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密度提升近3倍,高NA EUV光刻機有何玄機

lPCU_elecfans ? 來源:未知 ? 2022-12-07 07:25 ? 次閱讀
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電子發(fā)燒友網(wǎng)報道(文/周凱揚)到了3nm這個工藝節(jié)點之后,單靠現(xiàn)有的0.33NA EUV光刻機就很難維系下去了。為了實現(xiàn)2nm乃至未來的埃米級工藝,將晶體管密度推向1000MTr/mm2,全面投入使用高NA EUV光刻機已經(jīng)勢在必行了。據(jù)了解,一臺高NA EUV的光刻機成本就可能達(dá)到3.2億美元,這樣一個天價的光刻系統(tǒng)究竟能帶來哪些優(yōu)勢,又存在哪些挑戰(zhàn)呢?


規(guī)模和密度的平衡,我們?yōu)槭裁葱枰逳A光刻機?

從今年發(fā)布的不少新品來看,即便工藝沒有太大的變化,芯片的性能仍在穩(wěn)步提升,有的是從架構(gòu)上找到了創(chuàng)新,有的選擇了改善帶寬之類的性能。但我們也都能看出,其中有一部分產(chǎn)品選擇了走大規(guī)模的路線,比如蘋果的M1 Ultra。這種方式雖然增加了功耗,但對于那些對功耗并不敏感的產(chǎn)品來說,似乎也是可行的一種思路,那么我們真的有必要用到更貴的高NA EUV光刻機進(jìn)一步提升密度嗎?


這個問題的答案其實不言而喻了,英特爾、臺積電等晶圓廠提前預(yù)訂的高NA EUV光刻機訂單已經(jīng)證明了它的重要性。歸根結(jié)底還是我們的晶體管密度需求仍在不斷攀升,但我們需要明白這個需求并不是線性增長的。


新世紀(jì)的20年代,很可能成為深度技術(shù)發(fā)展的黃金十年,比如邊緣AI芯片、基于CMOS的NIR/SWIR成像器、光電集成的片上激光雷達(dá)等等。你可以說推動工藝發(fā)展最大的功臣是智能手機芯片,但其他應(yīng)用對高密度的需求同樣不可小覷,因為這對它們來說也就意味著更高的存儲容量和帶寬、更高的算力。


如今的深度學(xué)習(xí)在大規(guī)模模型的爆發(fā)下,所需算力每幾個月就會翻一番,但現(xiàn)在能效比已經(jīng)成了優(yōu)先級更高的指標(biāo),要想同時滿足性能和算力的話,主要方法有四種:一是換一種系統(tǒng)級計算架構(gòu),比如DSA架構(gòu);二是充分利用3D設(shè)計,也就是我們常說的3D封裝和堆疊技術(shù);三是從晶體管架構(gòu)上創(chuàng)新,譬如納米管、納米片、CFET和原子溝道等;第四個則是目前看來最快捷的一條路線,通過光刻技術(shù)的發(fā)展直接提升密度。


高NA光刻機帶來的優(yōu)勢

固然高NA EUV光刻機能夠讓我們挺進(jìn)下一工藝節(jié)點,但它帶來的好處并不只是增加晶體管密度。先從技術(shù)價值上來說,0.55的大數(shù)值孔徑與0.33相比,可以實現(xiàn)尺寸減小2/5的特征圖形,將密度提升2.9倍。其次,高NA EUV光刻機帶來了更高的成像對比度,從而極大改善線寬均勻性,在更少的光刻膠劑量下實現(xiàn)更少的條紋變化。


光刻機晶體管密度的變化趨勢 / ASML


對于使用光刻機的晶圓廠來說,以上的優(yōu)勢減少了多重光刻的需要,也減少了光刻膠的劑量使用,從而降低了整體成本。其次,由于工序的簡化,曝光后光刻膠圖形邊緣與設(shè)計圖形之間的邊緣放置誤差也一并減少了。這也一并導(dǎo)致了掩膜處理周期的減少,極大提高整個晶圓廠的運轉(zhuǎn)效率。


有突破就有挑戰(zhàn)

既然高NA EUV光刻機有這么多好處,ASML為何還不加快進(jìn)度將其造出來,而是要等到2024年才能出貨呢?答案是目前看來,這類光刻機的制造和應(yīng)用都面臨著不小的挑戰(zhàn),以至于在2025年大規(guī)模投入都存在一定阻礙。


0.33NA之后所需的光刻膠厚度 / IMEC


我們先從光刻膠說起,高NA EUV光刻機需要用到更薄的光刻膠,比如小于20nm,這樣才能維持2:1這一理想的線高寬比。否則因為更大的厚度,就會超過這一比例,在曝光階段容易因為重心變化引發(fā)光刻膠塌陷。除了需要超薄、超高分辨率的光刻膠,還要考慮引入的隨機效應(yīng),這種隨機效應(yīng)會導(dǎo)致不必要的失效和特征圖形粗糙度,從而影響到芯片的性能,甚至可能會使整個系統(tǒng)失效。


再者就是高NA EUV光刻機需要用到的新光掩膜,光掩膜對于芯片的制造來說至關(guān)重要,因為它的明暗區(qū)域內(nèi)保存著設(shè)備成品所需的設(shè)計布局信息。隨著特征圖形尺寸的減小,與理想光掩膜之間的偏差對最終晶圓圖案的影響也在增加。


為禍作亂者之一就是光掩膜的3D效應(yīng),比如EUV中,光線以6°的入射角擊中光掩膜,以此產(chǎn)生的反射可能會產(chǎn)生屏蔽,從而因為光掩膜的緣故在晶圓上產(chǎn)生成像誤差。所以必須開發(fā)新的變形光掩膜技術(shù)及規(guī)范,才能減輕3D效應(yīng)帶來的影響。


小結(jié)

在更高的芯片性能需求下,轉(zhuǎn)向高NA的EUV光刻機已是必然,這類光刻系統(tǒng)也能徹底釋放現(xiàn)代晶體管結(jié)構(gòu)創(chuàng)新的潛力,引領(lǐng)我們走向埃米時代。但我們也不能就此忘記剛引入EUV光刻機時的教訓(xùn),3年后ASML的高NA EUV實現(xiàn)高密度已經(jīng)是定數(shù),但良率和產(chǎn)量問題才是這套系統(tǒng)交付后最大的問題。



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原文標(biāo)題:密度提升近3倍,高NA EUV光刻機有何玄機

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