聯(lián)訊儀器全新推出 PXIe 精密電源/測(cè)量單元 S2012C。其最小測(cè)量分辨率達(dá)10fA/100nV，輸出電壓高達(dá)±200V。進(jìn)一步拓展了PXIe源表的應(yīng)用場(chǎng)景，工程師可以使用 S2012C SMU(Source Measure Unit)來(lái)測(cè)量低電流信號(hào)，同時(shí)PXIe SMU 的高通道密度、高速的測(cè)試吞吐率和靈活性可實(shí)現(xiàn)晶圓級(jí)參數(shù)測(cè)試、材料研究以及分析低電流傳感器和集成電路的特性等多種應(yīng)用。

01 高精度

S2012C分辨率高達(dá)10fA/100nV，電壓精度100μV，電流精度10pA，可用于測(cè)量微小的泄漏電流等應(yīng)用場(chǎng)合，泄漏電流通常在pA級(jí)別，S2012C搭配3同軸測(cè)量端子，用于nA級(jí)以下小電流測(cè)試。

02 AdaptivePFC系統(tǒng)

用戶(hù)可利用Adaptive PFC(Precise-Fast Control)系統(tǒng)，用戶(hù)可根據(jù)負(fù)載特性，調(diào)整相關(guān)參數(shù)，獲得更精確，快速的輸出特性。

03 高速測(cè)量

S2012C 最高可支持1M的采樣率，NPLC和采樣率可根據(jù)需要設(shè)定，以滿(mǎn)足高速高精度的測(cè)量場(chǎng)景。

04 構(gòu)建多通道并行測(cè)試系統(tǒng)

基于PXIe的模塊化架構(gòu)便于構(gòu)建緊湊的并行多通道測(cè)試系統(tǒng)，可擴(kuò)展至數(shù)百個(gè)通道來(lái)滿(mǎn)足晶圓級(jí)可靠性和并行測(cè)試需求。

05 直流I-V輸出能力

06 脈沖I-V輸出能力

聯(lián)訊儀器源表系列產(chǎn)品：

聯(lián)訊儀器SMU具有簡(jiǎn)單易用的圖形用戶(hù)界面、豐富的功能和特征，有助于輕松快速地進(jìn)行測(cè)量，可通過(guò)USB 和 LAN 接口進(jìn)行遠(yuǎn)程控制。

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