在過去，大型生產(chǎn)環(huán)境和實驗室是進行研發(fā)的主要場所，這導致了市場上大多數(shù)都是全功能臺式設備。然而，如今越來越多的測試和驗證團隊正在尋找更便攜、更經(jīng)濟高效的解決方案，他們不需要復雜的GPIB布線和專用軟件。一般來說，如果沒有專業(yè)技術人員，自動測試設備（ATE）的調試會很困難，而現(xiàn)在，測試工程師可以體驗可連接常用軟件平臺API的編程組件的靈活性。

現(xiàn)狀

ATE可以是利用少量設備的簡單測試，也可以是大型復雜測試，包括探測站、氣動自動化、以及機器人自動化等。與傳統(tǒng)的半自動或手動測試相比，PC驅動的有源組件可以提供巨大的優(yōu)勢。

在射頻領域，矢量網(wǎng)絡分析儀（VNA）或頻譜分析儀等測試設備的接收端口數(shù)量有限，需要增加對設置的物理調整次數(shù)，以獲得全面測試被測多端口設備（DUT）所需的所有探測排列。所有這些測試設置排列不可避免地增加了成本和時間，例如，測試共有9個端口的8路RF交換機需要大量的測試迭代來收集全部81個S參數(shù)。如果沒有自動開關，該測試可能會耗費大量人力。通過預先編程的內部開關排列測試DUT的每個單獨S參數(shù)，標準VNA的2-4個端口足以在一次測試迭代中測試所有參數(shù)。

優(yōu)勢

常用的射頻組件包括移相器、射頻開關和數(shù)字衰減器，以及一些更復雜的測試設備，如VNA、信號發(fā)生器、脈沖發(fā)生器和功率計。通常，射頻組件需要對特定輸出進行手動控制，測試設備數(shù)據(jù)需要進行重新格式化，以便用于分析和共享數(shù)據(jù)。

例如，數(shù)字衰減器傳統(tǒng)上由晶體管-晶體管邏輯（TTL）控制，其中低電壓產(chǎn)生0的邏輯電平，高電壓產(chǎn)生1的邏輯電平。這些邏輯電平?jīng)Q定了數(shù)字衰減器中用于產(chǎn)生所需衰減的路徑。這種方法需要復雜的編程、TTL驅動程序和大量的互連。而類似虹科數(shù)字衰減器這樣的USB設備，可以消除這種復雜性。它的衰減級別可以直接編程，無需TTL連接，只需一個USB連接即可。

通常情況下，測試可能需要工程師監(jiān)控和調整各種各樣的輸出，以實現(xiàn)要求，跟蹤所有旋鈕、按鈕、適配器和插頭有時可能會容易出現(xiàn)人為錯誤。虹科提供了軟件平臺和操作指南，可以簡化測試流程，更容易在一個控制器、筆記本電腦或計算機上進行跟蹤，同時記錄和分析數(shù)據(jù)的能力有助于設計和測試工程師輕松評估DUT性能。

虹科提供可編程USB驅動的射頻儀器，它們具有圖形用戶界面（GUI）、Windows dll文件、Linux和labVIEW兼容的驅動程序。虹科提供的USB驅動的信號發(fā)生器、數(shù)字衰減器、RF開關和移相器等設備，幾乎可以成為任何自動測試設置的關鍵一環(huán)，小巧的尺寸也可以為那些電纜雜亂的測試環(huán)境提供更多的操作空間。

虹科HK-LDA906V-8數(shù)字衰減器是一種高精度、雙向、8通道階躍衰減器，它提供從200-6000MHz的校準衰減，步長為0.1dB，在90dB的控制范圍內，典型精度<0.25 dB。該數(shù)字衰減器是一種易于攜帶的USB供電設備，其尺寸適合ATE應用的單個機架單元，可以用于WiMAX、3G、4G、5G、LTE、DVB和微波無線電衰落模擬器，以及工程和生產(chǎn)測試實驗等領域。

特征

• 可靠且可重復的固態(tài)數(shù)字衰減
• 包括GUI、Windows和Linux SDK、LabVIEW驅動程序
• 可編程掃描衰減和衰減曲線
• 直接從PC或自供電集線器操作多臺設備
• 易于攜帶的USB供電設備
• 尺寸適合ATE應用的單個機架單元

應用

• WiMAX、3G、4G、5G、LTE、DVB、微波無線電衰落模擬
• 工程/生產(chǎn)測試
• 自動測試設備（ATE）