上海伯東 Pfeiffer 氦質(zhì)譜檢漏儀 ASM 182 TD+ 成功應(yīng)用于光無源器件檢漏
光無源器件是不含光能源的光功能器件的總稱. 光無源器件在光路中都要消耗能量, 插入損耗是其主要性能指標. 光無源器件有光纖連接器, 光開關(guān), 光衰減器. 光纖耦合器, 波分復(fù)用器, 光調(diào)制器, 光濾波器, 光隔離器, 光環(huán)行器等. 它們在光路中分別實現(xiàn)連接, 能量衰減, 反向隔離, 分路或合路, 信號調(diào)制, 濾波等功能. 本文主要介紹上海伯東 Pfeiffer 氦質(zhì)譜檢漏儀在無源器件中的檢漏應(yīng)用.

無源器件檢漏原因: 光無源器件是光纖通信設(shè)備的重要組成部分, 也是其它光纖應(yīng)用領(lǐng)域不可缺少的元器件. 具有高回波損耗, 低插入損耗, 高可靠性等特點. 光無源器件對密封性的要求極高, 如果存在泄漏會影響其使用性能和精度, 光通信行業(yè)的漏率標準是小于 5×10-8 mbar.l/s, 因此需要進行泄漏檢測. 氦質(zhì)譜檢漏法利用氦氣作為示蹤氣體可精確定位, 定量漏點, 替代傳統(tǒng)泡沫檢漏和壓差檢漏, 目前已廣泛應(yīng)用于光無源器件的檢漏.

無源器件檢漏客戶案例：深圳某知名光通信上市公司, 為提高效率, 需求大抽速高效的檢漏儀, 經(jīng)過上海伯東技術(shù)工程師的選型, 最終采購氦質(zhì)譜檢漏儀 ASM 182TD+ 用于光無源器件的檢漏.

光無源器件檢漏方法: 由于無源器件體積小, 且無法抽真空或直接充入氦氣, 我們采用“背壓法”檢漏, 具體做法如下:
1. 將被檢無源器件放入真空保壓罐, 壓力和時間根據(jù)漏率大小設(shè)定
2. 取出無源器件, 使用空氣或氮氣吹掃表面氦氣
3. 將無源器件放入真空測試罐, 測試罐連接氦質(zhì)譜檢漏儀
4. 啟動氦質(zhì)譜檢漏儀, 開始檢漏

結(jié)合了 Pfeiffer 與 Adixen 兩家檢漏儀的技術(shù)優(yōu)勢, 德國 Pfeiffer 推出全系列新型號氦質(zhì)譜檢漏儀, 從便攜式檢漏儀到工作臺式檢漏儀滿足各種不同的應(yīng)用. 氦質(zhì)譜檢漏儀替代傳統(tǒng)泡沫檢漏和壓差檢漏, 利用氦氣作為示蹤氣體可精確定位, 定量漏點. 氦質(zhì)譜檢漏儀滿足單機檢漏, 也可集成在檢漏系統(tǒng)或 PLC. 推薦氦質(zhì)譜檢漏儀應(yīng)用 >>

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