SmartRocket TestGrid 作為一款支持靜態(tài)分析的測(cè)試工具，滿(mǎn)足根據(jù)國(guó)軍標(biāo)8114標(biāo)準(zhǔn)對(duì)源碼進(jìn)行質(zhì)量分析。通過(guò)使用 SmartRocket TestGrid，用戶(hù)一方面可以根據(jù)需求進(jìn)行檢測(cè)模板的制定，然后依據(jù)該模板快速地對(duì)安全攸關(guān)的代碼進(jìn)行代碼質(zhì)量審查；另一方面還可以通過(guò)知識(shí)中心，快速了解和查閱標(biāo)準(zhǔn)中每條缺陷的具體內(nèi)容。

功能頁(yè)面簡(jiǎn)潔高效

缺陷展示頁(yè)面：支持缺陷按規(guī)范分類(lèi)和按文件分類(lèi)，能夠多維度查看缺陷結(jié)果。

缺陷結(jié)果頁(yè)面：頁(yè)面直接呈現(xiàn)分析結(jié)果，對(duì)于每條缺陷出現(xiàn)的具體位置都可定位，操作起來(lái)簡(jiǎn)單明了。

支持C/C++語(yǔ)言智能化單元測(cè)試

SmartRocket TestGrid 作為?款支持單元測(cè)試的?具，可以自動(dòng)生成滿(mǎn)足語(yǔ)句、分支、MC/DC準(zhǔn)則的覆蓋率最高達(dá)100%的測(cè)試用例。通過(guò)使用SmartRocket TestGrid，用戶(hù)可以快速地對(duì)代碼進(jìn)行單元級(jí)別的白盒測(cè)試、黑盒測(cè)試、回歸測(cè)試，從而進(jìn)?步提升測(cè)試效率。目前工具不僅可以對(duì)C代碼進(jìn)行單元測(cè)試，還可以對(duì)C/C++代碼進(jìn)行單元測(cè)試。對(duì)于C++代碼中的模板類(lèi)和模板函數(shù)，支持對(duì)其特化，從而完成單元測(cè)試。

其他功能優(yōu)化

對(duì)于絕對(duì)地址的展示方式進(jìn)行了優(yōu)化，用戶(hù)可以直接看到十六進(jìn)制的絕對(duì)地址目標(biāo)

對(duì)于MC/DC覆蓋率計(jì)算算法根據(jù)業(yè)內(nèi)普遍認(rèn)可的方式進(jìn)行了優(yōu)化

以及其他頁(yè)面和交互的優(yōu)化

fqj