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比較漏電起痕指數(shù)與工作電壓的關(guān)系

星星科技指導(dǎo)員 ? 來源:ADI ? 作者:ADI ? 2023-04-04 11:06 ? 次閱讀
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改進(jìn)比較漏電起痕指數(shù)允許更小的封裝實(shí)現(xiàn)高工作電壓。

隔離系統(tǒng)的最大工作電壓取決于符合IEC 60950的許多參數(shù)。這些包括爬電距離、污染程度和材料組。污染程度是表面污染的量度,由系統(tǒng)設(shè)定,典型值為2,但爬電距離和材料組取決于用于隔離元件的材料,如數(shù)字隔離器光耦合器。IEC 1中的表60950顯示了這些參數(shù)之間的關(guān)系。

工作電壓 V有效值
污染程度
1 2
3
材料組
一、二、三 第二 第三 第二 第三
基本絕緣
250 0.56 1.25 1.8 2.5 3.2 3.6 4.0
320 0.75 1.6 2.2 3.2 4.0 4.5 5.0
400 1.0 2.0 2.8 4.0 5.0 5.6 6.3
增強(qiáng)絕緣
250 1.12 2.5 3.6 5.0 6.4 7.2 8.0
320 1.5 3.2 4.4 6.4 8.0 9.0 10.0
400 2.0 4.0 5.6 8.0 10.0 11.2 12.6

為了在設(shè)計為400級污染的系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)2 V rms的工作電壓,隔離器需要4 mm的爬電距離,用于基本絕緣的III材料組。這加倍到 8 毫米,用于加強(qiáng)絕緣。為方便起見,其他工作電壓可以通過爬電距離之間的線性插值來確定(如表1所示)。

請注意,對于給定的工作電壓,如果可以改善材料組,則可以減小爬電距離;這使得設(shè)計人員能夠通過使用更小的封裝來節(jié)省空間,同時仍符合IEC 60950標(biāo)準(zhǔn)。

為了測量絕緣體的材料組,將0.1%的氯化銨溶液施加到材料上,并在絕緣體上施加電壓,允許電流流動。該材料的額定電壓最高,表面未形成碳軌道。此測試方法在IEC 60112中指定。表 2 顯示了一系列 CTI 電壓測量的材料組分類。

材料組 CTI [V有效值]
第一組 >600
第二組 400 到 600
第 III a 組 175 到 400
第 III 組 b 100 到 175

根據(jù)IEC 60112指南,IIIb是默認(rèn)材料組。然而,ADI公司(ADI)i耦合器產(chǎn)品封裝材料已經(jīng)過測試和證明,其CTI超過600 V rms,符合材料組I的要求。為簡單起見和防護(hù)帶,ADI為新產(chǎn)品指定了材料組II。例如,ADuM347x采用爬電距離為5.1 mm的SSOP封裝,材料組II,其額定最大工作電壓為360 V rms,可實(shí)現(xiàn)增強(qiáng)絕緣。如果將ADuM347x歸類為材料組III,則限制為僅250 V rms。

通過測量和指定i耦合器產(chǎn)品的CTI,ADI能夠提供外形更小的隔離器,而不會影響隔離能力。

審核編輯:郭婷

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