CCD/CMOS圖像傳感器/屏下指紋測(cè)試設(shè)備領(lǐng)航者

近年來(lái)，圖像傳感器作為電子設(shè)備的“視覺(jué)靈魂”，隨著5G的普及，已成為了市場(chǎng)矚目的焦點(diǎn)。而作為無(wú)人駕駛技術(shù)的龍頭，特斯拉更于上個(gè)月宣布，將放棄自駕系統(tǒng) Autopilot 、FSD 中的雷達(dá)設(shè)備，本月起 Model 3 和 Model Y 部分新車自駕系統(tǒng)將改為全鏡頭偵測(cè)，沒(méi)有雷達(dá)傳感器，且可在北美進(jìn)行半自動(dòng)駕駛。我們更可以預(yù)期CMOS圖像傳感器（CIS）芯片和CIS攝像頭模塊（CCM）市場(chǎng)將迎來(lái)爆發(fā)式增長(zhǎng)。

從圖像傳感器芯片設(shè)計(jì)到晶圓制造，封裝測(cè)試及最下游的系統(tǒng)廠如手機(jī)、汽車等，經(jīng)歷多年發(fā)展，各階段的工藝水平呈現(xiàn)出飛躍式提升，然而行業(yè)內(nèi)的分工相當(dāng)細(xì)致，制造端的建設(shè)與時(shí)間成本高昂，撐起了行業(yè)上、中、下游各自的技術(shù)門檻。

以圖像傳感器應(yīng)用光學(xué)屏下指紋辨識(shí)芯片為例，皆由頂尖的芯片設(shè)計(jì)公司主導(dǎo)設(shè)計(jì)，再委由如臺(tái)積電、采鈺代工制造，最后再傳遞至封測(cè)廠進(jìn)行封裝和基本電性測(cè)試，因此，對(duì)芯片設(shè)計(jì)工程師而言，要得知自家的設(shè)計(jì)最后是否能滿足終端客戶的期待，往往要等待三到六個(gè)月，如何掌握終端客戶的需求以及實(shí)時(shí)有效率地驗(yàn)證自家的設(shè)計(jì)，才能最終勝出、獲得市場(chǎng)青睞。

SG-A圖像傳感器測(cè)試儀是由光焱科技研發(fā)的標(biāo)準(zhǔn)化圖像傳感器測(cè)試儀，可提供從圖像傳感器芯片到組裝成產(chǎn)品如屏下指紋辨識(shí)模塊、高動(dòng)態(tài)范圍的車用攝像頭等所需的關(guān)鍵參數(shù)，例如全光譜量子效率QE、整個(gè)系統(tǒng)增益K、時(shí)間暗噪聲、信噪比、絕對(duì)靈敏度閾值、飽和能力、動(dòng)態(tài)范圍、DSNU 、PRNU、線性誤差等，即便是芯片設(shè)計(jì)公司，也可以很輕易的在封裝前后得到相關(guān)的光電特性報(bào)告以加速最終產(chǎn)品的交付。SG-A 圖像傳感器測(cè)試儀的測(cè)試方法在EMVA 1288標(biāo)準(zhǔn)基礎(chǔ)上進(jìn)行了優(yōu)化設(shè)計(jì)，增加了傳統(tǒng)方法無(wú)法進(jìn)行的主光角CRA測(cè)量功能，克服了新的工藝制造檢查難題，包括小像素（<1 um），BSI和3D堆疊，微透鏡，新的拜耳陣列設(shè)計(jì)等，更直接助力晶圓級(jí)光電特性分析、微透鏡設(shè)計(jì)驗(yàn)證。

技術(shù)的發(fā)展催生標(biāo)準(zhǔn)的進(jìn)步，唯有盡可能使行業(yè)內(nèi)從上游到下游測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)化，才能加速設(shè)計(jì)驗(yàn)證流程。我們發(fā)現(xiàn)，過(guò)去的芯片設(shè)計(jì)公司，非常熟悉芯片的電性分析，然而隨著光傳感器類產(chǎn)品的市場(chǎng)應(yīng)用大爆發(fā)，如若多琢磨芯片上光轉(zhuǎn)電的特性，顯然可以成為技術(shù)突破點(diǎn)。

