作者：Lloben PaculananandJohn Neeko Garlitos

介紹

許多數(shù)據(jù)采集 （DAQ） 應(yīng)用 需要 隔離 的 DAQ 信號 鏈 路徑， 以 實現(xiàn) 魯棒性、 安全性、 高 共 模 電壓， 或 消除 可能 在 測量 中 引入 誤差 的 接地 環(huán) 路。ADI公司的精密高速技術(shù)使系統(tǒng)設(shè)計人員能夠在相同的設(shè)計中實現(xiàn)高交流和直流精度，而無需犧牲直流精度來換取更高的采樣速率。但是，為了實現(xiàn)高交流性能，例如信噪比（SNR），系統(tǒng)設(shè)計人員需要考慮控制ADC中采樣保持（S&H）開關(guān)的采樣時鐘信號或轉(zhuǎn)換啟動信號抖動引入的誤差。隨著目標(biāo)信號和采樣率的增加，控制S&H開關(guān)的信號抖動成為一個更主要的誤差。

當(dāng)DAQ信號鏈被隔離時，用于控制S&H開關(guān)的信號通常來自背板，用于多通道同步采樣。系統(tǒng)設(shè)計人員必須選擇具有低抖動的數(shù)字隔離器，以便進入ADC的S&H開關(guān)的最終控制信號具有低抖動。LVDS是精密、高速ADC的首選接口格式，因為數(shù)據(jù)速率要求很高。它還對DAQ電源和接地層產(chǎn)生最小的干擾。本文將解釋如何解釋ADI公司LVDS數(shù)字隔離器的抖動規(guī)格，以及在連接ADAQ23875DAQ μModule解決方案等精密高速產(chǎn)品時哪些規(guī)格很重要。本文概述的指南適用于使用具有LVDS接口的其他精密、高速ADC。當(dāng)與ADN4654千兆位LVDS隔離器配合使用時，還將在ADAQ23875的上下文中解釋計算對SNR的預(yù)期影響的方法。?

抖動如何影響采樣過程

通常，時鐘源在時域中具有抖動。在 設(shè)計 DAQ 系統(tǒng) 時， 了解 時鐘 源 的 抖 動 量 非常重要。

圖1顯示了非理想振蕩器的典型輸出頻譜，其噪聲功率在1 Hz帶寬內(nèi)與頻率的函數(shù)關(guān)系。相位噪聲定義為指定頻率偏移下1 Hz帶寬內(nèi)的噪聲之比，fm，振蕩器信號在基頻處的幅度，fo.

圖1.相位噪聲引起的振蕩器功率譜。

采樣過程是采樣時鐘和模擬輸入信號的乘法。時域中的這種乘法相當(dāng)于頻域中的卷積。因此，在ADC轉(zhuǎn)換過程中，ADC采樣時鐘的頻譜與純正弦波輸入信號發(fā)生卷積，因此，采樣時鐘上的抖動或相位噪聲將出現(xiàn)在ADC輸出數(shù)據(jù)的FFT頻譜中，如圖2所示。

圖2.使用相位噪聲采樣時鐘對理想正弦波進行采樣的效果。

隔離式 精度、 高速 DAQ 應(yīng)用

隔離式精密、高速DAQ應(yīng)用的一個例子是多相功率分析儀。圖3顯示了具有通道間隔離的典型系統(tǒng)架構(gòu)，以及用于與系統(tǒng)計算或控制器模塊通信的通用背板。在本例中，我們選擇了ADAQ23875精密、高速DAQ解決方案，因為它的解決方案尺寸小，便于在小尺寸中安裝多個隔離式DAQ通道，從而減輕了現(xiàn)場測試用例中移動儀器的重量。DAQ 通道通過 LVDS 千兆隔離器 （ADN4654） 與主機箱背板隔離。

