日本日置IM7583阻抗分析儀
日本日置IM7583阻抗分析儀使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量，日本日置IM7583阻抗分析儀高速、高穩(wěn)定性測量，提高生產(chǎn)量！測量時間：*快0.5ms
日本日置IM7583阻抗分析儀
日本日置IM7583阻抗分析儀高速、高穩(wěn)定性測量，提高生產(chǎn)量！測量時間：*快0.5ms
測量頻率：1MHz~600MHz
測量時間：*快0.5ms（模擬測量時間）
基本精度：±0.65% rdg.
緊湊主機僅機架一半大小，測試頭僅手掌大小
豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量
日本日置IM7583阻抗分析儀主機不帶測試治具。需要使用阻抗分析儀專用的測試治具。

日本日置IM7583阻抗分析儀
日本日置阻抗分析儀IM7583
阻抗分析儀IM7580s：等效電路分析功能
能夠以測量結果為基礎推測5種等效電路模式的常數(shù)。 而且，可以通過模擬功能，使用推測結果或者任意的常數(shù)來顯示頻率特性的理想值。 此外，使用比較器功能，還能夠確定測量結果是否在判定區(qū)域內(nèi)。
阻抗分析儀IM7580系列：使用SMD治具IM9201進行LCR測量
IM7580系列5種機型的測量頻率覆蓋了1MHz?9?13GHz。
和用于6種尺寸SMD的測試治具IM9201組合使用，能夠簡單準確的測量樣品。
阻抗分析儀IM7580系列：區(qū)域判定功能
分析模式的比較器功能中，可以確定測量值是否進入了任意設置的判定區(qū)域內(nèi)。 “區(qū)域判定功能”是設置上限值和下限值的范圍，并以IN/NG來顯示判定結果。
阻抗分析儀IM7580系列：峰值判定功能
分析模式的比較器功能中，可以確定測量值是否進入了任意設置的判定區(qū)域內(nèi)。
“峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值來設置范圍，并以IN/NG來顯示測量的峰值是否在判定區(qū)域內(nèi)。
阻抗分析儀IM7580系列：SPOT判定功能
分析模式的比較器功能中，可以確定測量值是否進入了任意設置的判定區(qū)域內(nèi)。
“SPOT判定功能”選擇任意的掃描點和參數(shù)，zui多進行16點的判定。
阻抗分析儀IM7580系列：比較器功能
使用比較器功能，可以確定測量值是否進入了任意設置的判定區(qū)域內(nèi)。
適用于判定樣品是否合格的功能。
阻抗分析儀IM7580系列：接觸檢查功能
使用接觸檢查功能，能夠檢查樣品和測量端口的接觸狀態(tài)，并確認接觸不良情況和連接狀態(tài)。
阻抗分析儀IM7580系列：測試頭的連接方法
測試頭的連接線連接阻抗分析儀。

審核編輯 黃宇