硬件測(cè)試是衡量電子工程師所設(shè)計(jì)電路性能好壞的一個(gè)重要手段。有很多問(wèn)題你以功能性的測(cè)試是測(cè)試不出來(lái)的，但通過(guò)硬件測(cè)試是可以測(cè)試出來(lái)，所以硬件測(cè)試的重要性就不言而喻了。

那么硬件測(cè)試的項(xiàng)目有哪些呢？主要有電源方面的測(cè)試：比如電源可靠性、電源紋波、電源時(shí)序之類(lèi)的；信號(hào)完整性方面的測(cè)試：I2C、SPI、MIPI、LVDS、I2S、DDR等；USB眼圖測(cè)試；溫度上升測(cè)試；晶體匹配性實(shí)驗(yàn)等。

就拿電源來(lái)說(shuō)，電源是一個(gè)系統(tǒng)的能源，沒(méi)有電源，系統(tǒng)都起不來(lái)。所以進(jìn)行電源方面的測(cè)試，要確認(rèn)電源能不能滿足系統(tǒng)整個(gè)需求的電壓和電流，是否存在有讓電源芯片進(jìn)入極限工作狀態(tài)的情況。而電源紋波的測(cè)試，需要確認(rèn)電源輸出是否會(huì)大于后級(jí)芯片可以承受的最大電壓，不然可能造成失效。

而信號(hào)完整性測(cè)試就更重要了，以I2C為例子，需要確保數(shù)據(jù)的建立時(shí)間，保持時(shí)間是否足夠，而這些都是需要通過(guò)硬件測(cè)試來(lái)確認(rèn)的。

硬件測(cè)試對(duì)于硬件工程師來(lái)說(shuō)有多重要，大家現(xiàn)在有了基礎(chǔ)地了解了吧。



審核編輯：劉清