一区二区三区三上|欧美在线视频五区|国产午夜无码在线观看视频|亚洲国产裸体网站|无码成年人影视|亚洲AV亚洲AV|成人开心激情五月|欧美性爱内射视频|超碰人人干人人上|一区二区无码三区亚洲人区久久精品

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領取20積分哦,立即完善>

3天內不再提示

I/O電纜輻射發(fā)射問題的技術分析

電子設計 ? 來源:電子設計 ? 作者:電子設計 ? 2020-12-24 13:56 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

對于連接的信號電纜,其信號導體通常由一個連接器聯(lián)到內部電路上,注意這些導體上載有有用信號,其信號的頻率以及信號電平要很低,才不會有輻射發(fā)射問題。有很多種可能性,非故意的信號或是噪聲也會在同樣的導體上存在,只是信號的電平可能小的多。I/O驅動器線路可能會有內部雜訊及噪聲耦合到I/O信號線上。產品機殼內的電磁場可能會耦合到線路布線上,或是直接傳到連接器的信號引腳,從而傳到I/O信號上。高速時鐘信號也可能會串擾到I/O布線上,這有許多的可能。不管這些無用的信號是怎么耦合到I/O線纜上來的,都可以使用濾波器來降低這些無用信號的電壓幅值。一般來說如果這些雜訊噪聲電壓必須要低于0.1mV,這樣就可以通過相關的測試限制標準。

I/O濾波器示意圖

通常在信號電路上的濾波器是一個電容器件加在信號線與電路板的參考平面之間。如圖所示,上面電容濾波器的設計要讓功能上的有用信號通過,而將無用信號衰減掉。一個重要設計是,這個I/O信號線上的無用信號要相對于機殼做衰減,而不是相對于電路板的參考點做衰減。實際上是因為方便及低成本的原因,濾波器通常是設計在電路板上,因而所有的衰減是相對于電路板的參考點而不是直接對機殼。電路板的參考點與機殼間連接間的阻抗造成一個電壓降,因此就降低了濾波器的效果。

考慮到連接電感的I/O濾波器示意圖

在電路板參考點與機殼參考點之間的連接也是濾波器設計的一部分,此部分的電感量必須盡可能降低以確保濾波器能有效的工作。在高頻時,DC直流的導電性不會有問題。要注意的是PCB參考點與機殼連接的電感量。即使是完美的導體都會有電感,也就是阻抗。一旦噪聲電流流過電感就會有電壓降。雜訊噪聲電壓降就會有效的驅動I/O線纜造成輻射。

在I/O連接器與金屬接線柱間的環(huán)路電感根據環(huán)路面積而決定,而非周邊距離。此電感量,也就是阻抗,會隨著金屬接線柱與連接器的距離增加而快速的增加。另一個考慮的點是PCB板的參考點與機殼接觸面的大小。部分的環(huán)路在PCB板上的參考面,另一部分在機殼。這兩個導體面積都很大,故有著很小的區(qū)域電感。而PCB板的參考點與機殼的連接面通常很小,所以其區(qū)域電感在整體電感上占了很大的部分,主導了整個路徑的阻抗。接觸介面因此是線纜與機殼間雜訊噪聲電位差的最大來源。

在高頻時,電流只能在導體的表面流動,這稱之為集膚效應。集膚效應限制了電流能夠流過的區(qū)域,因而增加了區(qū)域電感的效應。從這個分析來看,很明顯的接觸面的大小是很重要的。比如銅柱應該要越粗越短才好。這樣可以減小銅柱的區(qū)域電感,因而也減小整體環(huán)路的電感。一種常見的方法是使用具有金屬彈片可同時接觸到機殼以及PCB板的參考地點的連接器。當使用的金屬彈片夠多時,電感就會降低。如果金屬彈片的接觸數(shù)量不夠,連接處的阻抗不夠低,則電位差就會產生了。在機殼與電路地之間就可能造成共模電壓。

