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IC測試座你了解多少?

小綠 ? 來源:jf_08642514 ? 作者:jf_08642514 ? 2023-07-10 15:13 ? 次閱讀
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ic測試的主要目的是保證器件在惡劣的環(huán)境條件下驗證IC是否能完成設(shè)計所預(yù)期的工作或功能。將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開,保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。
IC測試用于驗證IC是否能完成設(shè)計所預(yù)期的工作或功能。功能測試是數(shù)字電路測試的根本,它模擬IC的實際工作狀態(tài),輸入一系列有序或隨機(jī)組合的測試圖形,以電路規(guī)定的速率作用于被測器件,再在電路輸出端檢測輸出信號是否與預(yù)期圖形數(shù)據(jù)相符,以此判別電路功能是否正常。其關(guān)注的重點是圖形產(chǎn)生的速率、邊沿定時控制、輸入/輸出控制及屏蔽選擇等。

凱智通IC測試座的優(yōu)勢:

測試座探針的特殊頭形突起能刺破焊接球的氧化層,接觸可靠而不會損壞錫球。高精度的定位槽或?qū)蚩?,保證IC定位精確,生產(chǎn)效率高,探針可以更換,維修方便,成本低。

IC測試座采用手動翻蓋式結(jié)構(gòu)和自動下壓式結(jié)構(gòu),操作方便;翻蓋的上蓋的IC壓板采用彈壓式結(jié)構(gòu),能自動調(diào)節(jié)下壓力,保證IC的壓力均勻。

交期快,最快一天交貨,提高使用效率。
ic測試的主要目的是保證器件在惡劣的環(huán)境條件下驗證IC是否能完成設(shè)計所預(yù)期的工作或功能。將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開,保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。
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凱智通IC測試座的優(yōu)勢:

測試座探針的特殊頭形突起能刺破焊接球的氧化層,接觸可靠而不會損壞錫球。高精度的定位槽或?qū)蚩?,保證IC定位精確,生產(chǎn)效率高,探針可以更換,維修方便,成本低。

IC測試座采用手動翻蓋式結(jié)構(gòu)和自動下壓式結(jié)構(gòu),操作方便;翻蓋的上蓋的IC壓板采用彈壓式結(jié)構(gòu),能自動調(diào)節(jié)下壓力,保證IC的壓力均勻。

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審核編輯 黃宇

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