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高性能超導(dǎo)相變邊緣單光子探測(cè)器助力天文觀測(cè)

MEMS ? 來源:MEMS ? 2023-06-25 09:20 ? 次閱讀
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超導(dǎo)相變邊緣探測(cè)器TES)具有極高的探測(cè)靈敏度,在可見光/近紅外波段具有光子數(shù)分辨能力,在X射線等高能波段能量分辨率極高。與前述的半導(dǎo)體探測(cè)器(硅基CCD、InSb、HgCdTe等)比較,超導(dǎo)TES探測(cè)器的探測(cè)效率更高,響應(yīng)速度更快,暗計(jì)數(shù)更低,能量分辨率更高,在可見光/近紅外時(shí)域天文觀測(cè)中具有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。

據(jù)麥姆斯咨詢報(bào)道,近期,中國(guó)科學(xué)院紫金山天文臺(tái)和中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)天文與空間科學(xué)學(xué)院的聯(lián)合科研團(tuán)隊(duì)在《光子學(xué)報(bào)》期刊上發(fā)表了以“高性能超導(dǎo)相變邊緣單光子探測(cè)器(特邀)”為主題的文章。該文章第一作者為李佩展,通訊作者為張文研究員和史生才院士,張文主要從事太赫茲超導(dǎo)熱電子混頻器(HEB)技術(shù)、太赫茲超導(dǎo)相變邊緣探測(cè)器(TES)技術(shù)、超導(dǎo)相變邊緣單光子探測(cè)器技術(shù)、超導(dǎo)TES探測(cè)器陣列多路復(fù)用讀出技術(shù)的研究工作。

本文詳細(xì)研究了鈦膜的特性調(diào)控機(jī)制,拓展了二流體模型獲得了超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器的關(guān)鍵參數(shù)。進(jìn)一步優(yōu)化了光學(xué)腔體的設(shè)計(jì)和器件制備工藝,并改進(jìn)測(cè)量系統(tǒng),從而成功研制出了高性能超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器,系統(tǒng)探測(cè)效率超過90%,最低能量分辨率僅為0.26 eV,滿足時(shí)域天文觀測(cè)和量子信息領(lǐng)域的應(yīng)用需求。

超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器的工作原理

如圖1(a)所示,超導(dǎo)相變邊緣探測(cè)器是一種熱探測(cè)器,由吸收體(熱容C)、弱熱連接(熱導(dǎo)G)和熱沉(溫度Tb)組成。當(dāng)吸收能量為Eγ的入射光子后,超導(dǎo)TES探測(cè)器的電子溫度(T)升高。超導(dǎo)TES探測(cè)器恒壓偏置在超導(dǎo)轉(zhuǎn)變區(qū),電子溫度的變化引起超導(dǎo)TES電阻R(T,I)的變化,進(jìn)而流經(jīng)TES的電流(I)發(fā)生改變。經(jīng)超導(dǎo)量子干涉儀(SQUID)電流放大器放大后,由室溫電子學(xué)讀出,可獲得入射光子的能量。

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圖1 超導(dǎo)TES探測(cè)器的原理圖和照片

可見光/近紅外波段的超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器結(jié)構(gòu)如圖1(b)所示,吸收體和溫度計(jì)為同一層超導(dǎo)薄膜,通過電子-聲子之間的弱相互作用實(shí)現(xiàn)弱熱連接的同時(shí)可以降低熱容從而提高?EFWHM。為此,一般選擇低臨界溫度(TC<1K)的超導(dǎo)材料,如單層鎢、單層鈦或者鈦金雙層膜等,直接在介質(zhì)基板上制備一層超導(dǎo)薄膜,通過剝離或者刻蝕工藝形成小面積的有效區(qū)域,最后利用更高臨界溫度的超導(dǎo)材料(如鋁或者鈮)形成電極。

超導(dǎo)鈦膜的特性調(diào)控

采用電子束蒸發(fā)在單晶硅基板上制備超導(dǎo)鈦膜,測(cè)量其應(yīng)力、面電阻(RS)及TC。所有樣品都表現(xiàn)出壓應(yīng)力,并且隨著沉積速率的增加壓應(yīng)力逐漸減小。當(dāng)沉積速率高于1 nm/s時(shí),壓應(yīng)力基本上保持不變。RS隨著沉積速率增加而降低,當(dāng)沉積速率超過0.1 nm/s后RS基本保持不變。因此,研制超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器時(shí)沉積速率選擇為1~1.5 nm/s。

