Q1：

關(guān)于IC類(lèi)的可靠性測(cè)試，對(duì)于電性數(shù)據(jù)的測(cè)試項(xiàng)目，有沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)定義呢？那對(duì)于量產(chǎn)測(cè)試項(xiàng)目，有標(biāo)準(zhǔn)定義嗎？datasheet 中的測(cè)試項(xiàng)目又是來(lái)自哪里呢，經(jīng)驗(yàn)/客戶(hù)要求…，這個(gè)地方是否有標(biāo)準(zhǔn)定義呢？

Answer：

通常用量產(chǎn)測(cè)試的FT程序?？煽啃詼y(cè)試后的FT程序，通常是QA程序。對(duì)于NAND來(lái)講，可能還要包含高低溫的測(cè)試。車(chē)規(guī)電子需要高低溫測(cè)試，消費(fèi)類(lèi)不需要。

根據(jù)datasheet來(lái)，測(cè)試項(xiàng)盡量全部cover，不能cover的要知道原因。具體產(chǎn)品具體分析，比如LDO，它的一些關(guān)鍵參數(shù)必須要測(cè)的：PSRR、load regulation、line regulation、IQ等等。再比如RF產(chǎn)品、LNA類(lèi)，量產(chǎn)只測(cè)一些S參數(shù)。它的Noise Figure這些就不會(huì)加入量產(chǎn)，因?yàn)榄h(huán)境干擾影響比較大經(jīng)常測(cè)不準(zhǔn)。

Q2：

哪位有車(chē)規(guī)芯片的可靠性要求相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，中英文都行，自己公司執(zhí)行的部分章節(jié)也可以？

Answer：

可以參考AEC-Q100 FAILURE MECHANISM BASED STRESS TEST QUALIFICATION FOR INTEGRATED CIRCUITS。網(wǎng)址：http://www.aecouncil.com./AECDocuments.html。

Q3：

請(qǐng)問(wèn)有什么辦法可以對(duì)芯片開(kāi)路點(diǎn)進(jìn)行定位嗎？

Answer：

簡(jiǎn)單封裝可以逐級(jí)剝離，測(cè)量。逐個(gè)排除法，從封裝到die，針對(duì)分析，問(wèn)題本身就是開(kāi)放性問(wèn)題，一般是從封裝開(kāi)始尋找，樣品多可以封裝和die probe一起開(kāi)始分析，確認(rèn)是die還是封裝的問(wèn)題。如果是die表現(xiàn)出open，一般封測(cè)廠是無(wú)從下手的，這個(gè)只能退回fab來(lái)檢查。

Q4：

做SAT發(fā)現(xiàn)芯片有分層了，不管分層多少是不是都屬于不良品，封裝有問(wèn)題了？芯片是已經(jīng)過(guò)SMT焊到PCB上了，成品到客戶(hù)后，上電半小時(shí)后故障，對(duì)芯片做SAT發(fā)現(xiàn)有分層。但是芯片本身還沒(méi)有完全壞。

Answer：

MSL等級(jí)認(rèn)證并非不容許分層。大致標(biāo)準(zhǔn)為：分層總面積不超過(guò)封裝體面積的10%，且在關(guān)鍵打線(xiàn)區(qū)域沒(méi)有分層。至于soaking時(shí)間、precon工藝不對(duì)等，另作別論。

這是有jedec考核標(biāo)準(zhǔn)的，條件判據(jù)都是公認(rèn)的。問(wèn)原廠要pkg-qual報(bào)告，沒(méi)必要過(guò)多猜測(cè)。懷疑就重做。并非當(dāng)初考核批過(guò)了，生產(chǎn)就無(wú)異常?；蛘吣靡蓡?wèn)批到第三方實(shí)驗(yàn)室吧，比如季豐電子。

Q5：

單顆芯片疊加做ESD試驗(yàn)，500v后測(cè)試通過(guò)，1000v后測(cè)試通過(guò)，1500v后測(cè)試fail。請(qǐng)問(wèn)做完500v和1000v后對(duì)1500v的試驗(yàn)結(jié)果有影響嗎？

Answer：

有越打越強(qiáng)壯的現(xiàn)象，建議每個(gè)電壓?jiǎn)为?dú)打。個(gè)人理解：ESD連續(xù)實(shí)驗(yàn)，是要考驗(yàn)產(chǎn)品esd能力還是通過(guò)esd等級(jí)：如果摸底考驗(yàn)?zāi)芰?，連續(xù)打可以，如果是為了過(guò)等級(jí)，需要參照標(biāo)準(zhǔn)來(lái)執(zhí)行不然會(huì)吃虧；不太會(huì)是像 anneal那樣，越打越強(qiáng)壯吧？每次打esd你判斷是否能通過(guò)只是用iv不是功能測(cè)試，這種情況下有可能產(chǎn)品早就有一些潛在的問(wèn)題，最后實(shí)在扛不住了，達(dá)到iv能夠測(cè)試出來(lái)的能力了；另外有些產(chǎn)品會(huì)有ESD window ，舉例來(lái)說(shuō)過(guò)了1000結(jié)果沒(méi)過(guò)500。

