上海伯東 inTEST - Temptronic 高低溫循環(huán)測試機閃存溫度測試應用
閃存(Flash Memory)，是非揮發(fā)性內(nèi)存的一種，不需電力來維持數(shù)據(jù)的儲存，可分為 NOR Flash 以及 NAND Flash 兩種，前者用于儲存程序代碼，后者用于儲存數(shù)據(jù)。閃存應用范圍涵蓋汽車電子、因特網(wǎng)、存儲器、DSL 電纜調(diào)制解調(diào)器、數(shù)字電視、照相手機、藍芽、 GPS、工業(yè)電子…等等。

閃存溫度測試

原因為確保閃存可在極端溫度環(huán)境(例如: 油氣探勘、重工業(yè)以及航空領域)可正常實現(xiàn)穩(wěn)健的閃存讀／寫操作功能，因此在出廠前需要進行

溫度測試，inTEST - Temptronic ThermoStream 超高速高低溫循環(huán)測試機憑借可測試溫度 -100 ℃ 至 +300 ℃，每秒可快速升溫或降溫 18°C，溫度精度 +-1.0℃等優(yōu)勢廣泛應用于閃存制造行業(yè)。

上海伯東作為 inTEST中國地區(qū)總代理，全權負責其新品銷售和售后維修服務閃存溫度測試方法:

通過與愛德萬 (Advantest ) 內(nèi)存 IC 測試系統(tǒng)搭配之下，客戶可直接在極端溫度下測試閃存的運作特性。根據(jù)客戶實際要求，上海伯東推薦選用 inTEST ATS-545-M 高低溫循環(huán)測試機，并提供兩種溫度操作模式: Air mode 及 DUT mode閃存多采用 DUT mode 即 Device under test t模式來進行高低溫循環(huán)測式，將閃存與 inTEST ATS-545-M 使用 T type Thermocouple 相互連接，如此即可精確掌控受測物達到機臺所設定之溫度。閃存高低溫

測試方法同樣適合內(nèi)嵌式記憶體eMMC 溫度測試。

inTEST-Temptronic thermostream 高低溫測試機可與愛德萬 advantest，泰瑞達 teradyne，惠瑞捷 verigy 工程機聯(lián)用，進行芯片高低溫循環(huán)測試。

inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和Thermonics
Temptronic 創(chuàng)立于 1970 年，在 2000 年被 inTEST收購，成為在美國設立的超高速溫度環(huán)境測試機的首家制造商。而 Thermonics 創(chuàng)立于1976年，在 2012 年被 inTEST 收購，使 inTEST更強化高低溫循環(huán)測試以及溫度沖擊測試領域的實力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用嶄新的研發(fā)技術發(fā)展出獨創(chuàng)的溫度環(huán)境測試機，將 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合進化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速溫度環(huán)境測試系列產(chǎn)品。

上海伯東作為 inTEST中國總代理，全權負責inTEST新品銷售和售后維修服務。

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