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2023高速接口發(fā)展

與技術(shù)論壇

產(chǎn)品從開發(fā)到最后的驗(yàn)證，每一個階段都會面臨回溯的要求，從而能夠快速發(fā)現(xiàn)和解決我們在產(chǎn)品設(shè)計(jì)中遇到的問題，但在這個過程中，因?yàn)檫@樣或那樣的原因，往往會忽略測試點(diǎn)的問題，從而無法實(shí)現(xiàn)問題的回溯。如何在研發(fā)的每個階段設(shè)置測試點(diǎn)，是研發(fā)周期的一項(xiàng)重要任務(wù)。

同時(shí)，在產(chǎn)品的開發(fā)周期中會面臨不同的場景，包括芯片的測試驗(yàn)證，封裝完之后的器件驗(yàn)證，傳輸通道的驗(yàn)證，接口一致性驗(yàn)證等等，在這些不同的場景中，需要不同的連接方法，如何確保連接的正確性以及去除影響連接的因素，本次論壇講座將從細(xì)節(jié)出發(fā)，基于常見的測試驗(yàn)證場景，分享測試儀表與被測件無縫觸及的經(jīng)驗(yàn)。

線上講座概要

演講主題

■ 高速測試場景中的儀表連接挑戰(zhàn)

■不同環(huán)境測試連接考量 - 芯片、傳輸線(PCB)、接口等

■ 測試連接中的那些事：共性問題分享

演講嘉賓

奚斌宏（羅森伯格 測試測量產(chǎn)品經(jīng)理）

宋新洋（中科睿華 技術(shù)部經(jīng)理）

楊東亮（安立公司 高級工程師）

郭峰（泰克科技 高級應(yīng)用工程師）

時(shí)間與地點(diǎn)

時(shí)間：2023年6月28日（周三）14:00~16:00

14:00—15:30演講環(huán)節(jié)

15:30—16:00問答環(huán)節(jié)

（聽講并填寫問卷有機(jī)會獲得精美禮品）

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