隔離每個DAQ通道使每個通道能夠直接連接到具有明顯不同共模電壓的傳感器，而不會損壞輸入電路。每個隔離式DAQ通道的接地跟蹤具有一定電壓偏移的共模電壓。使DAQ信號鏈能夠跟蹤與傳感器相關(guān)的共模電壓，無需輸入信號調(diào)理電路來適應(yīng)大輸入共模電壓，并消除下游電路的高共模電壓。隔離還為用戶提供了安全性，并消除了可能影響測量精度的接地回路。

在功率分析儀應(yīng)用中，跨所有DAQ通道同步采樣事件至關(guān)重要，因為與采樣電壓相關(guān)的時域信息不匹配將影響后續(xù)計算和分析。為了跨通道同步采樣事件，ADC采樣時鐘從背板通過LVDS隔離器發(fā)出。

在圖3所示的隔離式DAQ架構(gòu)中，以下抖動誤差源導(dǎo)致控制ADC中S&H開關(guān)的采樣時鐘上的總抖動。

1. 參考時鐘抖動

采樣時鐘抖動的第一個來源是參考時鐘。該參考時鐘通過背板，連接到插入背板的每個隔離式精密高速DAQ模塊和其他測量模塊。它可作為 FPGA 的時序參考;因此，F(xiàn)PGA 內(nèi)部所有事件、數(shù)字模塊、PLL 等的時序精度都取決于參考時鐘的精度。在一些沒有背板的應(yīng)用中，板載時鐘振蕩器用作參考時鐘。

2. FPGA 抖動

采樣時鐘抖動的第二個來源是FPGA增加的抖動。重要的是要記住，F(xiàn)PGA內(nèi)部有一個觸發(fā)到執(zhí)行的路徑，F(xiàn)PGA內(nèi)部PLL和其他數(shù)字模塊的抖動規(guī)格有助于系統(tǒng)的整體抖動性能。

3. LVDS隔離器抖動

采樣時鐘抖動的第三個來源是LVDS隔離器。LVDS隔離器具有附加的相位抖動，有助于提高系統(tǒng)的整體抖動性能。

4. ADC的孔徑抖動

采樣時鐘抖動的第四個來源是ADC的孔徑抖動。這是ADC固有的，在數(shù)據(jù)手冊中定義。

圖3.通道到通道、隔離式DAQ架構(gòu)。

參考時鐘和FPGA抖動規(guī)格是根據(jù)相位噪聲給出的。為了計算采樣時鐘的抖動貢獻，需要將頻域中的相位噪聲規(guī)格轉(zhuǎn)換為時域中的抖動規(guī)格。

根據(jù)相位噪聲計算抖動

相位噪聲曲線有點類似于放大器的輸入電壓噪聲頻譜密度。與放大器電壓噪聲一樣，振蕩器中非常需要低1/f轉(zhuǎn)折頻率。振蕩器通常根據(jù)相位噪聲來指定，但要將相位噪聲與ADC性能相關(guān)聯(lián)，必須將相位噪聲轉(zhuǎn)換為抖動。為了使圖4中的圖表與現(xiàn)代ADC應(yīng)用相關(guān)，出于討論目的，振蕩器頻率（采樣頻率）選擇為100 MHz，典型圖表如圖4所示。請注意，相位噪聲曲線由幾個單獨的線段近似，每個線段的端點由數(shù)據(jù)點定義。

