eVue顯微鏡 概述

體驗數(shù)字成像的未來

eVue IV 數(shù)字成像系統(tǒng)集非凡的光學性能與更高的生產(chǎn)率于一身。

它的革命性多透鏡設計在光學分辨率、數(shù)字變焦和實時運動視頻之間提供了理想的平衡。該系統(tǒng)能以前所未有的速度和智能水平對器件進行導航、觀察和測量，并支持 FormFactor 獨特的 Contact Intelligence?。

新型高速聚焦系統(tǒng)可提高工作速度，從而在極短的時間里提供高度準確的測量數(shù)據(jù)。先進的智能型透鏡支架能檢測無意識的機械接觸并改善自動化安全性。

eVue IV 數(shù)字顯微鏡為您的 Cascade 探針臺提供了完美的補充。

eVue顯微鏡 主要特征

多路CCD設計

簡便快捷的探針針尖導航

最大限度擴大了視野

高放大倍數(shù)

長工作距離

Z 軸驅(qū)動器能夠在與載物臺相同的范圍內(nèi)工作

在 DUT 處于聚焦狀態(tài)的情況下可實現(xiàn)較高的分離間隙

使獨特的 ScopeFollowMode 更加強大

實現(xiàn)了更快和更準確的探針針尖放置

相應特征的無陰影視圖

智能物鏡支架

• 自動地配置和優(yōu)化性能
• 簡易的透鏡更換
• eVue 自動識別目標參數(shù)并將它們傳遞至 Velox? 探針臺控制軟件

延長使用壽命

• 每天 24 小時、每周 7 天的不間斷運行
• 增加了平均故障間隔時間 (MTBF)
• 無需內(nèi)部維護

智能碰撞檢測系統(tǒng)

• 保護測量設置
• 防止透鏡和探針之間的無意識機械接觸
• 增強了自動化安全性

審核編輯：符乾江