可測試性設(shè)計（Design for Test，DFT）和可檢驗性設(shè)計（Design for Inspection，DFI）是兩種用于增強產(chǎn)品的測試和檢驗?zāi)芰Φ脑O(shè)計方法。下面是它們的區(qū)別與聯(lián)系，包括維基百科的定義：

可測試性設(shè)計（Design for Test，DFT）：

定義：可測試性設(shè)計是指在產(chǎn)品設(shè)計階段考慮到產(chǎn)品測試的需求，并采取相應(yīng)的設(shè)計措施，以提高產(chǎn)品的測試效率和可靠性。

區(qū)別：

目的：可測試性設(shè)計的主要目的是確保產(chǎn)品在制造過程中和使用中能夠進(jìn)行有效的測試，并能夠檢測和診斷出潛在的故障或缺陷。

設(shè)計方案：可測試性設(shè)計通過在產(chǎn)品設(shè)計中引入測試接口、測試點、測試電路等特性，以便測試人員能夠準(zhǔn)確、可靠地執(zhí)行產(chǎn)品測試。

可檢驗性設(shè)計（Design for Inspection，DFI）：

定義：可檢驗性設(shè)計是指在產(chǎn)品設(shè)計階段考慮到產(chǎn)品的檢驗需求，并采取相應(yīng)的設(shè)計措施，以提高產(chǎn)品的檢驗效率和可靠性。

區(qū)別：

目的：可檢驗性設(shè)計的主要目的是確保產(chǎn)品在制造過程中能夠進(jìn)行有效的檢驗，并能夠發(fā)現(xiàn)潛在的制造缺陷或質(zhì)量問題。

設(shè)計方案：可檢驗性設(shè)計通過在產(chǎn)品設(shè)計中考慮到檢驗的要求，包括易于觀察、易于測量、易于判定等因素，以便檢驗人員能夠有效地執(zhí)行產(chǎn)品的檢驗和質(zhì)量控制。

聯(lián)系：

DFT和DFI都是在產(chǎn)品設(shè)計階段考慮到測試和檢驗的需求，以提高產(chǎn)品的測試和檢驗效率。

DFT和DFI的目標(biāo)都是為了提高產(chǎn)品的質(zhì)量、可靠性和制造效率。

DFT和DFI的設(shè)計措施可以互相補充，共同促進(jìn)產(chǎn)品的測試和檢驗?zāi)芰Α?/p>

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