超導(dǎo)鈦膜的TC和RS具有很強(qiáng)的厚度(d)相關(guān)性。隨著厚度的增加TC升高,RS降低。但是這兩個(gè)參數(shù)還受其他因素的影響,導(dǎo)致數(shù)據(jù)呈現(xiàn)出一定的離散性。如圖2所示,擬合曲線與實(shí)測(cè)結(jié)果完全吻合,dTC隨著RS的增加而減小。據(jù)此可以預(yù)計(jì)鈦膜的臨界溫度有助于改進(jìn)鈦膜TC的控制精度并提高制備工藝的一致性和重復(fù)性。

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圖2 制備的超導(dǎo)鈦膜dTC隨RS的變化曲線

針對(duì)制備好的超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器,為了精確調(diào)控其TC從而實(shí)現(xiàn)高能量分辨率,本文提出了一種烘烤后處理工藝:將樣品置于常規(guī)烤箱中,在設(shè)定的溫度下烘烤。通過高溫烘烤,鈦膜表面會(huì)氧化從而降低有效厚度,致使TC降低。進(jìn)一步定量研究了烘烤對(duì)Ti膜和TiAu雙層膜TC的調(diào)控作用:1)固定烘烤溫度(Tbaking),2)固定烘烤時(shí)間(tbaking)。如圖3所示,Ti膜和TiAu雙層膜的TC隨著烘烤溫度和烘烤時(shí)間的增加而逐漸降低。

透射電子顯微鏡觀察發(fā)現(xiàn)烘烤后TiOx層的厚度略大于烘烤前,而且能量色散X射線譜表明烘烤后的氧峰寬度略大于烘烤前,表明鈦膜表面由于烘烤而氧化。氧化層并不超導(dǎo),其厚度為2~5 nm,對(duì)吸收的影響可以忽略不計(jì)。此外,Ti膜和TiAu雙層膜的常溫電阻基本保持不變,但是TC隨著時(shí)間自然老化而降低,其變化規(guī)律與隨烘烤時(shí)間降低類似。該研究提供了一種靈活方便的方法實(shí)現(xiàn)光子數(shù)可分辨的高效率超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器。

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圖3 Ti膜和TiAu雙層膜臨界溫度隨烘烤時(shí)間和烘烤溫度的變化曲線

超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器的傳熱機(jī)制及建模

制備了超小有效面積(1 μm×1 μm)的超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器,表征其電/熱特性。實(shí)測(cè)G和估計(jì)的τeff表明除了聲子擴(kuò)散制冷機(jī)制之外,電子擴(kuò)散制冷機(jī)制也具有很大的貢獻(xiàn)。超小面積的超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器具有高靈敏度、快速和低熱容的特點(diǎn),適合于天文觀測(cè)中的功率探測(cè)和要求光子數(shù)分辨能力的量子信息等領(lǐng)域。

將相滑移系數(shù)近似為連續(xù)變化的參數(shù)從而拓展二流體模型,成功提取了超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器的α和β(如圖4(a)所示),計(jì)算的電流-電壓曲線和脈沖響應(yīng)曲線與實(shí)測(cè)結(jié)果完全吻合,證明了拓展二流體模型的有效性。在此基礎(chǔ)上,表征了不同尺寸的超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器的主要參數(shù),并分析了其主要參數(shù)的變化規(guī)律。考慮了其他噪聲對(duì)能量分辨率的貢獻(xiàn),引入噪聲因子(M),理論計(jì)算了超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器的?EFWHM,獲得了?EFWHM與器件尺寸和TC的相關(guān)性。如圖4(b)所示,表明器件尺寸為20 μm×20 μm,TC低于170 mK可以同時(shí)獲得高探測(cè)效率和高?EFWHM,為后續(xù)優(yōu)化器件指明了方向。

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圖4 超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器的溫度和電流靈敏度系數(shù)及能量分辨率

1550 nm波段高性能超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器

制備了基于鈦膜的超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器,表征了其電阻轉(zhuǎn)變特性和電流-電壓特性。實(shí)測(cè)的G與有效面積成正比。

