2022年12月8日，由知名電子科技媒體“電子發(fā)燒友”主辦的2022第九屆中國IoT大會在深圳圓滿落幕，大會同步舉行了第七屆中國IoT創(chuàng)新獎頒獎活動。鼎陽科技SNA5000A系列矢量網(wǎng)絡分析儀憑借優(yōu)異的性能與積極的市場反饋，榮獲2022中國IoT創(chuàng)新獎—技術創(chuàng)新獎！這也是鼎陽科技第三次斬獲此項殊榮。

中國IoT技術創(chuàng)新獎

旨在發(fā)掘和表彰IoT行業(yè)中具有開拓精神并深具行業(yè)影響力、具有創(chuàng)新價值和深遠影響的杰出技術，以及在過去一年中，被市場和行業(yè)用戶所高度關注和認可的創(chuàng)新產(chǎn)品，評選由歷時三個月多的線上推廣、在線投票和產(chǎn)業(yè)分析師共同投票最終選出。

SNA5000A系列

矢量網(wǎng)絡分析儀

矢量網(wǎng)絡分析儀由于功能眾多素有“儀器之王”的美譽。鼎陽科技SNA5000A系列矢網(wǎng)的頻率范圍寬至 100 kHz-26.5 GHz，擁有最大125 dB的高動態(tài)范圍，支持2端口S參數(shù)測量，差分(平衡)測量，時域測量，頻譜分析，濾波器插入損耗、帶寬、Q 值等一鍵測量等豐富的功能，可廣泛應用于通信、天線基站、器件、智能制造、汽車電子等諸多領域。

此外，這款產(chǎn)品的發(fā)布對公司而言還具有更重要的意義——標志著鼎陽科技的行業(yè)四大主力產(chǎn)品（數(shù)字示波器、信號發(fā)生器、頻譜分析儀和矢量網(wǎng)絡分析儀）全線進入了高端領域！

125dB高動態(tài)范圍

系統(tǒng)動態(tài)范圍表示了最大輸出功率與測試端口本底噪聲的差值，是VNA的一項重要指標。SNA5000A可適用于對動態(tài)范圍要求較高的測試場景，比如同時測量濾波器的通帶和帶外抑制性能。

多樣化的顯示

支持在多個窗口下添加多條跡線進行S參數(shù)測量，且測量結果有多種數(shù)據(jù)格式顯示，可方便快捷地分析被測物的傳輸系數(shù)，反射系數(shù)，駐波比，阻抗匹配，相位，延時等參數(shù)。

時域分析功能及眼圖功能

SNA5000A系列不僅支持TDR時域反射計測量功能，可在時域?qū)鬏斁€的特征阻抗、時延等參數(shù)進行分析，還搭載了眼圖功能，為需要對高速信號進行時域分析的客戶節(jié)省了大量成本和時間。

射頻微波類產(chǎn)品發(fā)展迅速

SNA5000A系列矢網(wǎng)能斬獲此次佳獎，不僅由于其是鼎陽科技數(shù)年技術匠心的凝結，更由于其作為一款高端射頻產(chǎn)品，不僅是助力鼎陽在本年射頻市場上實現(xiàn)高速增長的一名虎將，也推動了國產(chǎn)高端儀器影響力和認可度的提升。

在2022年，受益于中高端產(chǎn)品的發(fā)力，鼎陽科技整體展現(xiàn)出了高速增長的態(tài)勢。前三季度境內(nèi)工業(yè)市場營收同比增長達131.78%，而前三季度高端產(chǎn)品營收同比增長達到了119%；其中射頻微波類產(chǎn)品的增速尤為明顯，不僅境內(nèi)營收在三個季度內(nèi)保持連續(xù)高速增長，在Q3季度更是同比增長達127.33%，可見射頻微波類產(chǎn)品已成為公司業(yè)績增長的堅實支點之一。并且公司仍持續(xù)以行業(yè)領先的速度在高端產(chǎn)品領域?qū)崿F(xiàn)著突破，繼本年3月推出SNA5000A系列矢網(wǎng)后，緊接著在11月鼎陽就更進一步推出了新款矢網(wǎng)產(chǎn)品——SNA6000A系列高精度矢量網(wǎng)絡分析儀。

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SNA6000A系列

高精度矢量網(wǎng)絡分析儀

SNA6000A系列矢網(wǎng)頻率范圍100 kHz-26.5 GHz，配備四個測試端口，可通過同步推出的SSM5000A系列開關矩陣或SSU5000A系列機械開關將端口擴展至24個或更多，且其動態(tài)范圍高達135 dB，有著極低的噪聲，采用了全新內(nèi)部構架，具備更強大的數(shù)據(jù)運算處理能力，支持TDR、混頻器測量等多種功能。

快速鏈接

鼎陽科技發(fā)布SNA6000A系列矢量網(wǎng)絡分析儀

4端口 | 26.5GHz矢量網(wǎng)絡分析儀

目前國內(nèi)通用電子測試測量行業(yè)還處于高速發(fā)展的黃金階段，此次鼎陽產(chǎn)品能蟬聯(lián)佳獎，再次證明了鼎陽在行業(yè)內(nèi)的技術創(chuàng)新實力和行業(yè)認可度，未來鼎陽還將繼續(xù)深化自身開拓精神，不斷完善產(chǎn)品布局，持續(xù)推動國內(nèi)通用電子測試測量產(chǎn)品的進階之路。

審核編輯 ：李倩