任何產品開發(fā)周期的一個重要階段是系統(tǒng)的調試和測試。隨著設計復雜性的增加，產品的軟件開發(fā)和系統(tǒng)調試階段現(xiàn)在占據(jù)了相當大的上市時間，并且為了保持競爭力，需要將產品開發(fā)周期保持在最低限度。在深度嵌入式設計中，微處理器內核不能直接從芯片外圍訪問，這增加了調試系統(tǒng)的問題。本應用筆記描述了 ARM7TDMI 調試架構如何克服這個問題以及使用這種方法的優(yōu)勢。

ARM 調試架構——概述

ARM 調試架構使用協(xié)議轉換器盒來允許調試器通過 JTAG（聯(lián)合測試行動組）端口直接與內核對話。實際上，測試所需的內核中的掃描鏈被重新用于調試。

該架構使用掃描鏈將指令直接插入到 ARM 內核中。指令在內核上執(zhí)行，根據(jù)插入的指令類型，可以檢查、保存或更改內核或系統(tǒng)狀態(tài)。該架構能夠以較慢的調試速度執(zhí)行指令或以系統(tǒng)速度執(zhí)行指令（例如，如果需要訪問外部存儲器）。

調試器實際上使用 JTAG 掃描鏈訪問內核這一事實對用戶來說并不重要，因為前端調試器保持完全相同。用戶仍然可以將調試器與在目標系統(tǒng)上運行的監(jiān)控程序或在調試器主機上運行的指令集模擬器一起使用。在每種情況下，調試環(huán)境都是相同的。

使用 JTAG 端口的優(yōu)點是：

測試系統(tǒng)所需的硬件訪問被重新用于調試。

可以通過 JTAG 端口檢查內核狀態(tài)和系統(tǒng)狀態(tài)。

目標系統(tǒng)不必運行即可開始調試。例如，監(jiān)控程序需要一些目標資源正在運行，以便監(jiān)控程序運行。

可以使用傳統(tǒng)的斷點和觀察點。

可以添加片上資源。

例如，ARM 調試架構使用片上宏單元來增強可用的調試功能。

不需要單獨的 UART 與監(jiān)控程序進行通信。目標系統(tǒng)的調試需要以下內容：

– 運行調試器軟件的主機。主機可以是運行 Windows 的 PC、Sun 工作站或 HP 工作站

– 嵌入式 ICE 協(xié)議轉換器。一個單獨的盒子，它將串行接口轉換為與 JTAG 接口和具有 JTAG 接口和 ARM 調試架構兼容內核的目標系統(tǒng)兼容的信號。

在下面的圖 1 中，ARM 調試系統(tǒng)顯示了系統(tǒng)是如何連接的。

一旦系統(tǒng)連接好，調試器就可以開始通過嵌入式 ICE 接口轉換器與目標系統(tǒng)通信。

ARM調試系統(tǒng)

編輯：hfy