上次在調(diào)試一塊電路板的硬件，拔電池很容易就會把充電IC損壞的問題，現(xiàn)在已經(jīng)找到了一個解決方法。就是在電池的正負極并了一個二極管，拔電池就沒有出現(xiàn)充電IC被損壞的情況了。

上次在分析充電IC損壞原因的時候，是這樣分析的。電感L2和二極管D17在這里構(gòu)成的是boost型的開關電源電路。當拔電池時，接電池這一側(cè)的電感PIN腳沒有續(xù)流二極管，沒有泄放回路，電感的感應電動勢比較大，從而把充電IC的管腳擊穿損壞。

但是，現(xiàn)在想想，上面的分析不是很對，說服力不夠，沒有數(shù)據(jù)支撐?，F(xiàn)在，我想從另外的角度，通過數(shù)學計算的方法，計算出具體的數(shù)據(jù)，來解釋充電IC被損壞的原因。

分析這個問題時，我們要分兩種情況來看。充電IC的8腳是Boost型的開關電源的SW節(jié)點，需要分SW節(jié)點斷開和閉合兩種情況來分析。

情況一：當拔電池時，SW節(jié)點剛好處于斷開的狀態(tài)，電路就等效成以下電路。

此時，電感對10uF和100nF電容充電，直到電感儲存的電能放完。

情況二：當拔電池時，SW節(jié)點剛好處閉合的狀態(tài)，電路就等效成以下電路。

此時，電路形成了一個無阻尼放電振蕩電路。那么可以根據(jù)阻尼振蕩的相關公式算出最大放電電流，由下圖所示。

由此可見，當拔電池時，電路剛好處于第二種情況，電路中的最大放電電流達到5.5A(當電池為4.2V時，最大電流達到6.3A)，全部流經(jīng)TP5400的第8腳。又由下圖的TP5400內(nèi)部集成電路，可以知第8腳是一個mos管的漏極，就是開關電源的開關管，集成到芯片上了。當這個MOS導通時，承受不了這么大的電流時，就會被損壞，出現(xiàn)短路現(xiàn)象。這么就可以解釋得通，為什么每次充電IC損壞，測量IC的第8腳都是短路的。

為什么在電池的正負極并了一個開關管后，拔電池充電IC就不會損壞了呢？因為并了二極管后，二極起了續(xù)流的作用，電路等效成以下電路。

二極管和電感構(gòu)成了回路，并且電感儲存的能量通過二極管快速消耗掉，所以不會對充電IC造成損害，也就是拔電池后，不會再出現(xiàn)充電IC被損壞的現(xiàn)象。

審核編輯：湯梓紅