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恒溫恒濕試驗箱等環(huán)境試驗設(shè)備的溫度和濕度控制注意事項-貝爾試驗箱

貝爾試驗箱 ? 2022-10-12 11:05 ? 次閱讀
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環(huán)境室內(nèi)精確的溫度和濕度控制是一個復雜的問題。要了解濕度控制的細微差別,必須了解精確溫度控制的重要性以及相對濕度讀數(shù)中“相對”的含義。

在ASHRAE 1993中發(fā)現(xiàn)了溫度控制在相對濕度計算中的重要性的一個很好的例子:在23°C和50%RH下,在12°C露點的恒定濕度含量[真實濕度測量]下,+1°C的短期溫度波動導致相對濕度讀數(shù)在47%到53%之間波動。 即使腔室中的真實水分含量沒有改變。

這是通過測量的空氣含水量相對于任何給定溫度(稱為干球溫度)下空氣的持水能力計算相對濕度的結(jié)果。

空氣越暖和,在相同體積的空間內(nèi),它可以保持的水分就越多,因此,通常,隨著溫度的升高,需要更多的水蒸氣來提升空氣的相對濕度。當空氣冷卻時,情況恰恰相反。由于這一事實,在85°C的干球溫度下,50%的相對濕度比在10°C的干球溫度下高出50%的濕度水平呈指數(shù)級增長。

在較低溫度下,相對濕度測量讀數(shù)受到每磅空氣中只有幾??偹趾孔兓挠绊?,而在明顯較高的溫度下,可能需要克水分才能改變相對濕度讀數(shù)。

穩(wěn)定性是濕度控制的關(guān)鍵

因此,在環(huán)境試驗設(shè)備中精確控制濕度的關(guān)鍵是穩(wěn)定性。穩(wěn)定后,典型的環(huán)境室控制公差為 +1°C 和 +5% 相對濕度。穩(wěn)定在工業(yè)中被定義為腔室內(nèi)部表面和被測單元(UUT)將溫度變化小于每小時2°C的點,并且外部或內(nèi)部的負載沒有變化(即門開口或UUT產(chǎn)生的變化熱負荷)。

當環(huán)境測試配置文件中需要溫度和/或濕度的恒定或間歇性變化引起的不穩(wěn)定時,環(huán)境室控制存在挑戰(zhàn)。這些通常被稱為循環(huán)曲線,它由特定序列中的“斜坡”和“浸泡”步驟的無限可變組合組成。

poYBAGMEaX-AV171AAJgd7c0EYI138.png恒溫恒濕試驗箱

斜坡步進可以在設(shè)定的時間段內(nèi)以線性速率同時向上或向下改變溫度,濕度或兩者。浸泡步驟在設(shè)定的時間段內(nèi)保持恒定的溫度和濕度設(shè)定值。在復雜的循環(huán)剖面中,腔室加熱、冷卻、加濕和除濕系統(tǒng)協(xié)同工作,基本上追逐難以捉摸的不斷變化的設(shè)定點。

正是在循環(huán)剖面過程中,由于有意引入不穩(wěn)定性,保持典型的穩(wěn)定性公差幾乎是不可能的。與較短時間內(nèi)的廣泛變化相比,短范圍和/或時間段內(nèi)的設(shè)定值變化產(chǎn)生的不穩(wěn)定性較小,這進一步影響了腔室精確控制不斷變化的變量的能力。這通常會導致溫度和/或濕度的短期振蕩超出穩(wěn)定控制容差的極限。

精確濕度控制的其他注意事項

當腔室機械系統(tǒng)從一種狀態(tài)更改為另一種狀態(tài)時,溫度和濕度控制可能會進一步受到干擾。例如,斜坡步驟可能需要在高溫/低濕度下運行的腔室在“x”分鐘的時間內(nèi)同時更改為低溫/高濕度。

與人們的想法相反,“冷卻”和“加濕”系統(tǒng)最初可能不需要運行,而是腔室控制系統(tǒng)簡單地減少了加熱和除濕輸出,允許腔室進行受控漂移,該漂移遵循溫度和濕度的移動設(shè)定點。

然而,在該斜坡步驟中的某個時刻,減少加熱和/或除濕無法提供追逐設(shè)定值所需的響應,并且控制器通過要求小而穩(wěn)定地增加冷卻和加濕輸出來為腔室冷卻和加濕系統(tǒng)提供能量。在這些轉(zhuǎn)換期間,溫度或濕度控制中的短期振蕩也很常見。

也可能存在周期性輪廓具有超過所用腔室容量的斜坡要求的情況,但這些要求通常與腔室容量有關(guān),而不是與控制有關(guān)。

腔室能力取決于所需的輪廓

總之,超出正常穩(wěn)定控制公差的短期振蕩很常見,并且在周期性剖面中是預期的。必須考慮周期性剖面的范圍、斜坡速率和復雜性。

除了在極少數(shù)情況下,這些短期振蕩對整個測試序列的質(zhì)量或合法性沒有負面影響,前提是溫度和濕度的最終設(shè)定值條件完全實現(xiàn),并且不超過所用腔室的能力。

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