324會損壞

    你好,現(xiàn)在我們產(chǎn)品上有用到LM324,出現(xiàn)了損壞LM324的現(xiàn)象,請把損壞的樣品寄給供應(yīng)商幫忙分析一下損壞的具體原因,謝謝,問題描述如下: 下圖電路
    發(fā)表于 08-08 06:39

    OPA2330 AIDGKR SOIC-8運放在電路使用損壞的原因?

    問題現(xiàn)象:OPA2330AIDGKR SOIC-8運放在電路使用損壞,但查不出損壞原因。 此OPA2330運放在電路的作用是將PWM信號轉(zhuǎn)換為電流信號
    發(fā)表于 08-02 07:14