霍爾效應測試系統(tǒng)用于測量半導體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等重要參數(shù)，而這些參數(shù)是了解半導體材料電學特性必須預先掌控的，因此霍爾效應測試系統(tǒng)是理解和研究半導體器件和半導體材料電學特性必*的工具。 實驗結(jié)果由軟件自動計算得到，可同時得到體載流子濃度(Bulk Carrier Concentration)、表面載流子濃度(Sheet Carrier Concentration)、遷移率(Mobility)、電阻率(Resistivity)、霍爾系數(shù)(Hall Coefficient)、磁致電阻(Magnetoresistance)等。

低溫型霍爾效應測試系統(tǒng)由電磁鐵、真空泵、低溫真空腔、高斯計、恒流源、電磁鐵電流源、控溫儀和計算機及軟件組成。其中，電磁鐵電流源給電磁鐵提供電流，產(chǎn)生磁場；高斯計測量線圈產(chǎn)生的均勻磁場值；恒流源一方面給樣品提供電流，用于霍爾效應測試，一方面可以測量樣品電壓；被測樣品置于低溫真空腔中，由低溫膠固定，并作為四個測試點；低溫真空腔引出4根導線，兩個連接控溫儀進行溫度的測量及控制，另1根是低溫探頭引線連接到高斯計上，還有1根是霍爾樣片連接線接到恒流源上；計算機連接高斯計、控溫儀、恒流源和電磁鐵電流源，通過軟件實現(xiàn)控制通過被測樣品的電流和磁場值，并獲取測得的電壓值。

審核編輯 黃宇