信號連接電纜的輻射發(fā)射模型

按照前面的分析,假如是金屬機殼產品,產品的內部或者是外部有一根信號連接線電纜,首先進行電纜輻射的模型分析,在信號連接電纜靠近機殼的內部有一個共模電壓,由于這個共模電壓的存在,就會形成一個共模電流,因此共模電流就會形成單偶極子天線對外輻射,這是電纜發(fā)射的機理。

當信號線的長度小于1/4波長時,可用E=1.26ILf/D(uV/m)來計算。當信號線的長度大于1/4波長時,計算公式就可以進行簡化,利用更簡單計算公式

E=120I/D(uV/m)。因此,想要降低信號線電纜的輻射,就要減小其等效天線模型流過的共模電流,減小共模電流會有幾個方法:

1)減小圖中的共模電壓大小,電壓減小了,電流就會小。

2)增加共?;芈返淖杩?比如磁珠、共模電感的設計等等。當共模電壓一定的時候阻抗越大共模電流也就越小,輻射發(fā)射就會越小。

3)改變共模電流的路徑。比如,使它的回路面積更小;回路面積小了它的輻射就越小。

4)減小其信號的地阻抗來減小對應的共模激勵電壓。比如,PCB設計地走線設計優(yōu)化。

審核編輯:符乾江
聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 電纜
    +關注

    關注

    18

    文章

    2895

    瀏覽量

    56240
  • 功率設計
    +關注

    關注

    0

    文章

    21

    瀏覽量

    3511
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關推薦
    熱點推薦

    MAX7325 I2C端口擴展器,提供8路推挽式I/O和8個漏極開路I/O技術手冊

    MAX7325 2線串行接口外設具有16路I/O端口。其中8路為推挽輸出,另外8路為I/O端口,帶有可選擇的內部上拉和瞬態(tài)檢測功能。8路I/
    的頭像 發(fā)表于 05-22 15:27 ?250次閱讀
    MAX7325 <b class='flag-5'>I</b>2C端口擴展器,提供8路推挽式<b class='flag-5'>I</b>/<b class='flag-5'>O</b>和8個漏極開路<b class='flag-5'>I</b>/<b class='flag-5'>O</b><b class='flag-5'>技術</b>手冊

    時域網絡分析儀如何檢測電纜故障?

    時域網絡分析儀通過時域反射(TDR)技術來檢測電纜故障,其原理和具體檢測步驟如下:原理時域網絡分析儀基于電磁波在電纜中的傳播特性來檢測故障。
    發(fā)表于 04-29 14:37

    TE推出插拔式 I O 電纜組件優(yōu)勢有哪些?-赫聯(lián)電子

      TE Connectivity (TE)新推出的高速插拔式 I/O 銅質電纜組件支持最新的高速標準,設計速率為 56 Gbps 及更高。憑借信號完整性 (SI) 和系統(tǒng)結構專業(yè)知識,TE能夠向
    發(fā)表于 04-02 10:57

    開關電源傳導發(fā)射輻射發(fā)射的產生原因及解決對策

    開關電源來說,由于開關管、整流管工作在大電流、高電壓的條件下,對外界會產生很強的電磁干擾,因此開關電源的傳導發(fā)射和電磁輻射發(fā)射相對其它產品來說更加難以實現(xiàn)電磁兼容,但如果我們對開關電源產生電磁干擾
    發(fā)表于 03-07 15:31

    I/O接口與I/O端口的區(qū)別

    在計算機系統(tǒng)中,I/O接口與I/O端口是實現(xiàn)CPU與外部設備數(shù)據交換的關鍵組件,它們在功能、結構、作用及運作機制上均存在顯著差異,卻又相互協(xié)同工作,共同構建起CPU與外部設備之間的橋梁
    的頭像 發(fā)表于 02-02 16:00 ?1437次閱讀

    案例17:由電纜布線造成的輻射超標

    產品EMC設計分析與風險評估技術●全面解讀產品的EMC設計,如結構設計、屏蔽電纜處理、電源端口濾波電路設計、PCBlayout設計;●案例多,從案例分析引出產品設計方法;●課程案例講述
    的頭像 發(fā)表于 01-10 08:34 ?449次閱讀
    案例17:由<b class='flag-5'>電纜</b>布線造成的<b class='flag-5'>輻射</b>超標

