隨著PCIe Gen 4和Gen 5的項目開發(fā)越來越多，很多公司希望在PCIe鏈路層注入故障來模擬針對主板/背板一側(cè)，或者外設(shè)一側(cè)（如插卡，NVMe SSD等）的各種異常，業(yè)內(nèi)主流的CPU廠商例如Intel和AMD, 以及PCIe Switch廠商Broadcom, Microchip目前都在使用英國Quarch的PCIe Gen 5 x16的測試卡實現(xiàn)針對Gen 5的測試。

Quarch公司提供針對PCIe Gen 4和Gen 5各種接口的測試插卡和模塊，包括U.2, U.3, M.2, AIC （x8和x16），EDSFF L1.S (x4) / L1.L (x8)，以及各類PCIe Cable的測試模塊等，滿足用戶測試的各種需求。當(dāng)然，除了針對NVMe SSD的各種模塊之外，傳統(tǒng)的針對24G/12G/6G SAS和6G SATA也提供相應(yīng)的測試模塊。

下面的功能概覽適用于上述所有各種PCIe接口，工程師可以根據(jù)需要通過GUI或者Phyton API腳本對于主板/背板端，或者外設(shè)（插卡，NVMe SSD）端進行測試。

模擬在任意針腳上注入信號毛刺，進行物理層/協(xié)議層故障注入

可以設(shè)置信號毛刺的多少，注入一次毛刺，還是持續(xù)加毛刺，間隔時間多長等

信號毛刺的高低，疏密，持續(xù)的時間長短

通過調(diào)整信號毛刺參數(shù)實現(xiàn)針對PCIe協(xié)議的故障注入，如bit error，CRC error等。

模擬盤的熱插拔

模擬盤熱插拔過程中導(dǎo)致的pin bounce時斷時通等接觸不好的情況

模擬某些針腳斷掉

模擬某些針腳長通

模擬某個Lane中的某些差分信號有毛刺，或者某個Lane不通

模擬非?？焖俚牟灏危ㄍ?斷）測試

電壓拉偏和功耗測試是測試SSD的基本測試項，包括PCIe/NVMe SSD和傳統(tǒng)的SAS/SATA HDD/SSD。其中，電壓拉偏測試主要是保證SSD在接入不同廠商設(shè)計的主板/背板時候如果其輸出電源和標(biāo)準(zhǔn)有偏離，那么SSD是否還可以正常穩(wěn)定的工作，該測試電壓拉偏的設(shè)置最低允許工程師以1us作為粒度調(diào)整電壓。

功耗測試是找出SSD在不同的業(yè)務(wù)負(fù)載等情況下的電壓/電流/功耗的情況，Quarch可編程電源支持最大250K采樣率，可以實現(xiàn)非常精細(xì)的電壓/電流/功耗計量，在最小采樣率7Hz設(shè)置的時候其內(nèi)部記錄buffer可以實現(xiàn)24小時以上的持續(xù)記錄，記錄的數(shù)據(jù)可以通過GUI界面分析，其Test Monkey圖形化軟件允許用戶放大/縮小插卡分析局部細(xì)節(jié)，同時也自動自動計算出電壓/電流/功耗的最大/最小/平均值，另外軟件也允許用戶將記錄的數(shù)據(jù)導(dǎo)出成.csv作離線進一步分析。

關(guān)于Saniffer

Saniffer公司位于上海張江高科技園區(qū)，是國內(nèi)唯一專注于存儲測試工具領(lǐng)域的綜合服務(wù)提供商，涉及測試工具覆蓋了存儲生態(tài)的各個環(huán)節(jié)，從芯片開發(fā)，底層固件和驅(qū)動開發(fā)/驗證，測試工程，應(yīng)用工程，RDT可靠性測試，一直到生產(chǎn)測試。測試的產(chǎn)品涉及存儲控制器IP，芯片，HDD/SSD，存儲系統(tǒng)，服務(wù)器，網(wǎng)絡(luò)設(shè)備研發(fā)，設(shè)計，生產(chǎn)和制造。Saniffer提供的測試方案包括并不限下面涉及的技術(shù)：

PCIe/NVMe Gen 4/5

SAS 12/24G / SATA 6G

UFS 3.0/3.1

NAND 400MT/800MT/1.6GT

LPDDR/DDR 4/5

FC 32G

FCoE

iSCSI

NVMoF (NVMe over Fabric)

FC-NVMe (NVMe over FC)

隨著近幾年P(guān)CIe Gen 3/4/5技術(shù)及NVMe SSD在國內(nèi)的快速發(fā)展，Saniffer迅速成為國內(nèi)在該領(lǐng)域的知名供應(yīng)商，成為UNH IOL認(rèn)證的SerialTek, SanBlaze, Quarch在中國的獨家合作伙伴。

感興趣的朋友可以直接訪問：https://www.saniffer.com/cn/downloads/，或者訪問Saniffer官方網(wǎng)頁，然后點擊中文->文檔下載下面的“PCIe Gen 4 NVMe SSD測試環(huán)境搭建和常用工具圖解_ver3.0”下載最新的針對PCIe Gen 4 NVMe SSD的匯總的測試技術(shù)和產(chǎn)品文檔即可?；蛘撸苯拥较旅娴逆溄又苯酉螺d我們更新的測試工具白皮書，里面含有針對SerialTek PCIe Gen 4和Gen 5協(xié)議分析儀的更加詳細(xì)的功能介紹，文件大小15M字節(jié)：

鏈接: https://pan.baidu.com/s/1W6EXxybpC6S0XEy25SyRKg 提取碼: sqji

該文檔系統(tǒng)對于PCIe Gen 4 控制器芯片或NVMe SSD產(chǎn)品開發(fā)/測試常用的各種相關(guān)測試工具進行圖解剖析，涉及PCIe Gen 4協(xié)議分析，性能/功能/協(xié)議兼容性/IOT測試，熱插拔自動化測試，掉電測試，高低溫測試，以及如何構(gòu)建PCIe Gen 4 NVMe SSD測試環(huán)境，從Gen 4主板選型開始，涉及PCIe Gen 4 NVMe SSD三類接口（M.2, U.2, AIC）的端口擴展，各種常用的主機卡，轉(zhuǎn)接卡，盤柜，延長線的選擇等，以及考慮到測試便利性使用的主板托架和實驗室批量測試機架等解決方案。

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