近些年，電子產(chǎn)品更新?lián)Q代速度越來(lái)越快，并且大多數(shù)產(chǎn)品趨于小型化和多功能化，這種趨勢(shì)令電路板上元器件之間的距離越來(lái)越小，也讓PCBA電路板的測(cè)試難度進(jìn)一步提升。

面對(duì)電子測(cè)試領(lǐng)域的變化，SPEA不僅在分享機(jī)遇，同時(shí)，也在創(chuàng)造機(jī)遇。SPEA推出的4085飛針測(cè)試儀，測(cè)試速度快、測(cè)試精度高，受到了一批電路板廠商認(rèn)可。

SPEA 4085飛針測(cè)試儀概述

4085是一款緊湊型的自動(dòng) 8倍飛針測(cè)試儀，其身材小巧的機(jī)身占地僅 1.30m2。最值得一提的是它的測(cè)試吞吐量和測(cè)試精度。

據(jù)悉，1臺(tái)4085飛針測(cè)試儀，穩(wěn)定運(yùn)行1年，可以測(cè)試超過(guò)800,00塊電路板。飛針定位具有高度的精確性和可重復(fù)性，分別為20μm和5μm，能夠測(cè)試帶有小于 50μm的微焊盤(pán) 和SMD01005元件的高密度電路板。此外，系統(tǒng)設(shè)計(jì)還可接 觸更微型的元件，例如SMD 008004。

4085飛針測(cè)試儀可提供的廣泛測(cè)試，包括射頻測(cè)試，在線測(cè)試、短路測(cè)試，也適用于5G器件的測(cè)試，此外還有光學(xué)測(cè)試，通過(guò)高分辨率的液體鏡頭攝影機(jī)進(jìn)行，輕松勝任手機(jī)、平板、路由器、筆記本、傳感器等多種小型高密度電路板測(cè)試。開(kāi)路引腳掃描、開(kāi)機(jī)測(cè)試、功能測(cè)試、閃存編程、光色度和強(qiáng)度測(cè)試，可全面覆高密度電路板各類檢測(cè)要求。

4085飛針測(cè)試儀以數(shù)據(jù)體現(xiàn)價(jià)值

4085飛針測(cè)試設(shè)備搭載8個(gè)靈活的探針，每秒可對(duì)電路板頂部和底部進(jìn)行高達(dá)180次接觸。測(cè)試儀的集成傳送帶可將被測(cè)器件快速載入和載出測(cè)試區(qū)域，索引時(shí)間僅為2.5秒。X-Y-Z軸安裝了高分辨率的測(cè)量?jī)x器，分辨率為0.1pF，信號(hào)采集時(shí)間為毫秒級(jí)。

4085飛針測(cè)試儀具備哪些軟實(shí)力

SPEA自動(dòng)飛針測(cè)試儀內(nèi)置自有的操作系統(tǒng) Leonardo，旨在實(shí)現(xiàn)測(cè)試程序生產(chǎn)和執(zhí)行中的使用簡(jiǎn)易度最大化。用戶操作簡(jiǎn)易，直觀的圖形界面置于基于應(yīng)用程序的軟件環(huán)境內(nèi)，每個(gè)應(yīng)用程序都對(duì)應(yīng)一項(xiàng)測(cè)試功能。它可自動(dòng)生成新的測(cè)試程序，用時(shí)只需幾分鐘。其他功能包括：自動(dòng)調(diào)試和調(diào)整，實(shí)時(shí)生產(chǎn)分析和監(jiān)控，電路板修復(fù)和逆向工程功能的專用應(yīng)用程序。

在穩(wěn)健的成長(zhǎng)中SPEA認(rèn)識(shí)到，優(yōu)秀的產(chǎn)品永遠(yuǎn)是品牌的核心競(jìng)爭(zhēng)力。因此，在“讓電子產(chǎn)品更可靠”的使命之下，SPEA不斷突破測(cè)試技術(shù)，致力于用創(chuàng)新科技手段解決產(chǎn)品測(cè)試難題，在半導(dǎo)體測(cè)試、電路板測(cè)試等領(lǐng)域打造了一批拳頭產(chǎn)品，助力行業(yè)變革前行。更多自動(dòng)化測(cè)試儀器介紹請(qǐng)關(guān)注spea下期分享。