圖4.根據(jù)相位噪聲計算抖動。

計算等效均方根抖動的第一步是獲得目標(biāo)頻率范圍內(nèi)（即曲線面積A）的積分相位噪聲功率。曲線分為幾個單獨的區(qū)域（A1、A2、A3 和 A4），每個區(qū)域由兩個數(shù)據(jù)點定義。積分的上限頻率范圍應(yīng)該是采樣頻率的兩倍，假設(shè)振蕩器和ADC輸入之間沒有濾波。這近似于ADC采樣時鐘輸入的帶寬。為積分選擇較低的頻率也需要一些判斷。理論上，它應(yīng)該盡可能低，以獲得真正的均方根抖動。然而，在實踐中，對于小于10 Hz左右的偏移頻率，通常不會給出振蕩器規(guī)格，但是，這肯定會在計算中給出足夠準確的結(jié)果。如果該規(guī)格可用，則在大多數(shù)情況下，100 Hz的較低集成頻率是合理的。否則，請使用 1 kHz 或 10 kHz 數(shù)據(jù)點。還應(yīng)考慮近載波相位噪聲會影響系統(tǒng)的光譜分辨率，而寬帶噪聲會影響整個系統(tǒng)的SNR?？赡茏蠲髦堑姆椒ㄊ欠謩e集成每個區(qū)域，并檢查每個區(qū)域的抖動貢獻的大小。如果使用晶體振蕩器，與寬帶貢獻相比，低頻貢獻可以忽略不計。其他類型的振蕩器可能在低頻區(qū)域具有顯著的抖動貢獻，因此必須決定它們對整體系統(tǒng)頻率分辨率的重要性。每個單獨區(qū)域的集成產(chǎn)生單獨的功率比。然后將各個功率比相加并轉(zhuǎn)換回dBc。一旦知道積分相位噪聲功率，以弧度為單位的均方根相位抖動由下式給出：

并除以 2πf0在幾秒鐘內(nèi)將弧度抖動轉(zhuǎn)換為抖動：

有關(guān)更多詳細信息，請參閱“MT-008 教程：將振蕩器相位噪聲轉(zhuǎn)換為時間抖動”。

量化參考時鐘抖動

高性能DAQ系統(tǒng)中常用的參考時鐘是晶體振蕩器，因為與其他時鐘源相比，它提供了最佳的抖動性能。

晶體振蕩器的抖動規(guī)格通常在數(shù)據(jù)手冊中通過表1所示的示例定義。相位抖動是量化參考時鐘抖動貢獻時最重要的指標(biāo)。相位抖動通常定義為邊緣位置相對于平均邊緣位置的偏差。

另一方面，有一些晶體振蕩器指定相位噪聲性能而不是抖動。如果振蕩器數(shù)據(jù)手冊定義了相位噪聲性能，則可以將其轉(zhuǎn)換為抖動，如“根據(jù)相位噪聲計算抖動”一節(jié)中所述。

量化 FPGA 的 抖動

參考時鐘在FPGA中的主要作用是提供觸發(fā)信號，以啟動FPGA內(nèi)部編程的不同并行事件。換句話說，參考時鐘編排FPGA內(nèi)的所有事件。為了提供更好的時序時間分辨率，參考時鐘通常被傳遞到FPGA內(nèi)部的PLL以提高其頻率，因此，小時間間隔事件是可能的。同樣重要的是要知道，F(xiàn)PGA內(nèi)部有一個觸發(fā)到執(zhí)行的路徑，參考時鐘被傳遞到時鐘緩沖器、計數(shù)器、邏輯門等。在處理對抖動敏感的重復(fù)事件時，例如通過隔離向ADC提供LVDS轉(zhuǎn)換啟動信號，量化FPGA的抖動貢獻非常重要，以正確估計對整體系統(tǒng)抖動對高速數(shù)據(jù)采集性能的影響。

FPGA 的抖動性能通常在 FPGA 數(shù)據(jù)手冊中定義。在大多數(shù)FPGA軟件工具的靜態(tài)時序分析（STA）中也可以找到它，如圖5所示。時序分析工具可以從數(shù)據(jù)路徑的源和目標(biāo)計算時鐘不確定性，并將它們組合在一起以形成總時鐘不確定性。為了自動計算STA中參考時鐘抖動的貢獻，必須在FPGA項目中將其添加為輸入抖動約束。

