01

缺陷檢測速度：

高速產(chǎn)線質(zhì)量保障的關(guān)鍵

“當(dāng)缺陷檢出精度達(dá)標(biāo)時，

拼的就是速度?！?/strong>

——視覺系統(tǒng)項目楚經(jīng)理

“2023年，即使AI檢測方案已日漸完善，我們有時還是會選用傳統(tǒng)算法的檢測方案，關(guān)鍵就在于要適應(yīng)高速產(chǎn)線。像我們經(jīng)手的項目，3C產(chǎn)品（LED、電容、電感等）找缺陷時間普遍就給5毫秒，磁材產(chǎn)線速度普遍要求10毫秒。如果檢測效果都能達(dá)到產(chǎn)線對于過殺和漏殺的要求，那我們選型時重點關(guān)注的就是缺陷檢測的效率?！?/p>

“如果缺陷檢出速度提升1倍，

利潤就能提升25%。”

——視覺工程師趙工

“我們一個機(jī)臺每天跑料約1萬個，之所以不是2萬個，除了固有硬件的限制，還受制于算法速度這一塊，AI算法時間占50%，如果AI推理速度提升一倍，那利潤就提升25%?！?/p>

“高價采購顯卡，

不是長久之計?！?/strong>

——自動化部門牛經(jīng)理

“我們要跟上產(chǎn)線的節(jié)拍要求，就必須要部署3080ti以上顯卡，這個成本是現(xiàn)階段的痛點之一。”

02

提高缺陷檢測速度面臨多重挑戰(zhàn)

提高缺陷檢測速度是適應(yīng)高速產(chǎn)線節(jié)拍的重要嘗試，但是它同時受到多重因素的制約。

提升質(zhì)檢精度、適應(yīng)產(chǎn)線節(jié)拍、控制質(zhì)檢成本是工廠需要權(quán)衡的三大核心要素，如何實現(xiàn)三足鼎立的平衡之道是產(chǎn)線降本增效的關(guān)鍵課題。

業(yè)界中常見的解決方案可能會優(yōu)先保證其中一個或兩個要素，以達(dá)到降本增效的目的。

*工廠降本增效的三大核心要素

如果優(yōu)先保證高精度、低成本

采用低配置顯卡也可精確檢測出產(chǎn)品缺陷，但這可能造成檢測速度跟不上產(chǎn)線節(jié)拍，為保證產(chǎn)品質(zhì)量只得降低產(chǎn)線速度，導(dǎo)致生產(chǎn)進(jìn)度緩慢。

如果優(yōu)先保證快節(jié)拍、低成本

壓縮待檢測圖片的尺寸，即使搭配性能較低的顯卡也可達(dá)到快速檢出缺陷的目的，但這也將導(dǎo)致檢測精度偏低，無法檢出微小尺寸缺陷，漏檢率偏高。

如果優(yōu)先保證快節(jié)拍、高精度

使用高配置顯卡和工業(yè)相機(jī)，以適應(yīng)高速產(chǎn)線的節(jié)拍，并提升缺陷檢測的速度，但硬件成本高，可能影響收支平衡，導(dǎo)致投入產(chǎn)出比降低。

同時保證，快節(jié)拍、高精度、低成本的方案有沒有？

有的！

阿丘科技團(tuán)隊積極聆聽用戶反饋，歷經(jīng)數(shù)輪迭代，完成了AIDI的優(yōu)化升級。

缺陷檢測速度再次提升30%

并且依舊能夠保證微小缺陷的精準(zhǔn)檢出，檢測指標(biāo)全線達(dá)標(biāo)，滿足用戶需求，實現(xiàn)快、準(zhǔn)、穩(wěn)。

擅長更小缺陷檢測

待檢測的圖像尺寸大小與缺陷檢測速度成反比。阿丘科技擅長小缺陷檢測，對圖像大小要求較低，因此缺陷檢測速度更快。無需采購高像素的工業(yè)相機(jī)和高配置的顯卡，也可輕松檢出圖中的細(xì)小缺陷。

更高效的底層算法

阿丘科技算法底層針對工業(yè)圖像大分辨率的特點設(shè)計算法，同時針對性自研底層算法框架，優(yōu)化內(nèi)存結(jié)構(gòu)和算子實現(xiàn)，快于現(xiàn)有主流深度學(xué)習(xí)框架。

更豐富的落地經(jīng)驗

阿丘科技通過多年項目實戰(zhàn)經(jīng)驗的積累和沉淀，結(jié)合成熟的落地方法論，完成了對檢測流程的簡化，能夠合理分配顯卡算力，重點把控關(guān)鍵缺陷，實現(xiàn)高精度檢測目標(biāo)。

AIDI各功能的極速推理

*以AIDI布匹表面缺陷檢測為例

AI推理速度將直接影響產(chǎn)線上的缺陷檢測速度，AIDI在保證檢測效果的同時，做到了各功能模塊的AI極速推理。

軟件版本：AIDI 2.4

顯卡配置：RTX3060

圖片尺寸（單位：像素）2448*2048

03

經(jīng)典案例分享：

新能源光伏AI缺陷檢測項目

光伏行業(yè)單臺分選機(jī)普遍入門門檻要求是每小時檢測完成8,000片，一般是要完成10,000片可以在行業(yè)有不錯的競爭力，而12,000片/時的檢測速度在業(yè)內(nèi)屬于鳳毛麟角般的存在。

項目需求

用8K線掃相機(jī)采圖，待檢產(chǎn)品尺寸是210mm*210mm，要求檢出最小缺陷尺寸為0.14mm*0.14mm。同時，還要保證明顯缺陷漏檢為0%，其他缺陷漏檢<0.1%，過檢<1%。

項目難點

缺陷檢測速度要求嚴(yán)苛，預(yù)留給單張圖像的處理時間只有160ms。

項目成果

導(dǎo)入AIDI后，在滿足項目需求的前提下，完成了產(chǎn)線速度從8000片/時到12,000片/時的突破，且將顯卡成本控制在了理想范圍內(nèi)。

04

下一步

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