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近場(chǎng)探頭EM5030lf的特點(diǎn)及其應(yīng)用

PRBTEK ? 來(lái)源:PRBTEK ? 作者:PRBTEK ? 2023-02-17 16:00 ? 次閱讀
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近場(chǎng)探頭產(chǎn)品說(shuō)明:

EM5030/EM5030LF系列探頭組包含了7個(gè)專門用來(lái)測(cè)試磁場(chǎng)(H)探頭,它有效地屏蔽了電場(chǎng)干擾(E),主要用于電磁兼容整改時(shí)定位干擾源的近場(chǎng)探頭。EM5030的頻率范圍是30MHz-3GHz,共4種探頭形狀;EM5030LF的頻率范圍是9kHz-50MHz,共3種探頭形狀。

EM5030E系列探頭組包含了2個(gè)專門用來(lái)測(cè)試電場(chǎng)(E)的探頭,覆蓋頻率范圍為30 MHz到3 GHz,主要應(yīng)用于查找電場(chǎng)干擾源,除了探頭其他部分均為屏蔽設(shè)計(jì)。

探頭通過(guò)50Ω,BNC的電纜直接與頻譜儀或者示波器連接。當(dāng)產(chǎn)品的輻射或傳導(dǎo)干擾超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)時(shí),可用近場(chǎng)探頭來(lái)尋找產(chǎn)品中哪個(gè)元件或電路產(chǎn)生了該頻率的干擾,能夠檢測(cè)模塊之間的耦合通道以及評(píng)估系統(tǒng)內(nèi)信號(hào)切換速率、RF電壓等。當(dāng)干擾信號(hào)比較弱時(shí),可以配合本公司的EM5020A(20dB增益)或者EM5020B(30dB增益)前置放大器可以提高系統(tǒng)測(cè)試靈敏度。

poYBAGPvNASAQRLYAABt9W8rl9040.jpeg

近場(chǎng)探頭應(yīng)用:

■ EMI輻射干擾源定位

■ EMI傳導(dǎo)干擾源定位

■ 電磁場(chǎng)強(qiáng)度檢測(cè)

使用示意圖:

pYYBAGPvNASAVQRsAAA9IbrZBro72.jpeg

以上近場(chǎng)探頭EM5030lf的特點(diǎn)及其應(yīng)用由普科科技/PRBTEK整理分享, 西安普科電子科技有限公司致力于示波器測(cè)試附件配件研發(fā)、生產(chǎn)、銷售,涵蓋產(chǎn)品包含電流探頭、差分探頭、高壓探頭、無(wú)源探頭、電源紋波探頭、柔性電流探頭、近場(chǎng)探頭、邏輯探頭、功率探頭和光探頭等。旨在為用戶提供高品質(zhì)的探頭附件,打造探頭附件國(guó)產(chǎn)化知名品牌。更多信息,歡迎登錄普科科技網(wǎng)站進(jìn)行咨詢。

審核編輯黃宇

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