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IC設(shè)計知識點:高扇出的危害、RAM相關(guān)

ruikundianzi ? 來源:CSDN-IC小鴿 ? 2023-03-26 13:45 ? 次閱讀
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IC前后端:高扇出的危害

1、什么是高扇出?

高扇出指的是一個邏輯單元驅(qū)動的邏輯單元過多。常見于寄存器驅(qū)動過多的組合邏輯單元。至于驅(qū)動多少邏輯單元算過多,需要根據(jù)工藝,后端實現(xiàn)情況以及芯片本身類型來決定。

一般來說如果驅(qū)動邏輯大于10K以上,算是比較多的了。

2、高扇出有哪些危害?

危害1:驅(qū)動能力下降,時序緊張

扇出過高也就是也就意味了負載電容過大,電路原理基礎(chǔ)告訴咱們,負載電容越大,充放電速度越慢,電平跳變所需要的時間增加,即驅(qū)動能力下降,時序更加緊張。面對高扇出的情況,后端工具通常會通過插入buffer增加驅(qū)動能力,然后插入buff又會增加延時,造成時序緊張。

危害2:不利于布局布線,會增加走線延時

高扇出的情況通常意味著負載end_point分布在block的各個位置。而驅(qū)動的start_point需要放置在相對應(yīng)的中心位置,這就意味到start_point到end_points的走線延時較大,一旦時序緊張,后端工具需要花費很多時間去優(yōu)化,玩玩結(jié)果還不理想。

如下圖所示:黑色點為end_point

942bc07c-cb39-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

A圖所示,扇出高并且end_point很分散,在高扇出情況中很常見,后端工具實現(xiàn)花費時間長,并且很難優(yōu)化,走線延時比較大,時序比較緊張。

B圖所示:扇出不高但是end_point很分散,后端工具實現(xiàn)花費時間教長,優(yōu)化有難度,走線延時比較大,時序比較緊張。

C圖所示, 扇出不高并且end_point集中,是理想情況,后端工具實現(xiàn)簡單,走線延時比較小。

IC設(shè)計RAM相關(guān):RAM讀寫沖突返回值

1、RAM讀寫沖突返回值

在使用底層RAM IP的時候,以1R1W的ram為例,我們需要考慮 某個地址同時發(fā)生讀寫操作的時候(俗稱讀寫沖突),RAM IP輸出的data_out是什么值,不同的廠家IP會不一樣,同一個廠家的不同ram也有可能不一樣。例如:發(fā)生讀寫沖突時,有些ram會輸出老值,有些ram會輸出新值,有些ram輸出不確定的值

2、從設(shè)計角度考慮RAM讀寫沖突返回值

從嚴謹?shù)脑O(shè)計角度看,應(yīng)該從方案設(shè)計角度避免此問題。在verilog實現(xiàn)中,ram就不允許發(fā)生同時讀寫同一個地址的情況,采用外部邏輯進行讀寫沖突保護。原因如下:

不同ram IP在讀寫沖突時,讀寫沖突返回值不一樣,容易出錯。

不同項目使用的工藝不一樣,從而導致ram ip讀寫沖突返回值不一致,不利于代碼復(fù)用。

IC設(shè)計RAM相關(guān):ECC校驗原理基礎(chǔ)

1、ECC校驗基礎(chǔ)

Ram的ECC校驗通常基于海明碼編碼原理實現(xiàn),使用海明碼編碼需要額外的bit位存儲校驗位,ECC校驗僅能糾正1bit的,無法糾正2bit以及以上數(shù)據(jù)錯誤,能發(fā)現(xiàn)部分多bit位錯誤的情況。

2、RAM ECC校驗實現(xiàn)原理

如圖所示為1r1w的ram為例,cfg_32x119_ram_wrapper為verilog代碼直接調(diào)用層次的ram_wrapper,表示了一個深度為32,數(shù)據(jù)位寬為119bit的ram。ram_asic.v為真實的ram IP。其中119bit的數(shù)據(jù)位寬緊張ECC計算需要7bit的校驗位,因此物理IP最少需要126bit的ram IP。通常memory產(chǎn)生工具會更具時鐘頻率,深度位寬等因素對ram進行切分,因此本例中,使用了2個32x64的ram ip。

在data_in寫入ram_asic模塊之前,會經(jīng)過ecc_gen模塊,產(chǎn)生7bit的ecc校驗位,隨著數(shù)據(jù)一同寫入ram_asic,其中data_in[63:0]寫入第一個ram_asic,{2’b0,ecc_in[6:0],data_in[118:64]}寫入第二個ram_asic。從ram_asic讀出的數(shù)據(jù)會經(jīng)過ecc_out模塊經(jīng)過ecc校驗,輸出校驗后的data_out[118:0]和2bit的ecc_err_out告警。

9460a03a-cb39-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

審核編輯:湯梓紅

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原文標題:IC設(shè)計知識點:高扇出的危害、RAM相關(guān)

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