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以更低的成本實現(xiàn)更高的半導(dǎo)體測試吞吐量

星星科技指導(dǎo)員 ? 來源:ADI ? 作者:ADI ? 2023-06-28 16:52 ? 次閱讀
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半導(dǎo)體測試領(lǐng)域,管理成本仍然是最嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)之一,因為自動化測試設(shè)備(ATE)是一項重大的資本支出。降低每晶圓成本從而獲得競爭優(yōu)勢的一種方法?提高吞吐量。

為晶圓廠評估新ATE系統(tǒng)的半導(dǎo)體制造商要求每一代產(chǎn)品都具有更高的密度(即更多通道),但外形尺寸相同,以最大限度地利用其現(xiàn)有工廠空間。有了更多的渠道,他們可以測試更復(fù)雜的產(chǎn)品或更高數(shù)量的同一產(chǎn)品。

在這種環(huán)境下,ATE設(shè)計人員努力增加每一代通道的數(shù)量并不少見。提高測試能力意味著主板(具有大量引腳驅(qū)動器電子元件的驅(qū)動板)將需要大量功率才能運行。當(dāng)然,從長期性能和可靠性的角度來看,降低設(shè)備溫度非常重要。這意味著底層技術(shù)應(yīng)該是高效、快速執(zhí)行和小型的。

面向ATE系統(tǒng)的雙通道引腳電子器件 創(chuàng)建新的ATE系統(tǒng)的
設(shè)計人員通過將IC放置在更緊密的電路板上,可以增加通道數(shù)量,同時保持相同的外形尺寸。這將產(chǎn)生更多的功耗,這可以通過用于空氣冷卻的散熱器或液體冷卻來解決。然而,液體冷卻是一個復(fù)雜的解決方案,需要高度專業(yè)化的技能。

或者,設(shè)計人員可以仔細(xì)觀察設(shè)備內(nèi)部的引腳電子器件。集成度更高的IC將提供所需的功能,而無需增加物料清單(BOM)或使用分立元件增加設(shè)計尺寸。IC的工藝幾何形狀也值得考慮。正在考慮的IC可能支持大量通道,但它的制造工藝是否能夠?qū)崿F(xiàn)設(shè)計所需的效率和尺寸?

Maxim采用定制設(shè)計的晶圓工藝,針對ATE架構(gòu)進行了優(yōu)化,MAX9979雙通道1.1Gbps引腳電子器件就是采用該工藝制造的。MAX9979采用單IC封裝,理想用于存儲器和SoC測試儀應(yīng)用,提供:

驅(qū)動器/比較器/有源負(fù)載 (DCL)

每通道參數(shù)測量單元 (PMU)

內(nèi)置 16 位電平設(shè)置數(shù)模轉(zhuǎn)換器DAC

每個通道包括一個四電平引腳驅(qū)動器、窗口比較器、差分比較器、動態(tài)箝位、一個多功能PMU、一個有源負(fù)載、一個高壓編程電平和14個獨立的電平設(shè)置DAC。該器件設(shè)計采用具有金互連的工藝,通常不是標(biāo)準(zhǔn)功能,但支持更高的功率密度。其雙極晶體管旨在提供對稱開關(guān);因此,上升和下降時間非常匹配,因此當(dāng)信號發(fā)送到被測器件時,該信號的質(zhì)量在系統(tǒng)中盡可能對稱。

另一個性能優(yōu)勢來自IC的電纜下垂補償功能。此功能允許設(shè)計人員微調(diào)每個通道,以優(yōu)化被測器件(DUT)的波形。如果電路板上有多個通道,并非所有通道都具有相同長度的跟蹤或到DUT的同軸電纜。電纜下垂補償使用雙時間常數(shù)來改變波形,以便當(dāng)波形到達(dá)DUT時,它將盡可能對稱。這種校準(zhǔn)DUT信號驅(qū)動以及每個通道返回路徑上的相同信號的能力產(chǎn)生了更清晰的信號質(zhì)量。如果沒有校正或調(diào)整波形的能力,ATE設(shè)計中使用的同軸電纜的選擇變得更加關(guān)鍵。每個測試頭可以使用數(shù)百根這樣的電纜。質(zhì)量較低且可能更便宜的電纜會導(dǎo)致信號失真。校正波形的能力減輕了這種失真。如果沒有這種能力,實現(xiàn)高質(zhì)量信號的主要方法是使用更高質(zhì)量、更昂貴的同軸電纜。

要評估MAX9979的下一個設(shè)計,請查看MAX9979評估板。該套件是完全安裝并經(jīng)過測試的PCB,包括用于高速數(shù)字I/O的SMA連接、MAX9979引腳驅(qū)動器輸出和用戶可配置的Windows GUI,為全面評估IC提供了一種簡便的方法。

審核編輯:郭婷

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