    EMC測試案例分析——由電纜布線造成的輻射超標

    該文章主要觀點來自于鄭軍奇老師的作品《EMC電磁兼容設計與測試案例分析》,歡迎購買老師的作品進行反復拜讀。本文主要簡要講述由電纜布線造成的輻射超標問題分析以及相關應對措施。本案例主要涉
    的頭像 發(fā)表于 01-09 15:54 ?1504次閱讀
    EMC測試案例<b class='flag-5'>分析</b>——由<b class='flag-5'>電纜</b>布線造成的<b class='flag-5'>輻射</b>超標

    時源芯微——信號電纜輻射超標排查與解決流程

    時源芯微——信號電纜輻射超標排查與解決流程一、初步連接與測試:逐一連接電纜,并使用頻譜分析儀或其他測試工具監(jiān)測輻射水平。記錄每根
    發(fā)表于 12-12 10:10 ?0次下載

    【電磁兼容技術案例分享】屏蔽罩結構縫隙導致輻射發(fā)射問題解決案例

    【電磁兼容技術案例分享】屏蔽罩結構縫隙導致輻射發(fā)射問題解決案例
    的頭像 發(fā)表于 11-07 08:03 ?635次閱讀
    【電磁兼容<b class='flag-5'>技術</b>案例分享】屏蔽罩結構縫隙導致<b class='flag-5'>輻射</b><b class='flag-5'>發(fā)射</b>問題解決案例

    接地方式對輻射發(fā)射的影響分析

    書接上回,前文我們介紹了EMC的三大法寶之一的接地,本次我們就接地方式對輻射發(fā)射的影響舉例分析
    的頭像 發(fā)表于 10-24 09:52 ?1164次閱讀
    接地方式對<b class='flag-5'>輻射</b><b class='flag-5'>發(fā)射</b>的影響<b class='flag-5'>分析</b>

    直接I/O

    電子發(fā)燒友網站提供《直接I/O庫.pdf》資料免費下載
    發(fā)表于 10-14 10:55 ?0次下載
    直接<b class='flag-5'>I</b>/<b class='flag-5'>O</b>庫

    emc輻射發(fā)射和傳導發(fā)射測試區(qū)別 emc傳導測試過不了的原因

    在電磁兼容性(EMC)測試中,輻射發(fā)射和傳導發(fā)射是兩種重要的測試方法,它們分別用于評估電子設備在工作時對外界電磁環(huán)境的影響和其本身對外界電磁環(huán)境的耐受能力。 一、EMC輻射
    的頭像 發(fā)表于 10-06 15:41 ?5124次閱讀

    物聯(lián)網中常見的I/O擴展電路設計方案_IIC I/O擴展芯片

    物聯(lián)網系統(tǒng)中為什么要使用 IIC I/O擴展芯片 ??在物聯(lián)網系統(tǒng)中使用IIC(也稱為I2C)I/O擴展芯片的原因主要可以歸結為以下幾點:
    的頭像 發(fā)表于 09-24 11:29 ?1344次閱讀
    物聯(lián)網中常見的<b class='flag-5'>I</b>/<b class='flag-5'>O</b>擴展電路設計方案_IIC <b class='flag-5'>I</b>/<b class='flag-5'>O</b>擴展芯片

    TE推出插拔式 I O 電纜組件有什么用?-赫聯(lián)電子

      TE Connectivity (TE)新推出的高速插拔式 I/O 銅質電纜組件支持最新的高速標準,設計速率為 56 Gbps 及更高。憑借信號完整性 (SI) 和系統(tǒng)結構專業(yè)知識,TE能夠向
    發(fā)表于 09-02 16:13

    【電磁兼容技術案例分享】對地電容接地點差異導致輻射發(fā)射問題解決案例

    【電磁兼容技術案例分享】對地電容接地點差異導致輻射發(fā)射問題解決案例
    的頭像 發(fā)表于 08-30 12:30 ?512次閱讀
    【電磁兼容<b class='flag-5'>技術</b>案例分享】對地電容接地點差異導致<b class='flag-5'>輻射</b><b class='flag-5'>發(fā)射</b>問題解決案例