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芯片設(shè)計制造封裝測試全流程

lhl545545 ? 來源:星光鴻創(chuàng) 搜圖網(wǎng) 百度 ? 作者:星光鴻創(chuàng) 搜圖網(wǎng) ? 2021-12-30 11:01 ? 次閱讀
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芯片設(shè)計制造封裝測試全流程:

1.IC設(shè)計

2.晶圓處理工序

3.圓針測工序

4.構(gòu)裝工序

5.測試工序

芯片在行內(nèi)被稱為集成電路芯片制造環(huán)節(jié)一般也采用外協(xié)形式完成,芯片的構(gòu)裝是將單個的晶粒固定在塑膠或陶瓷制的芯片基座上,最后未通過測試的芯片則視其達到的參數(shù)情況定作降級品或廢品。

芯片由很多重疊的層組成,芯片封裝環(huán)節(jié)一般采用外協(xié)形式完成,建立健全封裝外協(xié)技術(shù)、質(zhì)量、過程等外協(xié)控制體系,確保完成穩(wěn)定的批量產(chǎn)品封裝。

本文綜合整理自星光鴻創(chuàng) 搜圖網(wǎng) 百度
審核編輯:彭菁
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