圖5.靜態(tài)時序分析 （STA） 示例視圖。

量化數(shù)字隔離產(chǎn)生的抖動

觀察抖動的最基本方法是使用差分探頭測量LVDS信號對，并在上升沿和下降沿觸發(fā)，示波器設(shè)置為無限持久性。這意味著從高到低和從低到高的轉(zhuǎn)換是疊加的，允許測量交越點。分頻器的寬度對應(yīng)于迄今為止測量的峰峰值抖動或時間間隔誤差（TIE）。比較圖 6 和圖 7 中所示的眼圖和直方圖。一些抖動是由隨機源（例如，熱噪聲）引起的，這種隨機抖動（RJ）意味著示波器上的峰峰值抖動受運行時間的限制（直方圖上的尾部將隨著運行時間的增加而增長）。

圖6.ADN4651的眼圖。

圖7.ADN4651的眼圖直方圖。

相比之下，確定性抖動 （DJ） 的來源是有界的，例如脈沖偏斜引起的抖動、數(shù)據(jù)相關(guān)抖動 （DDJ） 和碼間干擾 （ISI）。脈沖偏斜是由于高到低和從低到高的傳播延遲之間的差異引起的。這通過偏移交叉表示，在0 V時，兩個邊沿被分開（很容易從圖7直方圖中的分離中看出）。DDJ產(chǎn)生于工作頻率上傳播延遲的差異，而ISI是由于先前轉(zhuǎn)換頻率對電流轉(zhuǎn)換的影響（例如，在1s或0的序列與1010模式之后，邊沿時序通常會有所不同）。

圖8.總抖動貢獻。

圖8顯示了如何完全估計給定誤碼率（TJ@BER）的總抖動。RJ 和 DJ 可以根據(jù)測量中對 TIE 分布的模型擬合來計算。其中一個模型是雙狄拉克模型，它假設(shè)高斯隨機分布與雙狄拉克增量函數(shù)（對應(yīng)于DJ的兩個狄拉克增量函數(shù)之間的分離）卷積。對于具有顯著確定性抖動的 TIE 分布，分布將在視覺上近似于此模型。一個復(fù)雜的問題是，一些DJ可以貢獻高斯分量，這意味著雙狄拉克模型可以低估DJ并高估RJ。但是，兩者相結(jié)合仍可準確估計給定 BER 的總抖動。

RJ 被指定為來自建模高斯分布的 1 西格瑪均方根值，這意味著要推斷到更長的運行長度（低 BER），只需選擇適當(dāng)?shù)亩辔鞲瘳斠匝刂植嫉奈膊恳苿幼銐蜻h（例如，14 西格瑪表示 1 × 10-12位錯誤）。然后添加 DJ 以提供TJ@BER估計值。對于信號鏈中的多個元件，無需添加多個TJ值，因為TJ值會高估抖動，RJ值可以幾何求和，DJ值可以代數(shù)求和，從而可以對完整的信號鏈進行更合理的完整TJ@BER估計。

ADN4654的RJ、DJ和TJ@BER均單獨指定，根據(jù)對多個單元的統(tǒng)計分析，為每個單元提供最大值，以保證這些抖動值在整個電源、溫度和工藝范圍內(nèi)。

圖9所示為ADN4654 LVDS隔離器的抖動規(guī)格示例。對于隔離式DAQ信號鏈，附加相位抖動是最重要的抖動規(guī)格。附加相位抖動與其他抖動源一起增加了ADC的孔徑抖動，導(dǎo)致采樣時間不精確。

圖9.ADN4654抖動規(guī)格

量化ADC的孔徑抖動

孔徑抖動是ADC固有的。這是由于孔徑延遲的樣本間變化，這與采樣事件中的誤差電壓相對應(yīng)。這種開關(guān)打開瞬間的樣本間變化稱為孔徑不確定性或孔徑抖動，通常以均方根皮秒為單位。

在ADC中，如圖10和圖11所示，孔徑延遲時間以轉(zhuǎn)換器的輸入為基準;模擬傳播延遲通過輸入緩沖器TA的影響;以及通過開關(guān)驅(qū)動器的數(shù)字延遲，t日嘎.參考ADC輸入，孔徑時間，t一個'，定義為前端緩沖器的模擬傳播延遲之間的時間差，t大，和開關(guān)驅(qū)動器數(shù)字延遲，t日嘎，加上一半的光圈時間，t一個/2.

