IC老化座測試座使用時間長了之后肯定會有一些灰塵和污垢,從而影響客戶的測試老化。那么我們應(yīng)該如何進行清潔呢?
1、首先,把IC老化測試座翻蓋打開,接著倒放在超聲波清潔器內(nèi)。
2、然后,在超聲波清潔器內(nèi)倒入適量的酒精,酒精的份量以把整個座頭浸沒為佳,并打開超聲波清潔器開關(guān),開始進行清洗工作,大概十分鐘之后(如果老化測試座比較臟,清洗時間可以適當延長),把超聲波清潔器開關(guān)關(guān)掉,用鑷子把座頭取出。
3、最后用風筒把IC老化座或是測試座徹底吹干。
凱智通微電子的IC老化測試座均采用優(yōu)質(zhì)材料原廠精工生產(chǎn),采用翻蓋或是下壓彈片、探針結(jié)構(gòu),探針為良好電氣導(dǎo)通性能的優(yōu)質(zhì)鈹金測試針,芯片定位快捷準確,再結(jié)合性能良好的歐式插針,經(jīng)久耐用。良好的日常保養(yǎng)與維護,不僅有利于保證長期處于“完好”狀態(tài),而且還可延長使用壽命。因此必須按要求進行認真而有效的日常保養(yǎng)。
IC老化測試座主要用于航空航天、軍工、科研單位以及集成電路生產(chǎn)企業(yè),可配進口老化臺、老化板做器件及高、低溫測試、老化篩選作連接的使用。
審核編輯黃宇
聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。
舉報投訴
相關(guān)推薦
答案:會 。在PCS(電力轉(zhuǎn)換系統(tǒng))老化測試過程中,由于電力電子器件的高頻開關(guān)和電流變化,必然會產(chǎn)生一定強度的磁場。以下從產(chǎn)生原理、影響因素、測試場景及防護措施等角度展開分析: 一、磁場產(chǎn)生的核心
發(fā)表于 03-24 17:49
?179次閱讀
持久續(xù)航保駕護航。
一、充電樁老化負載研究:模擬“實戰(zhàn)”,挑戰(zhàn)極限
充電樁老化負載研究,并非簡單的“插拔測試”,而是通過模擬高溫、高濕、高海拔等惡劣環(huán)境,以及頻繁啟停、過載運行等極端工況,對充電樁進行
發(fā)表于 02-28 14:42
交流回饋老化測試負載是一種用于模擬真實環(huán)境下設(shè)備運行狀態(tài)的測試工具,主要用于檢測設(shè)備的耐久性和穩(wěn)定性。以下是關(guān)于交流回饋老化測試負載的詳細介
發(fā)表于 02-24 17:54
?265次閱讀
選擇適合的交流回饋老化測試負載是一個涉及多個因素的決策過程,需要綜合考慮設(shè)備的特性、測試需求以及預(yù)算等因素。以下是一些建議:
明確測試需求:首先,要明確你的
發(fā)表于 01-14 09:31
在科技日新月異的今天,逆變器作為電力轉(zhuǎn)換的核心設(shè)備,其重要性不言而喻。然而,你是否知道,在評估逆變器性能與壽命的老化測試中,是否帶負載進行測試,竟成了業(yè)界爭論的熱點?為何帶負載測試如此
發(fā)表于 01-06 18:10
?533次閱讀
芯片老化試驗是一種對芯片進行長時間運行和負載測試的方法,以模擬芯片在實際使用中的老化情況。1.目的:芯片老化試驗的目的是評估芯片在長時間使用和負載情況下的可靠性和性能穩(wěn)定性,以確定其壽
發(fā)表于 11-23 01:02
?1967次閱讀
在科研與工業(yè)生產(chǎn)中,了解材料在長時間自然環(huán)境下的老化性能至關(guān)重要。為了快速準確地模擬這一過程,臭氧老化試驗箱應(yīng)運而生。這款設(shè)備以其獨特的功能和高效的測試能力,成為了材料科學研究與質(zhì)量控制領(lǐng)域不可或缺
發(fā)表于 11-21 09:53
?353次閱讀
LED(發(fā)光二極管)因其高效能和長壽命,廣泛應(yīng)用于照明、顯示和信號等領(lǐng)域。然而,為了確保LED在實際應(yīng)用中的可靠性和穩(wěn)定性,進行老化測試是不可或缺的一步。老化測試可以模擬LED在長期使
發(fā)表于 10-26 17:14
?1494次閱讀
1、TAS5805M有相關(guān)的老化測試報告嗎?
2、客戶做soundbar,功放選用TAS5805M,需要在什么條件下做老化測試,有什么建議嗎?
發(fā)表于 10-16 08:27
IC測試原理和設(shè)備教程在內(nèi)容、目的和關(guān)注點上存在顯著的區(qū)別。 IC測試原理 內(nèi)容 : IC測試原
發(fā)表于 09-24 09:51
?450次閱讀
交流充電樁智能老化測試架(饋能式)用于單相交流充電樁老化測試,確保產(chǎn)品出貨符合要求。適用于符合GB/T 18487.1-2015、IEC 62196-2-2016、SAE J1772-
發(fā)表于 08-19 14:52
?707次閱讀
檢測的設(shè)備,能夠?qū)a(chǎn)品設(shè)備置于人工營造的惡劣環(huán)境中,從而測試產(chǎn)品的性能。 通過對多組測試數(shù)據(jù)的長時間分析比較,企業(yè)可以有效了解設(shè)備的使用壽命以及對不同環(huán)境的抵抗能力,從而有效完善產(chǎn)品設(shè)計,查缺補漏。因此老化
發(fā)表于 07-30 15:49
?771次閱讀
隨著電子產(chǎn)品的復(fù)雜性和集成度不斷提高,企業(yè)對老化電流測試的需求也在增加??蛻魮碛?8路老化電流測試通道,需要進行不間斷同步采集。在正常工作狀態(tài)下,電流大約為80毫安,而在靜態(tài)工作狀態(tài)下
發(fā)表于 07-17 11:46
?579次閱讀
IC測試,即集成電路測試,是集成電路設(shè)計和制造過程中的一個重要環(huán)節(jié)。它主要通過對集成電路的性能、功能和可靠性進行測試,以確保集成電路在實際應(yīng)用中能夠滿足設(shè)計要求和性能指標。 一、
發(fā)表于 07-10 14:45
?3690次閱讀
交流充電樁智能老化測試架(饋能式),用于單相交流充電槍樁老化測試,確保產(chǎn)品出貨符合要求。適用于符合GB/T 18487.1-2015、IEC 62196-2-2016、SAE J177
發(fā)表于 05-21 17:52
?943次閱讀
評論