用于測量高功率激光二極管、LED、光纖和其他高強度光源等發(fā)光元件的光強度與輸出角度之間的關系，特別適合半導體激光的光束測量

遠場測量儀器是一種獨立設備，用于測量高功率激光二極管、LED、光纖和其他高強度光源等發(fā)光元件的光強度與輸出角度之間的關系。旨在滿足對發(fā)光元件光束質量分析和測試的日益增長的需求。該遠場掃描儀具有廣泛的操作和測量范圍，而且并不犧牲速度性能——典型的測量周期僅需幾秒，非常適合發(fā)光元件的生產測試。

遠場測量儀器是一種獨立設備，用于測量高功率激光二極管、LED、光纖和其他高強度光源等發(fā)光元件的光強度與輸出角度之間的關系。其亮點為：

寬波長范圍

帶有角度測量裝置的設計

快速掃描速度

高采樣分辨率

SFC系列遠場掃描儀旨在滿足對發(fā)光元件光束質量分析和測試的日益增長的需求。該遠場掃描儀具有廣泛的操作和測量范圍，而且并不犧牲速度性能——典型的測量周期僅需幾秒，非常適合發(fā)光元件的生產測試。其應用領域為：

光功率分布

遠場及數(shù)值孔徑（NA）分析測量

光源的質量控制

軟件功能

輕松設置掃描參數(shù)

自動存檔結果

提供高級繪圖功能：1D/2D/3D及等高線/極坐標圖

數(shù)據(jù)導出到多種文件格式，如CSV、PDF、PNG、PS、XML等

對結果進行數(shù)值分析

可定制以滿足客戶需求

可集成到自動化測量系統(tǒng)中