Q6：

有什么國(guó)產(chǎn)的硅片分選機(jī)推薦？指8寸晶圓，可以在線(xiàn)分選，主要就是外觀瑕疵，電阻率，厚度、TTV，BOW，particle等？

Answer：

這些項(xiàng)目應(yīng)該是做wafer substrate的廠商的出廠檢驗(yàn)OQC的項(xiàng)目，國(guó)產(chǎn)wafer substrate的廠商有滬硅產(chǎn)業(yè)、中環(huán)半導(dǎo)體等，可以打聽(tīng)一下。

Q7：

precon 做哪些測(cè)試？

Answer：

實(shí)驗(yàn)順序：SAT，Bake，Soak，Reflow，SAT。其中Reflow的溫度大小要根據(jù)測(cè)試樣品的封裝大小來(lái)定。溫度的峰值持續(xù)時(shí)間參考JEDEC標(biāo)準(zhǔn)，J-STD-020E。

precondition就是模擬產(chǎn)品上班前所能經(jīng)歷的環(huán)境測(cè)試，從庫(kù)房保存（溫濕度）開(kāi)始，經(jīng)過(guò)運(yùn)輸（溫度循環(huán)）， 吸收濕氣（MSL），然后上板（過(guò)回流焊）。前后都用超聲來(lái)檢測(cè)是否有分層。

Q8：

芯片框架表C掃分層，有很多黑色的，是什么原因？

Answer：

可能是塑封體表面沾污的雜質(zhì)或者檢查一下SAT機(jī)臺(tái)的鏡頭有無(wú)沾污。還有這個(gè)是sonoscan的機(jī)臺(tái)做的SAT，請(qǐng)調(diào)節(jié)下trigger，這個(gè)黑點(diǎn)可能與這個(gè)參數(shù)有關(guān)。

Q9：

ESD測(cè)試后，發(fā)現(xiàn)Drain to Poly這里有損傷，請(qǐng)教此處損傷機(jī)理是什么？HBM，Gate和Drain端壓差太大嗎？

Answer：

靜電擊穿了。如果這個(gè)現(xiàn)象可以復(fù)現(xiàn)，可以再測(cè)試1顆，若還是同樣的管腳失效，那么可以找設(shè)計(jì)部門(mén)一起看下，看看這個(gè)管腳的ESD保護(hù)電路機(jī)制，有沒(méi)有什么缺陷?；蛘咦鱿耇LP，看下這個(gè)管腳的實(shí)際耐壓值。

Q10：

經(jīng)常聽(tīng)說(shuō)分層delamination ， 這里怎么理解分層，物理現(xiàn)象是啥？是物理?yè)p傷嗎？

Answer：

物理現(xiàn)象就是分層，在芯片process中會(huì)有很多層film，層間分層，有可能是stress引起，或者其他原因。

Q11：

Leadframe是封裝廠定制吧？

Answer：

FC基本是定制的，除非剛好有一些可以套上去的芯片pad layout。

Q12：

EOS包含哪些可能的方面？過(guò)壓，過(guò)流，大信號(hào)輸入？FA里最常見(jiàn)的就是unknown EOS。EOS的說(shuō)法掩蓋了設(shè)計(jì)、封裝、材料、工藝的問(wèn)題，感覺(jué)是行業(yè)里的規(guī)則。

Answer：

這個(gè)主要是從系統(tǒng)級(jí)引申出來(lái)的，表現(xiàn)在芯片上就是燒壞了。芯片自身設(shè)計(jì)問(wèn)題也會(huì)引起EOS，比如系統(tǒng)級(jí)設(shè)計(jì)芯片沒(méi)有poe復(fù)位，啟動(dòng)階段芯片會(huì)有短時(shí)間處于時(shí)序不受控狀態(tài)，也會(huì)造成EOS。但大部分會(huì)系統(tǒng)級(jí)設(shè)計(jì)和應(yīng)用以及使用環(huán)境相關(guān)。EOS的介紹，可以參考JEDEC上的魚(yú)骨圖，直接去JEDEC官網(wǎng)搜索EOS就可以找到，或者參考下圖。

Q13：

球做完reflow變成了這樣，會(huì)是什么原因？球表面并沒(méi)有compound，目前切片沒(méi)發(fā)現(xiàn)void。

Answer：

Solder bump的話(huà)，有可能風(fēng)大了，也有可能速度快了。

編輯：jq