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設(shè)計的可靠性:兩個設(shè)計的可靠性問題

技術(shù)匠房 ? 來源:技術(shù)匠房 ? 作者:技術(shù)匠房 ? 2022-02-15 10:30 ? 次閱讀
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最近研發(fā)部在開發(fā)一款產(chǎn)品時,遇到了兩個設(shè)計的可靠性問題,分享出來.

第一個可靠性問題:霍爾感應在高溫實驗后,功能失效.

產(chǎn)品試產(chǎn)后正準備上線生產(chǎn),但是在做可靠性測試時,品質(zhì)發(fā)現(xiàn)了這個問題,就是高溫后霍爾功能失效.

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經(jīng)分析,發(fā)現(xiàn)霍爾與磁鐵的的距離為9MM, 而磁鐵在高溫后磁力會下降,導至霍爾感應不到磁鐵. 源頭還是設(shè)計工程師經(jīng)驗不足,考量的不周全. 而且磁鐵還是異形的,做樣周期更長; 模具已經(jīng)定型了,沒法改模具了,只能改善磁鐵了,一是提高磁鐵的溫度系數(shù),二是磁鐵加厚,增加磁鐵磁力. 經(jīng)驗證方案是可行的.

第二個可靠性問題:耳機在充電盒內(nèi)不能斷連

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這種問題是概率性的發(fā)生,生產(chǎn)無法 管控,經(jīng)分析是金屬環(huán)與觸摸距離太近了. 由于硬件及模具都已定型并開始小批量生產(chǎn),只能從軟件上解決了:當耳機在充電盒內(nèi)時,屏蔽觸摸功能;這樣就可以解決這種誤動作了.經(jīng)驗證方法是可行的.

審核編輯:符乾江

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