PT-5120差分探頭產(chǎn)品特性及其應用
PT-5120 4檔位衰減 X300, X600, X1500, X3000； 頻寬DC-20MHz（-3dB）, 超高工作電壓及超高工作頻率。
參數(shù)規(guī)格：
型號：PT-5120
頻寬（-3dB）：DC-20MHz
衰減比例：x300，x600，x1500，x3000
上升時間：17.5ns
精確度：±2%
輸入交流電壓（Vp-p）：20kV
輸入直流電壓：10kV
輸入阻抗：118MΩ//1.2pF
示波器輸入阻抗：1MΩ
噪聲（In 50Ω load）：≤2mV rms
尺寸：240*80*30 mm
產(chǎn)品特點：
20kV超高壓
差動輸入阻抗高達118MΩ
4個衰減比例，滿足不同要求，示波器可以直接測量。
選購PL-10轉(zhuǎn)接器可以在數(shù)位電表上測得更為精確的電壓值。
PT-5120，電壓20kVp-p，適用于測試高電壓訊號，衰減器x300，x600，x1500x3000根據(jù)不同量程選擇測試，BNC接口可兼容任何品牌示波器使用。
分離式設(shè)計，便捷攜帶
有源差分探頭可將任意間的兩點浮接信號，轉(zhuǎn)換成對地的信號，以供示波器、電表、或計算機使用，應用于大多數(shù)電路測試領(lǐng)域，尤其是電機電路測試。
應用：
強電或高壓隔離測量
電源轉(zhuǎn)換等相關(guān)設(shè)計
焊接、電鍍電源
變頻家電
電機驅(qū)動設(shè)計
CRT顯示器設(shè)計
低壓電器試驗
審核編輯黃宇
聲明：本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用，如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題，請聯(lián)系本站處理。
舉報投訴
-
探頭
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
1271瀏覽量
42672
發(fā)布評論請先 登錄
相關(guān)推薦
熱點推薦
差分探頭核心特性與應用場景深度解析
，當輸入等幅同相信號時輸出為零，從而實現(xiàn)共模噪聲的有效抑制。 一、技術(shù)特性與優(yōu)勢解析 卓越的抗干擾性能 差分探頭采用雙線耦合結(jié)構(gòu)設(shè)計，外界干擾以共模方式同時作用于兩條信號線，而接收端僅
高壓差分探頭與光電隔離探頭的電氣隔離特性對比分析
參考。 一、工作原理的物理本質(zhì)差異 高壓差分探頭技術(shù)特征 采用阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)配合衰減電路的設(shè)計架構(gòu)，通過精密電阻分壓網(wǎng)絡(luò)實現(xiàn)信號幅值轉(zhuǎn)換。其雙高阻抗輸入端（典型值≥1MΩ）可有效抑制共模
差分探頭的缺點剖析
在電子測量領(lǐng)域，差分探頭是一種常用的工具，用于精確測量兩個信號之間的差值。它在許多應用中發(fā)揮著關(guān)鍵作用，然而，如同任何測量設(shè)備一樣，差分
品致差分探頭與光隔離差分探頭的區(qū)別
差分探頭與光隔離差分探頭在電子測量領(lǐng)域都是重要的工具，但它們在工作原理、應用場景以及性能特點上存在顯著的差異。
Aigtek功率放大器經(jīng)驗分享：差分探頭和普通探頭的區(qū)別
功能的，此時我們就需要使用高壓差分探頭了，那么示波器的差分探頭和普通
差分探頭和普通探頭的差異
差分探頭和普通探頭在電氣測量領(lǐng)域具有顯著的區(qū)別，這些差異主要體現(xiàn)在工作原理、測量方式、性能特點、應用場景以及成本等方面。以下是對這兩種探頭差
差分探頭是否可以進行單端測量？
在電子測量領(lǐng)域，差分探頭因其優(yōu)異的抗干擾能力和高精度測量特性而被廣泛應用于差分信號的測量。然而，對于單端信號，是否可以使用
示波器高壓差分探頭什么作用
示波器高壓差分探頭是一種特殊的測量工具，主要用于測量高壓差分信號。它在電子測量領(lǐng)域具有重要的作用，尤其是在電力系統(tǒng)、通信系統(tǒng)、航空航天等領(lǐng)域。 一、高壓
是德科技KEYSIGHT差分探頭N2750A的使用步驟
探頭特點: KEYSIGHT是德N2750 1/2A差分探頭具有探頭快速操作按鈕、光亮、通道識別環(huán)和三種不同的可更換
品致差分探頭和泰克差分探頭的優(yōu)勢和特點分析
品致差分探頭和泰克差分探頭各有其獨特的優(yōu)勢和特點，選擇哪個更好主要取決于具體的應用場景、測試需求
高壓差分探頭和光隔離探頭有何區(qū)別，為什么非要選擇光隔離探頭?
光隔離探頭和高壓差分探頭在測試中有著不同的應用和特點，光隔離探頭具有高共模抑制比和最真實地呈現(xiàn)信號的全部特征，適合測試第三代半導體器件。相比
工商網(wǎng)監(jiān)
評論