圖 10.ADC的采樣保持輸入級。

圖 11.采樣保持波形和定義。

對于ADAQ23875，孔徑抖動僅為0.25 ps左右有效值如圖 12 所示。此規(guī)范由設(shè)計保證，無需測試。

圖 12.ADAQ23875孔徑抖動。

整體采樣時鐘抖動

在量化圖3所示四個主要模塊的單個抖動貢獻后，控制S&H開關(guān)的信號（或時鐘）的整體抖動性能可以通過取四個抖動源的平方根和（RSS）來計算。

另一方面，如果使用 STA，則簡化的時鐘抖動公式為：

采樣時鐘抖動對信噪比的影響

在量化了控制S&H開關(guān)的信號的整體抖動之后，我們現(xiàn)在可以量化該抖動對DAQ信號鏈的SNR性能的影響程度。

圖13顯示了采樣時鐘抖動引起的誤差。

圖 13.采樣時鐘抖動的影響。

采樣時鐘抖動對理想ADC信噪比的影響可以通過以下簡單分析來預(yù)測。

假設(shè)輸入信號由以下公式給出：

該信號的變化率由下式給出：

dv/dt 的均方根值可以通過除以振幅 2πfV 得到O，按 √2。現(xiàn)在讓 ΔV有效值= 均方根電壓誤差和 Δt = 均方根孔徑抖動 tj，并替換以下

值：

并求解 ΔV有效值:

滿量程輸入正弦波的均方根值為VO/√2.因此，均方根信號與均方根噪聲比（以dB表示）由頻率給出：

該公式假設(shè)使用無限分辨率ADC，其中孔徑抖動是決定SNR的唯一因素。該等式如圖14所示，顯示了孔徑和采樣時鐘抖動對SNR和ENOB的嚴重影響，特別是在較高的輸入/輸出下。

圖 14.理論數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器SNR和ENOB由于抖動與滿量程正弦波輸入頻率的關(guān)系。

ADAQ23875和ADN4654采樣時鐘抖動理想信噪比計算

ADAQ23875的孔徑抖動為250 fs rms（典型值），而ADN4654的附加相位抖動為387 fs rms（f外= 1 兆赫）。在這種情況下，我們暫不考慮參考時鐘和FPGA的抖動貢獻。

現(xiàn)在，根據(jù)ADC和隔離器的抖動規(guī)格，我們可以通過以下方式計算總均方根抖動：

圖 14 和 15 顯示了 隔離 式 精密 高速 DAQ 系統(tǒng) 計算 出 的 最大 SNR 和 ENOB 性能。SNR和ENOB隨輸入頻率而降低，這與圖13中理論SNR圖中的曲線一致。

圖 15.ADAQ23875和ADN4654計算的最大信噪比。

圖 16.ADAQ23875和ADN4654的最大計算ENOB。

結(jié)論

控制ADC中S&H開關(guān)的信號（或時鐘）抖動會影響精密、高速DAQ信號鏈的SNR性能。在選擇時鐘信號鏈中的各種元件時，了解導(dǎo)致整體抖動的誤差源非常重要。

當(dāng)應(yīng)用需要將DAQ信號鏈與背板隔離時，選擇具有低附加抖動的數(shù)字隔離器對于保持最佳SNR性能至關(guān)重要。ADI具有低抖動LVDS隔離器，使系統(tǒng)級設(shè)計人員能夠在隔離式信號鏈架構(gòu)中實現(xiàn)高SNR性能。

參考時鐘是采樣時鐘抖動的第一個來源，使用低抖動參考時鐘對于實現(xiàn)隔離式高速DAQ的最佳性能非常重要。確保FPGA和參考時鐘之間路徑的信號完整性也很重要，以避免路徑本身產(chǎn)生額外的誤差。

審核編輯：郭婷