以圖像傳感器上的一個(gè)重要參數(shù)，量子效率為例，利用非破壞性光學(xué)"逆轉(zhuǎn)譯"技術(shù)，由影像芯片生成的數(shù)位影像訊號(hào)分析出微米級(jí)感光元件的量子效率、芯片類比電路的系統(tǒng)增益等，也可以進(jìn)一步由傳感器的量子效率QE曲線，來(lái)了解傳感器在光譜范圍內(nèi)的表現(xiàn)能力。

從上圖可以看到，從 QE 結(jié)果來(lái)看，由于 BI 結(jié)構(gòu)，在 650nm 處可以達(dá)到 85% 以上的最高 EQE 值，850nm 和 940nm 處的近紅外波段響應(yīng)值也很高，使SONY IMX556 成為 3D 傳感應(yīng)用的領(lǐng)導(dǎo)者。

如果您專長(zhǎng)于電子電路芯片設(shè)計(jì)，但對(duì)于光學(xué)檢測(cè)不熟悉，希望能夠找到一個(gè)擅長(zhǎng)光學(xué)、光譜學(xué)檢測(cè)的合作伙伴...

如果您是消費(fèi)性電子產(chǎn)品的專家，現(xiàn)在要跨足圖像傳感器相關(guān)的后端模塊產(chǎn)品，但卻不熟悉圖像傳感器成像質(zhì)量的檢驗(yàn)方式與方法...

如果您的圖像傳感器芯片要在短時(shí)間內(nèi)完成相關(guān)光學(xué)性能的設(shè)計(jì)與驗(yàn)證，而需要在短時(shí)間內(nèi)完成光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)的布署，想找尋一個(gè)可靠的合作伙伴...

如果您已經(jīng)有傳統(tǒng)積分球式檢測(cè)系統(tǒng)，但卻因發(fā)散角過(guò)大無(wú)法對(duì)主光角(CRA)等精密光學(xué)參數(shù)進(jìn)行性能測(cè)試...

對(duì)于已投產(chǎn)的圖像傳感器芯片，您希望能夠驗(yàn)證代工廠制程的質(zhì)量，想找尋一個(gè)非破壞性的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)...

如果您是后端的相機(jī)模塊商，需要準(zhǔn)確的圖像傳感器芯片光學(xué)參數(shù)(如芯片加上微透鏡的CRA)，來(lái)設(shè)計(jì)合適的鏡頭參數(shù)，來(lái)完成整體模塊的設(shè)計(jì)與驗(yàn)證...

如果您正在開發(fā)后端的ISP(影像訊號(hào)處理芯片)，正在找尋一套模擬光源系統(tǒng)，具有高光強(qiáng)動(dòng)態(tài)范圍調(diào)變能力同時(shí)涵蓋UV到NIR波段，可以來(lái)模擬圖像傳感器芯片的應(yīng)用環(huán)境，來(lái)協(xié)助您開發(fā)ISP算法...

采用光焱科技先進(jìn)的光轉(zhuǎn)換調(diào)變技術(shù)及全套測(cè)試方案，無(wú)須切割或?qū)π酒M(jìn)行破壞性檢測(cè)，可將影像芯片的數(shù)位訊號(hào)"逆轉(zhuǎn)譯"分析出微米級(jí)感光元件的量子效率、芯片類比電路的系統(tǒng)增益、暗電流噪聲、飽和度、光電響應(yīng)線性度等，加速您新產(chǎn)品的上市時(shí)程。

SG-A 圖像傳感器測(cè)試儀應(yīng)用領(lǐng)域

·指紋識(shí)別（CIS +鏡頭，CIS +準(zhǔn)直儀，TFT陣列傳感器）

·CIS的微透鏡設(shè)計(jì)，晶圓級(jí)光學(xué)檢查

·CIS DSP芯片算法開發(fā)

·Si TFT傳感器面板

·飛行時(shí)間相機(jī)傳感器

·接近度傳感器（量子效率，靈敏度，線性，SNR等）

·d-ToF傳感器，i-ToF傳感器

·多光譜傳感器

·環(huán)境光傳感器（ALS）

·指紋下顯示（FoD）傳感器

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