正如我們上次討論的那樣，對(duì)空間合格的組件執(zhí)行了許多篩選步驟。必須執(zhí)行這些篩選步驟，以確保設(shè)備能夠承受太空環(huán)境的嚴(yán)酷考驗(yàn)。在上一期中，我們查看了下表中以綠色突出顯示的步驟 17 到 18。在本期中，我們將在第18步進(jìn)行 A 組篩查（下表中以黃色突出顯示），并討論該特定測(cè)試組的相關(guān)項(xiàng)目。

表1

ADI標(biāo)準(zhǔn)空間液位流量

在我們深入研究 A 組測(cè)試的細(xì)節(jié)之前，讓我們先花點(diǎn)時(shí)間對(duì) A、B、C、D 和 E 組進(jìn)行高層次的了解，并了解這些步驟的順序和一般標(biāo)準(zhǔn)。在本博客中，我們將重點(diǎn)介紹A組，這是在這些不同組中執(zhí)行的第一組測(cè)試。只有在允許使用電氣廢品的情況下，才能對(duì)單元進(jìn)行B，D，D或E組，而無(wú)需事先通過(guò)A組的所有電氣測(cè)試。在MIL-PRF-38535規(guī)范中，有一些表格定義了每個(gè)組的測(cè)試參數(shù)。該規(guī)范還指出了測(cè)試可以使用哪些單位以及測(cè)試需要執(zhí)行的頻率，如表2所示。需要對(duì)每個(gè)檢驗(yàn)批次進(jìn)行A組和B組測(cè)試。C組測(cè)試需要每3個(gè)月進(jìn)行一次，而D組測(cè)試需要每6個(gè)月進(jìn)行一次。必須在每個(gè)晶圓批次上進(jìn)行E組測(cè)試。

表2

組 A、B、C、D 和 E 組測(cè)試

A組電氣測(cè)試進(jìn)一步細(xì)分為四個(gè)不同的類別：靜態(tài)，動(dòng)態(tài)，功能和開(kāi)關(guān)。在這些類別中，每個(gè)類別都有三個(gè)子組，分別代表在最低額定工作溫度、最高額定工作溫度和 +25°C 下的測(cè)試。 這些不同的類別代表不同類型的電氣測(cè)試。表3給出了這四個(gè)不同的類別和三個(gè)亞組。

表3

A 組電氣測(cè)試的子組

我將再次提及高速ADC，以提供A組測(cè)試的每個(gè)類別的示例。我發(fā)現(xiàn)考慮這樣的例子很有幫助，這樣就可以更好地理解 A 組測(cè)試中的各個(gè)子組。

靜電測(cè)試的一個(gè)例子是對(duì)設(shè)備的電源電流的測(cè)試。這些將包括每個(gè)電源域的信息。此外，通常給出ADC不同工作模式的電源電流。可能有掉電和待機(jī)模式，以及啟用和/或禁用各種數(shù)字功能的不同模式。

動(dòng)態(tài)電氣測(cè)試參數(shù)是ADC積分非線性度的測(cè)試。它還將包括SNR（信噪比），SFDR（無(wú)雜散動(dòng)態(tài)范圍），ENOB（有效位數(shù)）和諧波測(cè)量以及其他類似項(xiàng)目。

功能測(cè)試更像是通過(guò)或不通過(guò)測(cè)試，通常不是ADC的參考，因?yàn)榱谐龅囊?guī)格在器件工作溫度范圍內(nèi)具有與之相關(guān)的某種性能范圍。此類測(cè)試的一個(gè)例子可以是檢查ADC輸出的數(shù)據(jù)是否可用于生成FFT。如果可以產(chǎn)生FFT，則測(cè)試將是一個(gè)通過(guò)，如果沒(méi)有數(shù)據(jù)輸出導(dǎo)致沒(méi)有FFT，那將是行不通的。不過(guò)，這不是可以在ADC數(shù)據(jù)手冊(cè)中列出規(guī)格的測(cè)試。

在A組電氣測(cè)試中執(zhí)行的開(kāi)關(guān)測(cè)試涵蓋了與輸出數(shù)據(jù)時(shí)鐘相關(guān)的參數(shù)和高速ADC位等項(xiàng)目。對(duì)于具有使用LVDS（低壓差分信號(hào)）的數(shù)字輸出的高速ADC，這些參數(shù)將包括與輸出數(shù)據(jù)時(shí)鐘和輸出數(shù)據(jù)相關(guān)的建立和保持時(shí)間。開(kāi)關(guān)測(cè)試還將包括傳播延遲，它給出了輸入時(shí)鐘邊沿與ADC輸出上轉(zhuǎn)換后數(shù)據(jù)可用性之間的時(shí)間。

審核編輯：郭婷