一前言
目前日常生活中的機(jī)器產(chǎn)品越來越多,智能家居、學(xué)習(xí)機(jī)、點讀筆、平板電腦等電子產(chǎn)品,這些產(chǎn)品都需要電源供電,在家里都是共用電源網(wǎng)絡(luò),有時都會放在同個排插口下充電使用,這便會有一個問題,兩個或多個產(chǎn)品產(chǎn)生的干擾通過電源線傳導(dǎo)到電源網(wǎng)絡(luò),這些設(shè)備會相互影響,甚至?xí)?dǎo)致機(jī)器工作異?;驌p壞?,F(xiàn)在在市場上售賣的電子產(chǎn)品需要通過EMC測試獲取證書,而EMC測試中有一項傳導(dǎo)發(fā)射測試,就是上面剛提到的實際應(yīng)用場景。
圖1 傳導(dǎo)測試
二傳導(dǎo)測試
傳導(dǎo)發(fā)射(Conducted Emission)測試,通常也會被稱為騷擾電壓測試,只要有電源線的產(chǎn)品都會涉及到,包括許多直流供電產(chǎn)品,另外,信號/控制線在不少標(biāo)準(zhǔn)中也有傳導(dǎo)發(fā)射的要求。傳導(dǎo)EMI指的是由設(shè)備或子電路產(chǎn)生的噪聲,并通過電纜、PCB走線、電源線、接地層或寄生電容傳輸?shù)搅硪粋€設(shè)備或子電路。
在標(biāo)準(zhǔn)測試中,布置擺放至關(guān)重要,擺放沒按照標(biāo)準(zhǔn)的示意圖進(jìn)行布置,會導(dǎo)致數(shù)據(jù)差異很大,并且在你整改的過程是個很大的阻力,因為外在的因素影響了對機(jī)器的判斷,會浪費很多時間并讓一些措施無效,無法對癥下藥。
遵循測試標(biāo)準(zhǔn)的擺放布置是很有必要的,如下圖所示。
圖2傳導(dǎo)測試布置示意圖
圖3 傳導(dǎo)測試布置示意圖
三案例
有一個需要過消費類傳導(dǎo)測試的項目,主要問題是DCDC芯片的開關(guān)頻率導(dǎo)致輻射超標(biāo),就針對這個問題點做了濾波,LC濾波、π型濾波等很多措施,但一直沒明顯改善,后續(xù)排查發(fā)現(xiàn)了問題點是金屬散熱器導(dǎo)致的。由于機(jī)器會發(fā)熱,在實驗室的桌子上有一個很大的金屬散熱器,如下圖4所示,機(jī)器放置在金屬上面進(jìn)行測試,這樣導(dǎo)致機(jī)器的測試數(shù)據(jù)會有差異,并不是實際的測試數(shù)據(jù)。
圖4測試桌面
在測試標(biāo)準(zhǔn)中,規(guī)定這個桌子是非導(dǎo)電桌,機(jī)器是以大地為參考面,而桌子上有其他金屬面的話,便會有差異,機(jī)器會以金屬面為參考面,導(dǎo)致數(shù)據(jù)會有差異。在其他條件都沒改變情況下,只去除金屬板后進(jìn)行對比測試,測試數(shù)據(jù)如下圖所示,兩者對比呈現(xiàn)很大的差異。
圖5有金屬桌面數(shù)據(jù)
圖6非導(dǎo)電桌面數(shù)據(jù)
四總結(jié)
在整改機(jī)器過程中,問題很明確,但整改很多措施都沒改善,有時得考慮一下是否是其他方面的問題,測試布置擺放也是EMC中重要的一環(huán),需嚴(yán)格根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行布置,減少測試差異。
無意識的電容器無處不在,它們很容易提供一條路徑,通過這條路徑,高頻信號可以從一個導(dǎo)體耦合到另一個導(dǎo)體。
審核編輯:湯梓紅
-
測試
+關(guān)注
關(guān)注
8文章
5687瀏覽量
128764 -
emc
+關(guān)注
關(guān)注
172文章
4160瀏覽量
186810 -
傳導(dǎo)發(fā)射
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
34瀏覽量
11424
原文標(biāo)題:消費類傳導(dǎo)測試
文章出處:【微信號:TLTECH,微信公眾號:韜略科技EMC】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。
發(fā)布評論請先 登錄
TE推出用于便攜消費類電子產(chǎn)品的PolyZen CE系列電路保護(hù)器件
面向消費類電子和工業(yè)應(yīng)用的NFC解決方案
10k-20k誠聘消費類電子結(jié)構(gòu)設(shè)計大牛
醫(yī)療設(shè)備中使用消費類PC配件的風(fēng)險
設(shè)計消費類音頻產(chǎn)品的系統(tǒng)框架
瑞薩QzROM單片機(jī)應(yīng)用于家電及消費類電子的解決方案
06年德國柏林消費類電子展
用射頻技術(shù)實現(xiàn)消費類遙控器
新唐D類可便攜消費類音頻放大器NAU82039
消費類數(shù)碼相機(jī)的優(yōu)缺點
智能時代:消費類電子產(chǎn)品的設(shè)計之道
MEMS運動處理方案對消費類電子的影響分析

評論