芯片振蕩頻率是指芯片內(nèi)部的工作頻率，常用于數(shù)字電路和模擬電路中。芯片的振蕩頻率直接關(guān)系到芯片的運(yùn)行速度，其大小與內(nèi)部電容器、電感、晶體等元件的特性有關(guān)，所以一款芯片在生產(chǎn)出來之后它的振蕩頻率的大小總是會(huì)在固定的范圍之內(nèi)。因此，芯片的振蕩測(cè)試不僅需要抓取頻率的波形，還需要記錄波形的頻率數(shù)值與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)值進(jìn)行閾值判斷。

芯片振蕩頻率

納米軟件ATECLOUD-IC系統(tǒng)測(cè)試電源芯片的振蕩頻率步驟

在系統(tǒng)測(cè)試電源芯片的振蕩頻率前，我們需要準(zhǔn)備一臺(tái)多通道電源、一臺(tái)電子負(fù)載、一臺(tái)示波器以及邊緣計(jì)算設(shè)備（納米BOX），納米BOX是執(zhí)行軟件運(yùn)行與計(jì)算的重要設(shè)備。

1.將電源連接到電源芯片的VIN和EN端，電子負(fù)載連接到芯片VOUT端，示波器接連接到電源芯片的SW端。

2.將電源、示波器、電子負(fù)載通過USB/LAN/RS232接口與納米BOX相連，再通過網(wǎng)線與計(jì)算機(jī)連接，使得儀器、BOX和計(jì)算機(jī)處于同一網(wǎng)段下。

3.打開瀏覽器，登陸ATECLOUD-IC系統(tǒng)，在系統(tǒng)內(nèi)部搭建振蕩頻率的測(cè)試項(xiàng)目，將搭建好的項(xiàng)目組建成電源芯片振蕩頻率測(cè)試方案，之后直接啟動(dòng)測(cè)試即可。

4.等待2-3秒即可完成測(cè)試，在系統(tǒng)指標(biāo)展示界面可直接查看到測(cè)試中的振蕩頻率波形和參數(shù)。

5.測(cè)試中的指標(biāo)數(shù)據(jù)和歷史數(shù)據(jù)都可以在數(shù)據(jù)報(bào)告界面查看，同時(shí)可以直接一鍵導(dǎo)出數(shù)據(jù)和波形圖，自動(dòng)生成word或excel文檔。

6.特有的數(shù)據(jù)洞察模塊可以將所有測(cè)試數(shù)據(jù)集中分析處理，系統(tǒng)會(huì)從產(chǎn)品合格率，人員功效率，產(chǎn)品指標(biāo)圖等多個(gè)維度對(duì)采集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，也可以將這些分析結(jié)果集中在大數(shù)據(jù)看板上展示，為管理者的決策提供真實(shí)有效的數(shù)據(jù)支撐。

ATECLOUD-IC芯片測(cè)試系統(tǒng)

ATECLOUD-IC智能云測(cè)試平臺(tái)的優(yōu)勢(shì)

1.相對(duì)手動(dòng)測(cè)試項(xiàng)目需要2-3分鐘來說，系統(tǒng)測(cè)試僅需2-3秒就可以得到測(cè)試結(jié)果，可以有效提升研發(fā)測(cè)試效率。

2.針對(duì)某些需要采樣率高的測(cè)試項(xiàng)目，手動(dòng)測(cè)試只能目測(cè)估值，而系統(tǒng)測(cè)試則可以達(dá)到毫秒級(jí)的采樣頻率，優(yōu)化產(chǎn)品測(cè)試工藝，使得測(cè)試數(shù)據(jù)更加精準(zhǔn)。

3.測(cè)試系統(tǒng)可以根據(jù)用戶的需求添加或刪減測(cè)試項(xiàng)目和儀器，后續(xù)可更加靈活的適配各類測(cè)試項(xiàng)目，無需重新開發(fā)軟件和項(xiàng)目。

4.大數(shù)據(jù)分析，數(shù)據(jù)洞察模塊免去了用戶需要購買分析模塊或人工數(shù)據(jù)分析的煩惱，可以更直觀的反饋給用戶數(shù)據(jù)的各項(xiàng)對(duì)比以及分析圖表。

審核編輯：湯梓紅