為了獲得超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器的高吸收效率從而實(shí)現(xiàn)高探測(cè)效率,在超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器研制中需要集成光學(xué)腔體。光學(xué)腔體由介質(zhì)反射鏡、超導(dǎo)薄膜和防反射層組成。各層薄膜尤其是鈦膜折射率的精確值對(duì)于設(shè)計(jì)光學(xué)腔體尤為重要。我們采用光學(xué)橢偏儀研究了超導(dǎo)鈦膜的折射率及其在整個(gè)基板上的分布均勻性。發(fā)現(xiàn)超導(dǎo)鈦膜在光學(xué)波段的折射率與文獻(xiàn)一致,但在近紅外波段折射率隨著波長(zhǎng)依然緩慢增加。此外,在硅基板上制備的超導(dǎo)鈦膜一致性較好,但是表面形成約3 nm厚的氧化層。在此基礎(chǔ)上設(shè)計(jì)了1550 nm波段的光學(xué)腔體。如圖5(a)所示,介質(zhì)反射鏡和防反射層分別由8個(gè)周期和2個(gè)周期的SiO?和Ta?O?交替堆疊組成。介質(zhì)反射鏡每層的厚度為1/4波長(zhǎng),而防反射層每層的厚度通過優(yōu)化確定,保證在1550 nm波長(zhǎng)的高效吸收。測(cè)量結(jié)果表明集成光學(xué)腔體后吸收效率達(dá)(ηabsorption)到95%。隨后研制了集成1550 nm光學(xué)腔體的超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器。鍍防反射層后,G降低為60 pW/K,實(shí)測(cè)的τeff為5.9 μs,系統(tǒng)能量探測(cè)效率達(dá)到40%。

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圖5 1550 nm波段超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器的光學(xué)腔體和響應(yīng)高度直方圖

進(jìn)一步優(yōu)化并制備了1550 nm光學(xué)腔體,精確控制各層薄膜的厚度,ηabsorption超過95%。同時(shí)將鈦膜的厚度降低到22 nm,器件尺寸為20 μm×20 μm,遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于單模光纖的光斑,保證耦合效率接近100%。在此基礎(chǔ)上,進(jìn)一步優(yōu)化了超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器的測(cè)試系統(tǒng),增加了光纖屏蔽,并在低溫下將光纖繞成直徑為35 mm的圓圈(圈數(shù)為10),形成長(zhǎng)波濾波器,阻止紅外光輻射。選擇小尺寸器件(5 μm×5 μm),提高超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器的電流響應(yīng)率,ΔEFWHM僅為0.26 eV,系統(tǒng)探測(cè)效率為36%,暗計(jì)數(shù)為4±2 cps,同樣可分辨至少12個(gè)1550 nm光子,從而實(shí)現(xiàn)了低暗計(jì)數(shù)的超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器。

可見光波段超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器

在超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器制備過程中集成了850 nm光學(xué)腔體,鈦膜厚度為53 nm,成功研制了可見光波段的超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器。器件TC為400 mK,正常態(tài)電阻(Rn)為13 Ω。通過紅外顯微鏡和精密二維移動(dòng)平臺(tái)實(shí)現(xiàn)SM800單模光纖(模場(chǎng)直徑為5.6 μm)與超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器的精確對(duì)準(zhǔn)。采用脈沖激光器作為光源,通過光衰減器將每個(gè)脈沖中的光子數(shù)衰減到小于一個(gè)光子,利用數(shù)字示波器記錄響應(yīng)波形。在300 mK環(huán)境溫度,器件偏置在0.74Rn,對(duì)應(yīng)單光子、雙光子和三光子的情況分別記錄了響應(yīng)波形。如圖6(a)所示,響應(yīng)高度隨著光子數(shù)的增加而升高,表明超導(dǎo)TES探測(cè)器具有光子數(shù)分辨能力。隨后利用數(shù)據(jù)采集卡采集信號(hào)高度,對(duì)響應(yīng)高度進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析得到響應(yīng)高度分布直方圖。結(jié)果表明器件工作在300 mK,ΔEFWHM為0.75 eV,ηsys為13%,至少可以分辨10個(gè)850 nm光子。研制的850 nm波段超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器提供給中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院光學(xué)與激光計(jì)量科學(xué)研究所,應(yīng)用于具有光子數(shù)分辨能力的單光子輻射基準(zhǔn)測(cè)量裝置(如圖6(b)所示),服務(wù)于光子精密測(cè)量與光輻射計(jì)量基準(zhǔn)技術(shù)研究。

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圖6 超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器的多光子響應(yīng)及單光子輻射基準(zhǔn)測(cè)量裝置

