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淺析驗證的激勵生成流程

芯片驗證工程師 ? 來源:芯片驗證工程師 ? 2023-04-15 09:43 ? 次閱讀
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在定向測試用例中,我們就是在不同的時刻將“0”或者“1”驅(qū)動到接口總線上。如果我們希望提高這個總線操作的順序,會將相同的操作序列封裝成task(bfm model)。

在現(xiàn)代驗證環(huán)境中,激勵的生成要復雜得多,我們需要創(chuàng)建更真實的芯片外界環(huán)境。激勵生成的語言要更加抽象,我們需要

隨機某些字段

隨機某個數(shù)據(jù)驅(qū)動到接口的次數(shù)

在輸入數(shù)據(jù)流中注入錯誤

按照一定順序運行各種操作,同時并發(fā)運行其他操作

每一顆都會有相對固定的流程,所以激勵流程必須遵守這個流程才讓讓芯片正常work。但是這個事情并不簡單,當我們和設計溝通、當你讀規(guī)格或者使用手冊時會發(fā)現(xiàn)這個流程的驗證空間的復雜度非常爆炸。

問題越來越多,再怎么厲害的大腦也覺得復雜度不受控。

太多的選擇,太多的如果

事實上,“芯片的一天”也不是完全失控,其中會存在很多個基本的流程,復雜的事情都是在這個基本的流程下組合而來的。例如,芯片可能在復位后加載指令、執(zhí)行任務、等待中斷等等。

團隊中的每個工程師(設計和驗證)都應該知道這個基本流程。對于驗證來說,應該先從基本的流程開始測試,然后擴展到各種復雜的場景隨機用例。





審核編輯:劉清

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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原文標題:驗證的激勵生成流程

文章出處:【微信號:芯片驗證工程師,微信公眾號:芯片驗證工程師】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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