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照度計(jì)Gossen MAVOLUX系列在光學(xué)測量中的應(yīng)用

德國GMCI高美測儀 ? 來源:德國GMCI高美測儀 ? 作者:德國GMCI高美測儀 ? 2022-09-13 10:50 ? 次閱讀
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照度計(jì)Gossen MAVOLUX5032在光學(xué)測量中的實(shí)際應(yīng)用:

Gossen MAVOLUX5032照度計(jì)使用方便,測量精度高。能夠顯示lx或fc單位照度。

搭配可選配件中的亮度配件,MAVOLUX5032照度計(jì)也可用于測量單位cd/m2或fL亮度。探頭通過顏色校正,即其相對光譜響應(yīng)已經(jīng)適應(yīng)了人眼V(λ)光譜響應(yīng)度。所有重要類型的光都可以高精度測量,不需要任何額外的校正因子。V(λ)適應(yīng)的準(zhǔn)確性是MAVOLUX5032C和MAVOLUX5032B兩種照度計(jì)類型的主要區(qū)別。照度計(jì)的質(zhì)量等級已經(jīng)在標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范中DIN第7部分定義5032。

因此,MAVOLUX5032C符合C類,MAVOLUX5032B符合B類(DIN第7和8部分5032)。余弦校準(zhǔn)了照度計(jì)探頭,使斜入射光得到精確測量。

兩種MAVOLUX5032類型允許在不添加附件的情況下測量非常高強(qiáng)度的光。特別是0.01lx初始靈敏度MAVOLUX5032B特別適用于極低光強(qiáng)度的測量。

lx=Lux, 1lx=0.0929fc fc=footcandle, 1fc=10,76lx

cd/m2=Candelapersquaremeter, 1cd/m2=0,2919fL fL=footlambert, 1fL=3,426cd/m2

poYBAGMf8A6ATj4YAABDe4G_UrE578.jpg

照度計(jì)在光學(xué)測量中多種場景中的應(yīng)用:

1、照度計(jì)測量反射式圖卡的表面照度:

在圖像測試領(lǐng)域,建立一個統(tǒng)一的光源環(huán)境是非常重要的。因此,在每次測試之前,應(yīng)測試圖卡表面的照度,并且每次測量都是統(tǒng)一的。

在實(shí)際測試中,為了保證圖卡表面的均勻性,我們通常使用四個邊緣和中心點(diǎn)作為測量點(diǎn)。最后,通過獲得的測量值計(jì)算圖卡表面的均勻性。均勻性指數(shù)越高越好。如果不能滿足測試要求,則需要調(diào)整補(bǔ)光源的角度和距離,并使用照度計(jì)重新測量以計(jì)算均勻性。

測量每個測試點(diǎn)的照度時,務(wù)必不要堵塞探頭。測量人員可以站在一邊,將手伸向另一邊。

注意:測試圖卡表面容易損壞,測量時輕輕靠近表面,不要在圖卡上摩擦并移動到測量點(diǎn)。

2、照度計(jì)測量反射式燈箱的照度:

使用照度計(jì)測量光源環(huán)境時,我們只需將探頭放置在要測量的位置,即可實(shí)時顯示測量值,方便我們統(tǒng)計(jì)光源數(shù)據(jù),控制光源環(huán)境。

3、照度計(jì)測量透射式圖卡表面的亮度:

在圖像測試中,不乏需要測試圖卡表面亮度的情況。通過增加亮度配件的照度計(jì),可以快速測試不同圖塊的亮度值。

比如在camera在動態(tài)范圍測試中,我們獲得了每個圖塊的亮度值。然后,在隨后的圖像分析中,我們可以向分析軟件提供它作為一個輔助文檔。最后,用于分析動態(tài)范圍的結(jié)果數(shù)據(jù),以獲得更準(zhǔn)確、更可靠的測試結(jié)果。

逐個測量圖塊的亮度,并記錄可用文件;

例如:在分析軟件中,我們可以選擇要測試的測量指標(biāo)

poYBAGMf8A-AJsY4AAAlwPOXH2E342.jpg

例如:在分析軟件中,我們可以選擇要測試的測量指標(biāo)

pYYBAGMf8A-APIAzAAApqKlVTx8243.jpg

因?yàn)檐浖旧頃业骄哂邢嗤募母綄傥臋n,所以點(diǎn)擊Start之后,可以將亮度數(shù)據(jù)應(yīng)用到分析中。

poYBAGMf8BCAOqFIAAA20fR0xVw168.jpg

4、照度計(jì)測量散射燈箱的亮度:

照度計(jì)在測試亮度之前,需要增加照度計(jì)M516G配件,將照度計(jì)轉(zhuǎn)換成亮度計(jì),如圖所示:

從上圖可以看出,單位已經(jīng)從lx轉(zhuǎn)換成cd/m2。對于散射燈箱,我們還可以增加適配盤(M499G),用于屏蔽外部光源,測量結(jié)果將更加準(zhǔn)確。此外,適應(yīng)板的大表面降低了接觸壓力。因此,在測量過程中損壞設(shè)備的風(fēng)險也將大大降低。

審核編輯:湯梓紅

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