使用生成對(duì)抗網(wǎng)絡(luò)(GAN)進(jìn)行圖像超分辨率(SR)已經(jīng)在恢復(fù)逼真細(xì)節(jié)方面取得了巨大成功。然而,眾所周知,基于 GAN 的 SR 模型會(huì)產(chǎn)生令人難以接受的偽影,特別是在實(shí)際場(chǎng)景中。以往的研究通常在訓(xùn)練階段通過額外的損失懲罰來抑制瑕疵,但這些方法只適用于訓(xùn)練過程中生成的同分布下的瑕疵類型。而當(dāng)這些方法應(yīng)用于真實(shí)世界場(chǎng)景中時(shí),我們觀察到這些方法在推理過程中仍然會(huì)產(chǎn)生明顯的瑕疵。針對(duì)此,來自騰訊 ARC Lab,XPixel 團(tuán)隊(duì)和澳門大學(xué)的研究者們提出了 DeSRA 的新方法并發(fā)表論文。它能夠?qū)υ谕评黼A段中產(chǎn)生的超分瑕疵進(jìn)行檢測(cè)并消除。該論文被 ICML 2023 所接收。

- 論文鏈接:https://arxiv.org/abs/2307.02457
- 代碼鏈接:https://github.com/TencentARC/DeSRA

第一列:低清輸入;第二列:現(xiàn)有超分方法引起瑕疵;第三列:DeSRA 檢測(cè)出瑕疵區(qū)域;第四列:DeSRA 去除瑕疵
為了緩解瑕疵的生成,LDL [3] 通過分析紋理類型,計(jì)算每個(gè)像素是瑕疵的概率,并在訓(xùn)練過程中通過增加損失進(jìn)而對(duì)瑕疵進(jìn)行抑制。雖然它確實(shí)改善了 GAN-SR 的結(jié)果,但我們?nèi)匀豢梢杂^察到 LDL 在推理真實(shí)世界測(cè)試數(shù)據(jù)時(shí)會(huì)存在明顯瑕疵,如上圖所示。因此,僅僅通過改善模型的訓(xùn)練很難解決這些瑕疵問題,因?yàn)檫@些瑕疵在 GAN-SR 模型的訓(xùn)練過程中可能并不出現(xiàn)。 這里我們區(qū)分一下 GAN 訓(xùn)練出現(xiàn)的瑕疵和測(cè)試出現(xiàn)的瑕疵:
- GAN 訓(xùn)練出現(xiàn)的瑕疵(GAN-training artifacts):出現(xiàn)在訓(xùn)練階段,主要是由于訓(xùn)練時(shí)網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化的不穩(wěn)定和在同分布數(shù)據(jù)上的 SR 的 ill-pose 導(dǎo)致。在有干凈的高清圖像存在的情況下,可以在訓(xùn)練過程中對(duì)這些瑕疵加以約束,進(jìn)而緩解瑕疵的生成,如 LDL [3]。
- GAN 推理出現(xiàn)的瑕疵(GAN-inference artifacts):出現(xiàn)在推理階段,這些偽影通常是在真實(shí)世界未見過的數(shù)據(jù)中出現(xiàn)的。這些瑕疵通常不在訓(xùn)練數(shù)據(jù)的分布中,并不會(huì)在訓(xùn)練階段出現(xiàn)。因此,通過改善訓(xùn)練過程的方法(例如 LDL [3])無法解決這些瑕疵問題。

- 這些瑕疵不會(huì)出現(xiàn)在預(yù)訓(xùn)練的 MSE-SR 模型中。
- 這些瑕疵很明顯且面積較大,能夠很容易被人眼捕捉到。上圖展示了一些包含這些瑕疵的樣例。
- 局部紋理復(fù)雜性:局部區(qū)域 P 內(nèi)像素強(qiáng)度的標(biāo)準(zhǔn)差 σ(i, j) 來表示局部紋理

- 絕對(duì)紋理差異 d:兩個(gè)局部區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)差(x 表示 GAN-SR 區(qū)域,y 表示 MSE-SR 區(qū)域)

- 相對(duì)紋理差異 d’:

- 歸一化到 [0, 1]:

- 引入一個(gè)常數(shù) C:處理分母相對(duì)較小的情況









由于缺乏真實(shí)世界低分辨率數(shù)據(jù)的高清參考圖片,經(jīng)典指標(biāo)如 PSNR、SSIM 無法采用。因此,研究團(tuán)隊(duì)考慮三個(gè)指標(biāo)來評(píng)估檢測(cè)結(jié)果,包括 1) 檢測(cè)到的瑕疵區(qū)域與實(shí)際的(人工標(biāo)注的)瑕疵區(qū)域之間的交并比(IoU),2) 檢測(cè)結(jié)果的精確度和 3) 檢測(cè)結(jié)果的召回率。當(dāng)用 A 和 B 表示特定區(qū)域 z 的檢測(cè)到的瑕疵區(qū)域和實(shí)際的瑕疵區(qū)域時(shí),IoU 定義為:

計(jì)算每個(gè)圖像的 IoU,并使用驗(yàn)證集上的平均 IoU 來評(píng)估檢測(cè)算法。較高的 IoU 意味著更好的檢測(cè)準(zhǔn)確性。然后,我們將檢測(cè)到的瑕疵區(qū)域集合定義為 S,正確樣本集合 T 定義為:

精確度 =



研究團(tuán)隊(duì)將實(shí)際的瑕疵區(qū)域定義為 G,并通過以下方式計(jì)算檢測(cè)到的 GT 瑕疵區(qū)域集合 R:




瑕疵檢測(cè)結(jié)果 如下表所示,針對(duì) LDL 模型中的瑕疵檢測(cè)結(jié)果中,本文方法獲得了最好的 IoU 和 Precision,遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過其他方案。需要注意的是,LDL 在 threshold=0.001 時(shí)獲得了最高的召回率。這是因?yàn)樵摲桨笇⒋蟛糠謪^(qū)域視為瑕疵,因此這種檢測(cè)結(jié)果幾乎沒有意義。Real-ESRGAN 和 SwinIR 的結(jié)果可以參考原文。



原文標(biāo)題:檢測(cè)并消除瑕疵,DeSRA讓真實(shí)場(chǎng)景超分中的GAN更加完美
文章出處:【微信公眾號(hào):智能感知與物聯(lián)網(wǎng)技術(shù)研究所】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。
-
物聯(lián)網(wǎng)
+關(guān)注
關(guān)注
2931文章
46246瀏覽量
392489
原文標(biāo)題:檢測(cè)并消除瑕疵,DeSRA讓真實(shí)場(chǎng)景超分中的GAN更加完美
文章出處:【微信號(hào):tyutcsplab,微信公眾號(hào):智能感知與物聯(lián)網(wǎng)技術(shù)研究所】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
夢(mèng)之墨電能檢測(cè)模塊在教學(xué)場(chǎng)景中的應(yīng)用

使用AFG31000系列信號(hào)發(fā)生器精準(zhǔn)復(fù)制真實(shí)場(chǎng)景信號(hào)

GaN技術(shù):顛覆傳統(tǒng)硅基,引領(lǐng)科技新紀(jì)元

華為支付-免密支付接入支付并簽約場(chǎng)景
【每天學(xué)點(diǎn)AI】實(shí)戰(zhàn)仿射變換在人工智能圖像處理中的應(yīng)用

低電平靈敏專用儀器的技術(shù)原理和應(yīng)用場(chǎng)景
X-RAY檢測(cè)設(shè)備用于檢測(cè)集成電路缺陷瑕疵

納芯微提供全場(chǎng)景GaN驅(qū)動(dòng)IC解決方案

優(yōu)可測(cè)超景深數(shù)碼顯微鏡AH-3000系列 產(chǎn)品手冊(cè)
工業(yè)主板在服裝紡織瑕疵檢測(cè)中的應(yīng)用

慧明專業(yè)演出級(jí)數(shù)字調(diào)音臺(tái)LM24產(chǎn)品概述
利用TI GaN中的集成電流檢測(cè)功能更大限度提高系統(tǒng)效率

單北斗定位終端的優(yōu)勢(shì)在哪些場(chǎng)景下更加凸顯

評(píng)論