的晶粒時,標(biāo)有記號的不合格晶粒會被洮汰,不再進(jìn)行下一個制程,以免徒增制造成本。在晶圓制造完成之后,晶圓測試是一步非常重要的測試。這步測試是
發(fā)表于 12-01 13:54
``揭秘切割晶圓過程——晶圓就是這樣切割而成芯片就是由這些晶
發(fā)表于 12-01 15:02
在硅晶圓被蝕刻入的晶體管起不了任何作用,這一切是由于制造技術(shù)限制而造成的,任何一個存在上面問題的芯片將因不能正常工作而被報(bào)廢。上圖中,一塊硅晶
發(fā)表于 12-01 16:16
`什么是硅晶圓呢,硅晶圓就是指硅半導(dǎo)體積體電路制作所用的硅晶片。晶圓是制造IC的基本原料。硅
發(fā)表于 12-02 14:30
晶圓級芯片封裝技術(shù)是對整片晶圓進(jìn)行封裝測試后再切割得到單個成品芯片的技術(shù),封裝后的芯片尺寸與裸片
發(fā)表于 09-18 09:02
晶圓表面各部分的名稱(1)器件或叫芯片(Chip,die,device,circuit,microchip,bar):這是指在晶圓表面占大部
發(fā)表于 02-18 13:21
晶圓針測制程介紹 晶圓針測(Chip Probing;CP)之目的在于針對芯片作電性功能上的 測試(Test),使 IC 在進(jìn)入構(gòu)裝前先行
發(fā)表于 05-11 14:35
,、WAFER承載料盒、晶圓提籃,芯片盒,晶圓包裝盒,晶圓
發(fā)表于 07-10 19:52
有人又將其稱為圓片級-芯片尺寸封裝(WLP-CSP),以晶圓圓片為加工對象,在晶圓上封裝芯片
發(fā)表于 02-23 16:35
本文開始對12寸晶圓價格變化趨勢進(jìn)行了分析,其次闡述了12寸晶圓的應(yīng)用及12寸晶圓產(chǎn)能排名狀況,
發(fā)表于 03-16 14:12
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? 比如上圖,一個晶圓,通過芯片最好測試,合格的芯片/總芯片數(shù)===就是該
發(fā)表于 03-05 15:59
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在傳統(tǒng)晶圓封裝中,是將成品晶圓切割成單個芯片,然后再進(jìn)行黏合封裝。不同于傳統(tǒng)封裝工藝,晶
發(fā)表于 04-06 15:24
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晶圓制造和芯片制造是半導(dǎo)體行業(yè)中兩個非常重要的環(huán)節(jié),它們雖然緊密相連,但是卻有一些不同之處。下面我們來詳細(xì)介紹晶
發(fā)表于 06-03 09:30
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//熟悉半導(dǎo)體制造流程的朋友知道,芯片在切割封裝之前,所有的制造流程都是在晶圓(Wafer)上操作的。不過我們見到的芯片都是方形的,在圓形的晶
發(fā)表于 12-19 11:43
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芯片制造的畫布 芯片制造的畫布:晶圓的奧秘與使命 在芯片制造的宏大舞臺上,晶
發(fā)表于 03-10 17:04
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