結(jié)論

高靈敏度超導(dǎo)探測(cè)器是天文研究的重要探測(cè)器之一。在可見光/近紅外波段,超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器在探測(cè)效率、能量分辨率、可分辨光子數(shù)、暗計(jì)數(shù)等方面具有明顯的優(yōu)越性,在研究微弱天體信號(hào)源和快速時(shí)變?cè)捶矫婵梢宰畲笙薅鹊孬@取光子信息。我們?cè)敿?xì)研究了鈦膜的特性和臨界溫度調(diào)控機(jī)理,拓展了二流體模型提取了超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器的關(guān)鍵參數(shù),理論計(jì)算了臨界溫度與能量分辨率的依存性。在此基礎(chǔ)上,集成光學(xué)腔體并研制了基于鈦膜的超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器,系統(tǒng)探測(cè)效率大于90%,可分辨至少10個(gè)1550 nm光子。研制的超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器響應(yīng)時(shí)間為微秒量級(jí),可滿足高時(shí)間分辨天文觀測(cè)的需求。未來將研制超導(dǎo)TES單光子探測(cè)器陣列滿足天文觀測(cè)成像需求,同時(shí)為量子信息、生物成像、光子精密測(cè)量等領(lǐng)域提供高靈敏度的探測(cè)手段。

這項(xiàng)研究獲得國(guó)家重點(diǎn)研發(fā)計(jì)劃(2017YFA0304003、2020YFC2201703)、國(guó)家自然科學(xué)基金(U1831202、U1731119、U1931123、11773083、11873099)、中科院項(xiàng)目(XPB2303、QYZDJ-SSWSLH043、GJJSTD20180003)和江蘇省333工程(BRA2020411)的資助和支持。




審核編輯:劉清

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原文標(biāo)題:高性能超導(dǎo)相變邊緣單光子探測(cè)器助力天文觀測(cè)

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    中國(guó)科學(xué)院上海微系統(tǒng)所李浩、尤立星團(tuán)隊(duì),利用三明治結(jié)構(gòu)超導(dǎo)納米線、多線并行工作的方式實(shí)現(xiàn)最大計(jì)數(shù)率5GHz、光子數(shù)分辨率61的超高速、光子數(shù)可分辨光量子探測(cè)器,相關(guān)成果以
    的頭像 發(fā)表于 11-13 10:30 ?1.1w次閱讀
    上海微系統(tǒng)所研發(fā)出超高速<b class='flag-5'>光子</b>數(shù)可分辨光量子<b class='flag-5'>探測(cè)器</b>

    使用光子探測(cè)技術(shù)設(shè)計(jì)的數(shù)字混沌激光雷達(dá)系統(tǒng)

    混沌激光雷達(dá)具有分辨率高、抗干擾和隱蔽性強(qiáng)的優(yōu)點(diǎn),然而受限于混沌光源的功率、線性探測(cè)器的靈敏度以及硬件帶寬,其在遠(yuǎn)距離探測(cè)方面存在瓶頸。另外,光子
    的頭像 發(fā)表于 11-13 09:11 ?1.1w次閱讀
    使用<b class='flag-5'>單</b><b class='flag-5'>光子</b><b class='flag-5'>探測(cè)</b>技術(shù)設(shè)計(jì)的數(shù)字混沌激光雷達(dá)系統(tǒng)

    超導(dǎo)納米線延遲線光子成像器件進(jìn)展及應(yīng)用

    光子成像技術(shù)通過對(duì)每個(gè)光子攜帶的時(shí)空信息進(jìn)行探測(cè),實(shí)現(xiàn)對(duì)物體圖像的重構(gòu)?;?b class='flag-5'>超導(dǎo)納米線的
    的頭像 發(fā)表于 10-22 14:48 ?776次閱讀
    <b class='flag-5'>超導(dǎo)</b>納米線延遲線<b class='flag-5'>單</b><b class='flag-5'>光子</b>成像器件進(jìn)展及應(yīng)用

    光電探測(cè)器選型噪聲問題

    檢測(cè)及其放大器的噪聲特性決定。任何光學(xué)探測(cè)器系統(tǒng)中都有三個(gè)主要的噪聲源:光子相關(guān)的散粒噪聲、探測(cè)器暗噪聲和放大器噪聲。前兩個(gè)與探測(cè)器有關(guān)。
    的頭像 發(fā)表于 10-12 06:30 ?1031次閱讀
    光電<b class='flag-5'>探測(cè)器</b>選型噪聲問題

    VirtualLab:通用探測(cè)器

    摘要 通用探測(cè)器是VirtualLab Fusion中來評(píng)估和輸出電磁場(chǎng)任何信息的最通用工具。它能夠提供不同域(空間域和空間頻域)和坐標(biāo)系(場(chǎng)與探測(cè)器位置坐標(biāo)系)的信息。此外,通過使用非常靈活的內(nèi)置
    發(fā)表于 08-06 15:20