用于諸如放大器、混頻器和濾波器等電路的晶圓級測量的測試系統(tǒng)的規(guī)范化會頗具挑戰(zhàn)性，特別是當(dāng)單個晶圓可容納多種電路類型時，為驗(yàn)證這些結(jié)構(gòu)所需進(jìn)行的測試是廣泛且復(fù)雜的，包括 S 參數(shù)、DC 參數(shù)、噪聲指數(shù)、增益壓縮和互調(diào)失真。測量和校準(zhǔn)準(zhǔn)確度是至關(guān)重要的，尤其是在必須使多個流程之間的測試相互吻合的場合。

MeasureOne 優(yōu)勢

• 有保證的系統(tǒng)配置、安裝和支持
• 準(zhǔn)確和可重復(fù)的晶圓級產(chǎn)品特性分析
• 經(jīng)過預(yù)先驗(yàn)證的系統(tǒng)配置
• 按照規(guī)定的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行安裝
• 由專門的聯(lián)系人提供客戶支持
• 由解決方案專家?guī)椭鷮?shí)現(xiàn)優(yōu)化

解決方案組件

• Cascade 200 mm或300 mm半自動探針臺系統(tǒng)，WinCal XE校準(zhǔn)軟件，Infinity探針和ISS標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)片
• Keysight Technologies PNA 或 PNA-X、B1500A、WaferPro-XP、IC-CAP 軟件和 DC 功率分析儀

審核編輯：符乾江